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      季豐最新引進MicReDIndustrial Power Tester 1800A功率循環(huán)測試設備

      上海季豐電子 ? 來源：上海季豐電子 ? 作者：上海季豐電子 ? 2022-11-03 11:18 ? 次閱讀
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      季豐最新引進MicReDIndustrial Power Tester 1800A功率循環(huán)測試設備，新設備可以測K系數(shù)和熱阻，新機臺的能力完全滿足大部分的測試標準，有需要的客戶可以聯(lián)系我們的銷售。

      新引進的設備的設備能力，符合標準如下:

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      設備能力

      ad853268-5ab1-11ed-a3b6-dac502259ad0.png

      適用于以下測試標準

      IEC60749-34

      AQG324

      PWT介紹

      IGBT模塊的工作壽命取決于所受到的熱應力，IGBT模塊產生的熱應力，主要源自內部的溫度變化,由于電力電子裝置輸出功率的變化導致IGBT模塊的損耗發(fā)生相應變化，損耗的變化最終引起器件結溫產生波動.IGBT模塊屬于多層封裝結構，各層封裝材料的熱膨脹系數(shù)不同。溫度的波動會引起熱膨脹系數(shù)不同的各層材料之間的熱失配，從而產生熱應力，其中熱應力集中的部位包括：鍵合線，芯片焊層，底板焊層，隨著熱應力不斷循環(huán)累積，首先會使鍵合線和焊接層產生裂紋，最終引發(fā)鍵合線脫落或焊層大面積分層導致模塊失效。

      ad92ff56-5ab1-11ed-a3b6-dac502259ad0.png

      GIGA FORCE

      審核編輯：彭靜
      聲明：本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內容侵權或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴

      原文標題：季豐上新MicReD Industrial Power Tester 1800A 功率循環(huán)測試設備

      文章出處：【微信號：zzz9970814，微信公眾號：上海季豐電子】歡迎添加關注！文章轉載請注明出處。

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