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FinFET逐漸失效不可避免,英特爾研發(fā)全新設(shè)計的晶體管GAA-FET

牽手一起夢 ? 來源:Ai芯天下 ? 作者:佚名 ? 2020-04-01 16:01 ? 次閱讀
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前言:

不可否認(rèn),5nm制程的演進(jìn)是各項技術(shù)和產(chǎn)業(yè)逐步成熟、變革的必經(jīng)之路,亦是根基。

5nm是核心工藝的重要節(jié)點(diǎn)

5nm先進(jìn)制程已不僅僅是代工廠商之間的戰(zhàn)爭,它亦是核心工藝和半導(dǎo)體材料走到極限的重要轉(zhuǎn)折節(jié)點(diǎn)。

當(dāng)芯片制程演進(jìn)到5nm,它晶體管的集成度和精細(xì)化程度都要比以往更高,可容納更復(fù)雜的電路設(shè)計,并將更豐富的功能融入其中。

但從目前行業(yè)的普遍應(yīng)用上看,許多產(chǎn)品用28nm、14nm,甚至10nm就已綽綽有余,再費(fèi)勁花更高的成本與精力來研發(fā)5nm制程,暫且看來就是個賠本的買賣。

話雖如此,當(dāng)我們把目光放至未來,隨著5GAI技術(shù)的發(fā)展,以及全球大數(shù)據(jù)的爆發(fā)式增長,5G智能終端、VR/AR產(chǎn)品、機(jī)器人、AI和超算等產(chǎn)品的成熟和應(yīng)用,都將對芯片的性能、能耗和算力都有著更加嚴(yán)格的要求。

FinFET工藝盛行多年

FinFET和FD-SOI使摩爾定律得以延續(xù)傳奇,之后兩者卻走出了不同的發(fā)展道路。FinFET工藝先拔頭籌,英特爾最早于2011年推出了商業(yè)化的FinFET工藝技術(shù),顯著提高了性能并降低了功耗,之后臺積電采用FinFET技術(shù)亦取得了巨大的成功,隨后FinFET大放異彩,成為全球主流晶圓廠的首選。

隨著制程工藝的升級,晶體管的制作也面臨著困難,英特爾最早在22nm節(jié)點(diǎn)上首發(fā)了FinFET工藝,當(dāng)時叫做3D晶體管,就是將原本平面的晶體管變成立體的FinFET晶體管,提高了性能,降低了功耗。

FinFET晶體管隨后也成為全球主要晶圓廠的選擇,一直用到現(xiàn)在的7nm及5nm工藝。

隨著制程技術(shù)的升級,芯片的電晶體制作也面臨著瓶頸。英特爾最早在22納米的節(jié)點(diǎn)上首先使用了FinFET電晶體技術(shù),不僅提高了芯片的性能,也降低了功耗,隨后,F(xiàn)inFET電晶體也成為全球主要晶圓廠制程發(fā)展的選擇,一直用到現(xiàn)在的7納米及5納米制程節(jié)點(diǎn)上。

FinFET與FD-SOI兩大工藝各有千秋,但隨著制程推進(jìn)到5nm節(jié)點(diǎn),工藝技術(shù)的發(fā)展又將面臨一個新的分水嶺。

在大多數(shù)業(yè)內(nèi)人士看來,現(xiàn)階段包括FinFET和FD-SOI在內(nèi)的芯片工藝,都將在5nm制程之后失效。

FinFET逐漸失效不可避免,英特爾研發(fā)全新設(shè)計的晶體管GAA-FET

與FinFET的不同之處在于,GAA設(shè)計通道的四個面周圍有柵極,減少漏電壓并改善了對通道的控制,這是縮小工藝節(jié)點(diǎn)時的基本步驟。通過使用更高效的晶體管設(shè)計,加上更小的節(jié)點(diǎn),將能實(shí)現(xiàn)更好的能耗比。

資深人士對此也提及,工藝節(jié)點(diǎn)不斷前進(jìn)的動能在于提升性能、降低功耗。而當(dāng)工藝節(jié)點(diǎn)進(jìn)階到3nm時,F(xiàn)inFET經(jīng)濟(jì)已不可行,將轉(zhuǎn)向GAA。

值得注意的是,GAA技術(shù)也有幾種不同的路線,未來的細(xì)節(jié)有待進(jìn)一步驗證。而且,轉(zhuǎn)向GAA無疑涉及架構(gòu)的改變,業(yè)內(nèi)人士指出這對設(shè)備提出了不同的要求,據(jù)悉一些設(shè)備廠商已在開發(fā)特殊的刻蝕、薄膜設(shè)備在應(yīng)對。

目前,全球FinFET工藝已邁入5納米制程,F(xiàn)D-SOI工藝也邁進(jìn)了12納米進(jìn)程。但英特爾、臺積電、三星都在準(zhǔn)備3納米甚至2納米工藝。據(jù)悉針對下一個節(jié)點(diǎn)3納米,正在開發(fā)一種全新設(shè)計的晶體管GAA-FET,和目前使用的FinFET又不一樣。

