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活動(dòng)簡(jiǎn)介

ACTIVITIES

西門(mén)子 EDA
電子領(lǐng)域的創(chuàng)新步伐正在不斷加快。為了讓我們的客戶能夠加快推出改變生活的創(chuàng)新產(chǎn)品,并成為市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)者,我們致力于提供世界上最全面的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化 (EDA) 軟件、硬件和服務(wù)組合。

本次活動(dòng)中,Siemens EDA分享了極具學(xué)習(xí)意義的干貨視頻以及技術(shù)資料,工程師朋友們可以觀看或下載感興趣的任意3個(gè)不重復(fù)的視頻或文檔即可獲得1次抽獎(jiǎng)機(jī)會(huì),最多可獲得2次抽獎(jiǎng)機(jī)會(huì),絕佳機(jī)會(huì)不容錯(cuò)過(guò)喲!

技術(shù)專(zhuān)區(qū)

TECHNOLOGY

  • 基線漂移:系統(tǒng)化的快速仿真和測(cè)量方法

    高速串行數(shù)據(jù)傳輸可能會(huì)遭受裕量損失,以及交流耦合之類(lèi)機(jī)制引起的基線漂移所導(dǎo)致的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。我們將展示一種可快速跨越所需較大頻率范圍的基線漂移快速分析方法,并考慮其在逐位分析和統(tǒng)計(jì)分析中的實(shí)現(xiàn)。我們將在 PAM4 信令的極端信號(hào)情況下演示這種方法,并展示測(cè)量和仿真的相關(guān)性。

    高速串行數(shù)據(jù)傳輸可能會(huì)遭受裕量損失,以及交流耦合之類(lèi)機(jī)制引起的基線漂移所導(dǎo)致的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。我們將展示一種可快速跨越所需較大頻率范圍的基線漂移快速分析方法,并考慮其在逐位分析和統(tǒng)計(jì)分析中的實(shí)現(xiàn)。我們將在 PAM4 信令的極端信號(hào)情況下演示這種方法,并展示測(cè)量和仿真的相關(guān)性。
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  • 根據(jù) S 參數(shù)計(jì)算時(shí)域阻抗曲線:挑戰(zhàn)與方法

    在根據(jù)測(cè)量的 S 參數(shù)計(jì)算時(shí)域阻抗曲線時(shí),我們會(huì)面臨兩種類(lèi)型的問(wèn)題。第一個(gè)問(wèn)題是由于采樣的 S 參數(shù)質(zhì)量較差所致,例如分辨率不足、頻帶限制、噪聲等。第二個(gè)問(wèn)題為以下事實(shí):即使使用理想數(shù)據(jù),計(jì)算出的阻抗曲線也無(wú)法顯示連接器各部分的正確特性阻抗,因?yàn)槎啻畏瓷溲谏w了遠(yuǎn)端部分特性阻抗的“真實(shí)”值,在本文中,我們將解決這兩個(gè)問(wèn)題。

    在根據(jù)測(cè)量的 S 參數(shù)計(jì)算時(shí)域阻抗曲線時(shí),我們會(huì)面臨兩種類(lèi)型的問(wèn)題。第一個(gè)問(wèn)題是由于采樣的 S 參數(shù)質(zhì)量較差所致,例如分辨率不足、頻帶限制、噪聲等。第二個(gè)問(wèn)題為以下事實(shí):即使使用理想數(shù)據(jù),計(jì)算出的阻抗曲線也無(wú)法顯示連接器各部分的正確特性阻抗,因?yàn)槎啻畏瓷溲谏w了遠(yuǎn)端部分特性阻抗的“真實(shí)”值,在本文中,我們將解決這兩個(gè)問(wèn)題。
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  • 單端信號(hào)過(guò)孔間串?dāng)_的時(shí)域和頻域分析

    在當(dāng)今的快速開(kāi)關(guān)數(shù)據(jù)速率下,通過(guò) PCB 空腔的過(guò)孔間串?dāng)_可能比走線間耦合更為復(fù)雜。本文通過(guò)仿真和測(cè)量測(cè)試板,對(duì)造成過(guò)孔間耦合的根本原因的物理基礎(chǔ)進(jìn)行了分析,以說(shuō)明相關(guān)原理。基于根本原因,探討并演示了減少噪聲的方法。

