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原廠入駐New
傳統(tǒng)測溫工具,還在拖累你的研發(fā)進(jìn)度?
效率低、風(fēng)險(xiǎn)高、數(shù)據(jù)不靠譜——研發(fā)怎能妥協(xié)?
數(shù)據(jù)采集器
熱電偶布點(diǎn)眾多,響應(yīng)速度慢(30秒到1分鐘)操作耗時低效
紅外點(diǎn)溫儀
只能測量區(qū)域平均溫度,無法檢查小目標(biāo),容易漏檢誤判
普通熱像儀
重復(fù)精度穩(wěn)定性差,反光元件差異大,測試數(shù)據(jù)不可信
Fluke Ti480U/TiX885 系列【電子研發(fā)型】熱像儀
助您提高項(xiàng)目開發(fā)效率與產(chǎn)品質(zhì)量,降低項(xiàng)目交付風(fēng)險(xiǎn)。
清晰成像小至6.8微米目標(biāo)
高達(dá)1024*768超清像素
可搭配微距鏡頭
精準(zhǔn)捕捉0.025℃微小溫差
熱靈敏度<25mk(0.025℃)
1-35倍數(shù)字變焦
高效分析標(biāo)配免費(fèi)專業(yè)軟件
自動記錄生成溫度時間曲線
高效完成溫升試驗(yàn)
專業(yè)服務(wù)全面的現(xiàn)場支持
福祿克工程師快速響應(yīng)售前售后
項(xiàng)目省心更高效
電子研發(fā)實(shí)測案例 行業(yè)大廠成功應(yīng)用與驗(yàn)證
立訊精密/比亞迪/富士康/Vivo/Oppo/飛利浦醫(yī)療/ 康寧/晶能微電子/愛奇跡/韶音科技等

PCB設(shè)計(jì)
與故障排查

LED芯片
分析與檢測

微米級芯片
晶格/金線檢測

液晶屏
壞點(diǎn)篩查

光伏面板
熱斑篩查

檢測目標(biāo):
電路中元器件發(fā)熱、電路板熱分布情況,分析電路設(shè)計(jì)不足或隱患
檢測難點(diǎn):
低功耗和高性能電路中,元器件數(shù)量多、尺寸小、溫差微小,普通測溫工具無法精準(zhǔn)識別。
溫升實(shí)驗(yàn)需長時間在線監(jiān)測,環(huán)境或測試工具不穩(wěn)定導(dǎo)致數(shù)據(jù)一致性差電路板的反光器件發(fā)射率低,測溫結(jié)果易偏差失真
解決方案:
Ti480U/TiX885640高像素?zé)嵯駜x(適配微距鏡頭),標(biāo)配免費(fèi)的溫度數(shù)據(jù)分析軟件
福祿克工程師可現(xiàn)場定制發(fā)射率修正與校準(zhǔn),以及在線固定支架等專屬方案
方案價(jià)值:
精準(zhǔn)全面的測溫方案,既可清晰捕捉微小目標(biāo),也能兼顧整塊PCB板的拍攝完成溫度場分析,軟件可自動生成溫度-時間監(jiān)測視頻和曲線并一鍵匯總報(bào)告,提高實(shí)驗(yàn)效率。選擇已經(jīng)過同行驗(yàn)證方案,風(fēng)險(xiǎn)更低
藍(lán)牙耳機(jī)內(nèi)部電路板溫度分布

藍(lán)牙耳機(jī)內(nèi)部電路板溫度分布

關(guān)鍵點(diǎn)溫度-時間曲線圖

關(guān)鍵點(diǎn)溫度-時間曲線圖

檢測目標(biāo):
封裝前的LED芯片,并加載不同的測試電流。
檢測難點(diǎn):
目標(biāo)小,芯片的尺寸只有1.5mm,還需要能看到表面的溫度差異,并能進(jìn)行具體溫度數(shù)據(jù)的趨勢分析。
解決方案:
TiX885640高像素?zé)嵯駜x+微距鏡頭+二維可調(diào)精密位移云臺+免費(fèi)的分析軟件
方案價(jià)值:
微米級別高清呈現(xiàn)小目標(biāo)溫度分布,可在線固定檢測,并使用軟件實(shí)時精準(zhǔn)分析數(shù)據(jù)變化

從熱像畫面可清晰看出,芯片的左右側(cè)溫度不均勻,研發(fā)人員可以此為依據(jù),改進(jìn)器件材料和散熱設(shè)計(jì)。

可利用軟件對芯片的指定位置進(jìn)行線溫度分析,如上圖為目標(biāo)隨像素點(diǎn)位置變化的溫度分布趨勢圖,并可方便地導(dǎo)出溫度數(shù)據(jù)進(jìn)行更多深入分析

檢測目標(biāo):
最小尺寸在50微米以內(nèi)的芯片晶格。
檢測難點(diǎn):
目標(biāo)小,微米級別的目標(biāo),使用普通熱像儀難以清晰體現(xiàn)溫度差異
解決方案:
TiX885 640高清像素或TiX1060 1024超清像素熱像儀+微距鏡頭+二維可調(diào)精密位移云臺,可以實(shí)現(xiàn)小至6.8微米的目標(biāo)測試
方案價(jià)值:
小至6.8微米級別高清呈現(xiàn)小目標(biāo)溫度分布,可在線固定檢測并精準(zhǔn)分析數(shù)據(jù)變化
檢測目標(biāo):
平板電腦及手機(jī)液晶屏,檢測液晶屏上的壞點(diǎn),壞點(diǎn)由于內(nèi)阻較高呈現(xiàn)微量的熱點(diǎn)。
檢測難點(diǎn):

1、目標(biāo)小,液晶屏像素點(diǎn)最小僅為40微米。

2、溫差小,問題點(diǎn)的最小溫差僅為0.05℃或更小。

解決方案:
TiX885 640高清像素熱像儀搭配靈活的微距鏡頭
方案價(jià)值:
微米級別高清呈現(xiàn)小目標(biāo)溫度分布,幫助無遺漏的篩查產(chǎn)品壞點(diǎn),提升質(zhì)量。
檢測目標(biāo):
光伏板熱斑檢測
檢測難點(diǎn):
目標(biāo)較大但同時需要看到局部的具體溫差細(xì)節(jié)
解決方案:
Ti480U/TiX885 640高清像素熱像儀搭配廣角鏡頭
方案價(jià)值:
更高像素可以清晰體現(xiàn)溫度差異細(xì)節(jié),同時可靈活搭配廣角鏡頭,一次高效檢測更大的視野范圍,提高效率
預(yù)約免費(fèi)上門測試演示 根據(jù)您的項(xiàng)目定制方案
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