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原廠入駐New
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您是否有這些問題？
Fluke Ti480U/TiX885/TiX1060
【電子研發(fā)型】熱像儀 升級專家體驗(yàn)
清晰成像小至6.8微米目標(biāo)
高達(dá)1024*768超清像素
可搭配微距鏡頭
精準(zhǔn)捕捉0.025℃微小溫差
熱靈敏度<25mk（0.025℃）
1-35倍數(shù)字變焦
高效分析標(biāo)配免費(fèi)專業(yè)軟件
自動記錄并匯總趨勢
全中文導(dǎo)航界面
快速響應(yīng)實(shí)時記錄溫度趨勢
30Hz幀頻型號可選
捕捉變化不遺漏
熱門應(yīng)用實(shí)測案例

PCB設(shè)計(jì)
與故障排查

LED芯片
分析與檢測

微米級芯片
晶格/金線檢測

液晶屏
壞點(diǎn)篩查

光伏面板
熱斑篩查

檢測目標(biāo)：
電路中元器件發(fā)熱、電路板熱分布情況，分析電路設(shè)計(jì)不足或隱患
檢測難點(diǎn)：
溫差小，電路板上的部分元器件可能溫度差異非常微小，尤其是在低功耗和高性能的電路中。導(dǎo)致普通測溫工具難以發(fā)現(xiàn)微小溫差，無法精準(zhǔn)的識別潛在的過熱區(qū)域
解決方案：
Ti480U/TiX885 640高像素熱像儀，可以適配不同的微距鏡頭，以捕捉微小目標(biāo)的同時兼顧到整塊PCB板的拍攝
方案價值：
640高清像素與0.025攝氏度的高熱靈敏度，可以清晰精準(zhǔn)的呈現(xiàn)電路板的溫度分布細(xì)節(jié)，幫助快速定位過熱區(qū)域
檢測目標(biāo)：
封裝前的LED芯片，并加載不同的測試電流。
檢測難點(diǎn)：
目標(biāo)小，芯片的尺寸只有1.5mm，還需要能看到表面的溫度差異，并能進(jìn)行具體溫度數(shù)據(jù)的趨勢分析。
解決方案：
TiX885640高像素?zé)嵯駜x+微距鏡頭+二維可調(diào)精密位移云臺+免費(fèi)的分析軟件
方案價值：
微米級別高清呈現(xiàn)小目標(biāo)溫度分布，可在線固定檢測，并使用軟件實(shí)時精準(zhǔn)分析數(shù)據(jù)變化

從熱像畫面可清晰看出，芯片的左右側(cè)溫度不均勻，研發(fā)人員可以此為依據(jù)，改進(jìn)器件材料和散熱設(shè)計(jì)。

可利用軟件對芯片的指定位置進(jìn)行線溫度分析，如上圖為目標(biāo)隨像素點(diǎn)位置變化的溫度分布趨勢圖，并可方便地導(dǎo)出溫度數(shù)據(jù)進(jìn)行更多深入分析

檢測目標(biāo)：
最小尺寸在50微米以內(nèi)的芯片晶格。
檢測難點(diǎn)：
目標(biāo)小，微米級別的目標(biāo)，使用普通熱像儀難以清晰體現(xiàn)溫度差異
解決方案：
TiX885 640高清像素或TiX1060 1024超清像素熱像儀+微距鏡頭+二維可調(diào)精密位移云臺，可以實(shí)現(xiàn)小至6.8微米的目標(biāo)測試
方案價值：
小至6.8微米級別高清呈現(xiàn)小目標(biāo)溫度分布，可在線固定檢測并精準(zhǔn)分析數(shù)據(jù)變化
檢測目標(biāo)：
平板電腦及手機(jī)液晶屏，檢測液晶屏上的壞點(diǎn)，壞點(diǎn)由于內(nèi)阻較高呈現(xiàn)微量的熱點(diǎn)。
檢測難點(diǎn)：

1、目標(biāo)小，液晶屏像素點(diǎn)最小僅為40微米。

2、溫差小，問題點(diǎn)的最小溫差僅為0.05℃或更小。

解決方案：
TiX885 640高清像素熱像儀搭配靈活的微距鏡頭
方案價值：
微米級別高清呈現(xiàn)小目標(biāo)溫度分布，幫助無遺漏的篩查產(chǎn)品壞點(diǎn)，提升質(zhì)量。
檢測目標(biāo)：
光伏板熱斑檢測
檢測難點(diǎn)：
目標(biāo)較大但同時需要看到局部的具體溫差細(xì)節(jié)
解決方案：
Ti480U/TiX885 640高清像素熱像儀搭配廣角鏡頭
方案價值：
更高像素可以清晰體現(xiàn)溫度差異細(xì)節(jié)，同時可靈活搭配廣角鏡頭，一次高效檢測更大的視野范圍，提高效率
預(yù)約免費(fèi)上門演示 即刻體驗(yàn)新熱像儀
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