    在當(dāng)今的快速開(kāi)關(guān)數(shù)據(jù)速率下,通過(guò) PCB 空腔的過(guò)孔間串?dāng)_可能比走線間耦合更為復(fù)雜。本文通過(guò)仿真和測(cè)量測(cè)試板,對(duì)造成過(guò)孔間耦合的根本原因的物理基礎(chǔ)進(jìn)行了分析,以說(shuō)明相關(guān)原理?;诟驹?,探討并演示了減少噪聲的方法。
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  • 通過(guò)使用基于 PDN 共振峰的最壞情況數(shù)據(jù)模式來(lái)分析電源完整性對(duì) FPGA DDR4 存儲(chǔ)器接口中的信號(hào)完整性的影響

    在基于供電網(wǎng)絡(luò) (PDN) 的共振峰創(chuàng)建的布局前、布局后和系統(tǒng)驗(yàn)證數(shù)據(jù)模式中分析電源完整性對(duì) FPGA DDR4存儲(chǔ)器接口中的信號(hào)完整性的影響。使用 FPGA 配置的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 測(cè)量 PDN 阻抗曲線。創(chuàng)建多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)模式,以便將電源的電流頻譜分量與 PDN 共振峰疊加在一起,并演練傳輸線多次反射累積效應(yīng)。然后將這些數(shù)據(jù)模式用于識(shí)別導(dǎo)致信號(hào)完整性衰減的主導(dǎo)因素。

    在基于供電網(wǎng)絡(luò) (PDN) 的共振峰創(chuàng)建的布局前、布局后和系統(tǒng)驗(yàn)證數(shù)據(jù)模式中分析電源完整性對(duì) FPGA DDR4存儲(chǔ)器接口中的信號(hào)完整性的影響。使用 FPGA 配置的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 測(cè)量 PDN 阻抗曲線。創(chuàng)建多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)模式,以便將電源的電流頻譜分量與 PDN 共振峰疊加在一起,并演練傳輸線多次反射累積效應(yīng)。然后將這些數(shù)據(jù)模式用于識(shí)別導(dǎo)致信號(hào)完整性衰減的主導(dǎo)因素。
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  • 隔離電源完整性對(duì)信號(hào)完整性的影響類(lèi)型的案例研究,以及緩解方法

    電源和信號(hào)完整性之間的交互往往錯(cuò)綜復(fù)雜且令人混淆。隨著單端 DDR 總線逐漸達(dá)到與許多常用差分 SerDes通道相同的數(shù)據(jù)速率,更好地了解這一交互變得越發(fā)的緊迫。在本文中,我們將討論電源和信號(hào)完整性彼此交互的一些主要方式,介紹若干案例來(lái)展示存在此類(lèi)交互的情形,并提供可能的緩解方法。

    電源和信號(hào)完整性之間的交互往往錯(cuò)綜復(fù)雜且令人混淆。隨著單端 DDR 總線逐漸達(dá)到與許多常用差分 SerDes通道相同的數(shù)據(jù)速率,更好地了解這一交互變得越發(fā)的緊迫。在本文中,我們將討論電源和信號(hào)完整性彼此交互的一些主要方式,介紹若干案例來(lái)展示存在此類(lèi)交互的情形,并提供可能的緩解方法。
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  • 誤碼率和通道操作裕量方法的通道合規(guī)性評(píng)估: 差異源自哪里?

