chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

白光干涉儀測量原理及干涉測量技術(shù)的應(yīng)用

中圖儀器 ? 2024-12-13 16:42 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

白光干涉儀測量原理

基本原理:白光干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。光源發(fā)出的光經(jīng)過擴(kuò)束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡分成兩束,一束光經(jīng)被測表面反射回來,另一束光經(jīng)參考鏡反射,兩束反射 光最終匯聚并發(fā)生干涉。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起。通過測量干涉條紋的變化,就可以測量出被測表面的相關(guān)物理量。

白光的特點(diǎn)及優(yōu)勢:白光屬于多色光,具有連續(xù)的光譜。與單色光干涉不同,白光干涉在一定光程差范圍內(nèi)會(huì)出現(xiàn)彩色的干涉條紋,并且只有在零光程差附近的極小范圍內(nèi)才會(huì)出現(xiàn)清晰的、對比度高的干涉條紋。這一特性使得白光干涉儀在測量時(shí)能夠通過精確尋找零光程差位置來實(shí)現(xiàn)高精度的測量,對于微觀形貌的測量具有獨(dú)特的優(yōu)勢。

干涉測量技術(shù)的應(yīng)用

1、在工業(yè)生產(chǎn)中的應(yīng)用:

(1)半導(dǎo)體制造:在半導(dǎo)體芯片制造過程中,白光干涉儀可用于測量芯片表面的形貌、薄膜厚度、臺階高度等參數(shù),對芯片的制造工藝進(jìn)行監(jiān)控和質(zhì)量檢測。例如,在光刻工藝后,可檢測光刻膠的厚度和表面平整度;在刻蝕工藝后,可測量刻蝕深度和表面粗糙度,確保芯片的性能和可靠性。而具備雙重防撞保護(hù)功能的白光干涉儀,在操作過程中更加安全可靠。Z軸上裝有防撞機(jī)械電子傳感器以及軟件ZSTOP防撞保護(hù)功能,為精密的測量過程提供了雙重保障,讓用戶在進(jìn)行半導(dǎo)體制造的高精度測量時(shí)多一重安心。

(2)光學(xué)加工:用于光學(xué)鏡片、透鏡、棱鏡等光學(xué)元件的表面形貌測量和質(zhì)量檢測??梢詼y量光學(xué)元件的表面粗糙度、曲率半徑、面形精度等參數(shù),幫助優(yōu)化光學(xué)加工工藝,提高光學(xué)元件的質(zhì)量。例如,在高精度光學(xué)鏡頭的制造中,白光干涉儀可以檢測鏡頭表面的微觀形貌,確保鏡頭的成像質(zhì)量。有了雙重防撞保護(hù)功能,能有效避免在測量過程中因意外碰撞對儀器造成的損壞,保證了光學(xué)加工領(lǐng)域持續(xù)穩(wěn)定的高精度測量。

(3)汽車零部件制造:汽車發(fā)動(dòng)機(jī)的缸體、活塞、氣門等零部件的表面形貌和尺寸精度對汽車的性能和可靠性至關(guān)重要。白光干涉儀可以用于這些零部件的表面粗糙度、平面度、圓柱度等參數(shù)的測量,為汽車零部件的制造提供高精度的檢測手段。其雙重防撞保護(hù)功能更是為頻繁的工業(yè)測量環(huán)境增添了一份安全保障,確保儀器在復(fù)雜的汽車零部件制造場景下穩(wěn)定運(yùn)行。

2、在科學(xué)研究中的應(yīng)用:

(1)材料科學(xué)研究:研究材料的表面形貌、結(jié)構(gòu)和性能之間的關(guān)系。例如,對于納米材料、薄膜材料、復(fù)合材料等,白光干涉儀可以測量其表面形貌和厚度,分析材料的結(jié)構(gòu)和性能。同時(shí),還可以用于研究材料的摩擦磨損、腐蝕等表面現(xiàn)象,為材料的研發(fā)和應(yīng)用提供重要的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。具備雙重防撞保護(hù)的白光干涉儀,能讓科研人員在進(jìn)行精密測量時(shí)無需過多擔(dān)憂意外碰撞對儀器的損害,更加專注于材料科學(xué)研究。