FinFET逐漸失效不可避免,英特爾研發(fā)全新設(shè)計的晶體管GAA-FET

FinFET逐漸失效不可避免

半導(dǎo)體工藝制程在進(jìn)入32nm以下的節(jié)點(diǎn)后,每一步都?xì)v盡艱辛。在如此小的尺度上,人們習(xí)以為常的傳統(tǒng)物理定律都會逐漸失去效果,量子效應(yīng)逐漸成為制程前進(jìn)的攔路虎。為此,科學(xué)家和工程師們在過去的數(shù)年間發(fā)明了各種各樣的增強(qiáng)技術(shù)來對抗繼續(xù)微縮尺度所帶來的不確定性。

包括High-K、特種金屬、SOI、FinFET、EUV等技術(shù)紛至沓來,終于將半導(dǎo)體工藝的典型尺寸推進(jìn)至7nm時代、甚至5nm時代。但是如果要進(jìn)一步向更小尺寸的工藝節(jié)點(diǎn)前行的話,人們又遇到了更多的麻煩。

現(xiàn)有半導(dǎo)體制造的主流工藝往往采用“鰭片晶體管”也就是FinFET技術(shù)進(jìn)行,它成功地延續(xù)了22nm以下數(shù)代半導(dǎo)體工藝的發(fā)展。從技術(shù)發(fā)展角度來看,平面晶體管在尺寸縮小至22nm后,漏電流控制將變得很困難。這是因為勢壘隧道效應(yīng)導(dǎo)致了電流泄露。

從22nm時代開始,F(xiàn)inFET就成為各家廠商用于縮小晶體管尺寸的法寶。不過再好的法寶也有失效的一天。

隨著晶體管尺度向5nm甚至3nm邁進(jìn),F(xiàn)inFET本身的尺寸已經(jīng)縮小至極限后,無論是鰭片距離、短溝道效應(yīng)、還是漏電和材料極限也使得晶體管制造變得岌岌可危,甚至物理結(jié)構(gòu)都無法完成。

FinFET逐漸失效不可避免,英特爾研發(fā)全新設(shè)計的晶體管GAA-FET

GAA因成本昂貴+難度極高成難點(diǎn)

半導(dǎo)體工藝發(fā)展到現(xiàn)在,雖然單個晶體管成本下降,但是就整體工藝流片和投產(chǎn)而言,成本是一路上揚(yáng)的,并且技術(shù)難度越來越高。

新世代工藝已經(jīng)高度集中到三星、臺積電和英特爾三家廠商手中,其他廠商無論是錢不夠,還是技術(shù)不夠,都已經(jīng)無法染指新的GAA工藝。

從65nm到5nm時代,28nm工藝的成本為0.629億美元,但到了5nm時代,成本將暴增至4.76億美元,在3nmGAA時代,這個數(shù)值將進(jìn)一步提升。三星宣稱3nm GAA技術(shù)的成本比5nm會上升一些,可能會超過5億美元。

昂貴的價格相對應(yīng)的是極高的工藝難度。三星給出的有關(guān)制造GAA晶體管的工藝過程顯示,GAA的制造和傳統(tǒng)的FinFET有一定的相似之處,但是其技術(shù)要求更高,難度也更大一些。

FinFET逐漸失效不可避免,英特爾研發(fā)全新設(shè)計的晶體管GAA-FET

GAA制造方式主要是通過外延反應(yīng)器在集體上制造出超晶格結(jié)構(gòu),這樣的結(jié)構(gòu)至少需要硅鍺材料或者三層硅材料堆疊而成,并且還需要形成STI淺槽隔離,接下來需要多晶硅偽柵成像、隔離層和內(nèi)部隔離層成型、漏極和源極外延、溝道釋放、高K金屬柵極成型、隔離層中空、環(huán)形觸點(diǎn)成型等。

其中的難點(diǎn)在于如何環(huán)繞著納米線(片)溝道的柵極,其中STI淺槽隔離結(jié)構(gòu)后期的隔離層等制造都非常困難。

除了制造本身外,GAA工藝要求EUV光刻的配合。因為現(xiàn)在半導(dǎo)體尺寸已經(jīng)如此之小,甚至遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于光源的波長,EUV已經(jīng)是必須的方法。

但是目前EUV光刻機(jī)還不夠成熟,芯片產(chǎn)能和速度都不夠快,因此在早期可能只有一部分采用EUV光刻完成,其余的部分依舊會采用沉浸式光刻和多重成像技術(shù)。

結(jié)尾:

雖然目前包括三星、臺積電、英特爾都對GAA技術(shù)表示興趣或者已經(jīng)開始試產(chǎn),但是GAA技術(shù)究竟是不是5nm之后甚至3nm和更遠(yuǎn)時代的最佳選擇,業(yè)內(nèi)還是有一些不同意見,但就目前來看,GAA還是很接近的。

責(zé)任編輯:gt

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