    分析了針對(duì)通道操作裕量 (Channel Operation Margin (COM)) 規(guī)定的計(jì)算程序,并將其與傳統(tǒng)的統(tǒng)計(jì)眼圖/誤碼率分析進(jìn)行比較。結(jié)果表明,通道操作裕量可能會(huì)高估串?dāng)_的影響;另外根據(jù)一系列因素,還可能會(huì)高估或低估發(fā)送抖動(dòng)的影響。我們提出了一種方案,即通過(guò)修改通道操作裕量程序來(lái)消除這些問(wèn)題,并且不會(huì)額外增加大量的工作。

    分析了針對(duì)通道操作裕量 (Channel Operation Margin (COM)) 規(guī)定的計(jì)算程序,并將其與傳統(tǒng)的統(tǒng)計(jì)眼圖/誤碼率分析進(jìn)行比較。結(jié)果表明,通道操作裕量可能會(huì)高估串?dāng)_的影響;另外根據(jù)一系列因素,還可能會(huì)高估或低估發(fā)送抖動(dòng)的影響。我們提出了一種方案,即通過(guò)修改通道操作裕量程序來(lái)消除這些問(wèn)題,并且不會(huì)額外增加大量的工作。
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千兆位鏈路的自動(dòng)化驗(yàn)證方案

千兆位串行鏈路呈現(xiàn)了當(dāng)今設(shè)計(jì)者面臨的一些最嚴(yán)格的信號(hào)完整性挑戰(zhàn)?,F(xiàn)代設(shè)計(jì)中大量的信道使得分析模擬和布線后驗(yàn)證變得困難——每個(gè)信道都必須單獨(dú)建模和分析,這需要一個(gè)自動(dòng)化、高效的過(guò)程才能成功。本次網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)將討論各種建模及仿真方式的應(yīng)用場(chǎng)景,以及有效的串行信道驗(yàn)證要求,并展示如何實(shí)現(xiàn)這些要求進(jìn)行高效的 Serdes 仿真。

PCB設(shè)計(jì)高效驗(yàn)證方法

當(dāng)今的PCB設(shè)計(jì)中布線密度越來(lái)越高,快速跳變沿的I/O驅(qū)動(dòng)器也使得設(shè)計(jì)復(fù)雜度日益增加,對(duì)徹底驗(yàn)證設(shè)計(jì)的電氣性能也提出了更高的挑戰(zhàn)。本次研討會(huì)將為大家介紹利用Hyperlynx DRC, 進(jìn)行快而精準(zhǔn)的驗(yàn)證驗(yàn)證方法,以保證電氣性能可靠性。

幸運(yùn)抽獎(jiǎng)

LUCKY DRAW

  • 謝謝參與
  • 喜馬拉雅會(huì)員月卡
  • 謝謝參與
  • 愛(ài)奇藝視頻會(huì)員月卡
  • 立即抽獎(jiǎng)
  • 小米電動(dòng)牙刷
  • 謝謝參與
  • 騰訊視頻會(huì)員月卡
  • 謝謝參與
中獎(jiǎng)名單
  • 當(dāng)前還沒(méi)有人參加
    快來(lái)試試吧

溫馨提示:

活動(dòng)結(jié)束后由工作人員統(tǒng)一郵件核對(duì)快遞地址,獎(jiǎng)品將在15個(gè)工作日內(nèi)寄出。如因注冊(cè)報(bào)名信息不全,導(dǎo)致在活動(dòng)結(jié)束前無(wú)法與您取得聯(lián)系,將視為自動(dòng)放棄領(lǐng)獎(jiǎng)機(jī)會(huì)。
(獎(jiǎng)品以實(shí)物為主,電子發(fā)燒友對(duì)本活動(dòng)有最終解釋權(quán))

活動(dòng)說(shuō)明:

1、活動(dòng)時(shí)間:即日起-2021年8月13日;

2、活動(dòng)規(guī)則:選擇您感興趣的任意3個(gè)不重復(fù)的視頻或文檔觀看或下載,即可獲得1次抽獎(jiǎng)機(jī)會(huì),最多可獲得2次抽獎(jiǎng)機(jī)會(huì)!

3、此活動(dòng)每人僅限參加一次,不支持小號(hào),一經(jīng)發(fā)現(xiàn)取消參與活動(dòng)資格;

4、最終解釋權(quán)歸電子發(fā)燒友網(wǎng)所有,如有問(wèn)題可添加微信好友:elecfans886咨詢(xún)。

elecfans886 0755-83677759 huangxiang@elecfans.com

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