(2)微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)研究:MEMS器件的尺寸通常在微米或納米級別,其表面形貌和結(jié)構(gòu)對器件的性能和可靠性有著重要的影響。白光干涉儀可以用于MEMS器件的表面形貌測量、結(jié)構(gòu)尺寸測量、薄膜厚度測量等,為MEMS器件的設(shè)計(jì)、制造和性能評估提供重要的技術(shù)支持。而雙重防撞保護(hù)功能為MEMS研究中的高精度測量提供了可靠保障,防止因意外碰撞導(dǎo)致儀器精度下降甚至損壞。

3、在其他領(lǐng)域的應(yīng)用:

航空航天領(lǐng)域:在航空航天領(lǐng)域,白光干涉儀可用于飛機(jī)發(fā)動(dòng)機(jī)葉片的表面形貌測量、飛機(jī)機(jī)身的表面平整度檢測、衛(wèi)星零部件的尺寸精度測量等,為航空航天設(shè)備的制造和維護(hù)提供高精度的檢測手段。在這個(gè)對精度要求極高的領(lǐng)域,具備雙重防撞保護(hù)功能的白光干涉儀能夠確保測量過程的安全可靠,為航空航天事業(yè)的發(fā)展提供有力支持。

雙重防撞保護(hù),給精密測量多一份保障

白光干涉儀作為精密測量儀器,其雙重防撞保護(hù)功能的重要性不言而喻。在各種復(fù)雜的測量環(huán)境中,無論是工業(yè)生產(chǎn)、科學(xué)研究還是其他領(lǐng)域,都可能面臨意外碰撞的風(fēng)險(xiǎn)。而SuperViewW白光干涉儀防撞機(jī)械電子傳感器和軟件 ZSTOP防撞保護(hù)功能的雙重保障,能夠有效地保護(hù)儀器免受損壞,確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。這不僅為用戶節(jié)省了維修成本和時(shí)間,更保證了工作的連續(xù)性和高效性,為各個(gè)領(lǐng)域的發(fā)展提供了堅(jiān)實(shí)的技術(shù)支持。

wKgZPGdb8xaAaeY0AASv5s4CCuM338.png
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 測量
    +關(guān)注

    關(guān)注

    10

    文章

    5498

    瀏覽量

    116008
  • 儀器
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    4153

    瀏覽量

    53110
  • 白光干涉儀
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    232

    瀏覽量

    3277
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    白光干涉儀與激光干涉儀的區(qū)別及應(yīng)用解析

    在精密測量領(lǐng)域,干涉儀作為基于光的干涉原理實(shí)現(xiàn)高精度檢測的儀器,被廣泛應(yīng)用于工業(yè)制造、科研實(shí)驗(yàn)等場景。其中,白光干涉儀與激光
    的頭像 發(fā)表于 09-20 11:16 ?774次閱讀

    FRED應(yīng)用:天文光干涉儀

    簡介 天文光干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)恒星和星系的高角分辨率的測量。首次搭建的天文光干涉儀分別由菲索(1868)和邁克爾遜(1890)提出。邁克爾遜恒星干涉儀于1920年成功地測出參宿四的直徑。
    發(fā)表于 04-29 08:52

    白光干涉儀的膜厚測量模式原理

    白光干涉儀的膜厚測量模式原理主要基于光的干涉原理,通過測量反射光波的相位差或干涉條紋的變化來精確
    的頭像 發(fā)表于 02-08 14:24 ?508次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>的膜厚<b class='flag-5'>測量</b>模式原理

    白光干涉儀的光譜干涉模式原理

    白光干涉儀的光譜干涉模式原理主要基于光的干涉和光譜分析。以下是對該原理的詳細(xì)解釋: 一、基本原理 白光
    的頭像 發(fā)表于 02-07 15:11 ?563次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>的光譜<b class='flag-5'>干涉</b>模式原理

    白光干涉儀中的VSI和PSI以及VXI模式的區(qū)別

    白光干涉儀是一種高精度的光學(xué)測量儀器,它利用白光干涉原理來測量物體表面的形貌和高度等信息。在
    的頭像 發(fā)表于 02-06 10:39 ?541次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>中的VSI和PSI以及VXI模式的區(qū)別

    邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實(shí)現(xiàn)、條紋特征及形成機(jī)理

    邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實(shí)現(xiàn)、條紋特征及形成機(jī)理是光學(xué)研究中的重要內(nèi)容。以下是對這些方面的詳細(xì)解釋: 一、邁克耳孫干涉儀白光等傾
    的頭像 發(fā)表于 01-23 14:58 ?585次閱讀
    邁克耳孫<b class='flag-5'>干涉儀</b><b class='flag-5'>白光</b>等傾<b class='flag-5'>干涉</b>的實(shí)現(xiàn)、條紋特征及形成機(jī)理

    FRED案例:天文光干涉儀

    簡介 天文光干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)恒星和星系的高角分辨率的測量。首次搭建的天文光干涉儀分別由菲索(1868)和邁克爾遜(1890)提出。邁克爾遜恒星干涉儀于1920年成功地測出參宿四的直徑。
    發(fā)表于 01-21 09:58

    關(guān)于白光干涉儀的常見提問及回答

    原理相關(guān)1、白光干涉儀的基本原理是什么:白光干涉儀的基本原理是利用光學(xué)干涉原理。光源發(fā)出的光經(jīng)過擴(kuò)束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡分成兩束,一束光經(jīng)被測表
    的頭像 發(fā)表于 01-09 16:02 ?1516次閱讀
    關(guān)于<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>的常見提問及回答

    白光干涉技術(shù)演變過程

    一、初步應(yīng)用階段 在20世紀(jì)五六十年代,國內(nèi)外相繼出現(xiàn)了一些應(yīng)用型白光干涉儀。這些干涉儀主要采用人工操作、讀數(shù)、計(jì)算和測量評定某個(gè)參數(shù),效率相對較低。這一時(shí)期的
    的頭像 發(fā)表于 01-03 09:28 ?509次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉</b>的<b class='flag-5'>技術(shù)</b>演變過程

    用于光學(xué)測量的菲索干涉儀

    摘要 斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡,我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀,并利用它測試了不同的光學(xué)表面,例如
    發(fā)表于 12-26 10:18

    干涉測量

    在VirtualLab Fusion中所實(shí)現(xiàn)的快速物理光學(xué)技術(shù)為著名的干涉儀的快速仿真提供了強(qiáng)有力的工具,從而使我們能夠研究干涉圖樣中的相干和色散效應(yīng)。 基于物理光學(xué)的VirtualLab
    發(fā)表于 12-26 10:15

    馬赫澤德干涉儀

    摘要 干涉測量法是一項(xiàng)用于光學(xué)測量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機(jī)械和熱變形的高精度測量。作為一個(gè)典型示例,在非序列場追跡
    發(fā)表于 12-25 15:42

    天文光干涉儀

    簡介 天文光干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)恒星和星系的高角分辨率的測量。首次搭建的天文光干涉儀分別由菲索(1868)和邁克爾遜(1890)提出。邁克爾遜恒星干涉儀于1920年成功地測出參宿四的直徑?,F(xiàn)
    發(fā)表于 12-25 15:26

    光纖端面3D干涉儀的單色光移相干涉測量

    簡單介紹光纖端面3D干涉儀的單色光移相干涉測量法。 現(xiàn)在一般光纖端面3D干涉儀操作界面上,都有白光和單色光(比如紅光或其他顏色)的兩個(gè)選項(xiàng)。
    的頭像 發(fā)表于 12-18 09:23 ?1581次閱讀
    光纖端面3D<b class='flag-5'>干涉儀</b>的單色光移相<b class='flag-5'>干涉</b><b class='flag-5'>測量</b>法

    白光干涉儀測量原理及干涉測量技術(shù)的應(yīng)用

    白光干涉儀利用干涉原理測光程差,測物理量,具高精度。應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)加工、汽車零部件制造及科研等領(lǐng)域,雙重防撞保護(hù)保障測量安全?;驹恚?b class='flag-5'>白光
    發(fā)表于 12-16 15:04 ?0次下載