CT測(cè)試

1. 基本信息：

A. 存儲(chǔ)編號(hào)：可輸入最多10個(gè)漢字或20個(gè)字符、字母和數(shù)字。

B. 繞組序號(hào)：可輸入最多4個(gè)漢字或8個(gè)字符、字母和數(shù)字。 建議采用預(yù)設(shè)值。

C. 繞組級(jí)別：被測(cè)的級(jí)別，對(duì)于CT，有P、計(jì)量、PR、PX、TPY、 TPS、TPX、TPZ等8個(gè)選項(xiàng)。

D. 額定頻率：互感器額定頻率?？蛇x值為：50Hz或60Hz。

E. 繞組相序：表示當(dāng)前所測(cè)繞組的相序?？蛇x值為：A、B、C。

2. 新建測(cè)試：

點(diǎn)擊【新建測(cè)試】后界面如下：

左側(cè)為測(cè)試項(xiàng)目選擇區(qū)，可以選擇：直阻+勵(lì)磁、直阻+變比和直阻+勵(lì)磁+變比，直阻測(cè)試為必測(cè)項(xiàng)，是不能選擇的。

中間區(qū)域?yàn)閰?shù)設(shè)置，根據(jù)互感器銘牌設(shè)置以上參數(shù)后就可以開(kāi)始測(cè)了。

注意：開(kāi)始試驗(yàn)前請(qǐng)查看接線是否正確。

既滿足各類CT（如：保護(hù)類、計(jì)量類、TP類）的勵(lì)磁特性（即伏安特性）、變比、極性、二次繞組電阻、二次負(fù)荷、比差以及角差等測(cè)試要求，又可用于各類PT電磁單元的勵(lì)磁特性、變比、極性和二次繞組電阻測(cè)試。

自動(dòng)給出拐點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)（ALF）、儀表保安系數(shù)（FS）、二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、飽和及不飽和電感等CT參數(shù)。

測(cè)試滿足GB1208（IEC60044-1）、GB16847(IEC60044-6) 、GB1207等各類互感器標(biāo)準(zhǔn)，并依照互感器類型和級(jí)別自動(dòng)選擇何種標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試。

基于先進(jìn)的低頻法測(cè)試原理，能應(yīng)對(duì)拐點(diǎn)高達(dá)40KV以上的CT測(cè)試。

測(cè)試簡(jiǎn)單方便，一鍵完成CT直阻、勵(lì)磁、變比和極性測(cè)試，而且除了負(fù)荷測(cè)試外，CT其他各項(xiàng)測(cè)試都是采用同一種接線方式。

10寸彩色大屏幕全漢化圖形界面

界面友好美觀，全中文圖形界面，面板自帶打印機(jī)，可隨時(shí)打印曲線圖及測(cè)試數(shù)據(jù)。

附加功能全面帶有大容量存儲(chǔ)器，可存儲(chǔ)2000組測(cè)試數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)掉電永不丟失；

試驗(yàn)完畢后將數(shù)據(jù)存入U(xiǎn)盤，可以在電腦端用軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，并生成WORD報(bào)告。

拐點(diǎn)自動(dòng)計(jì)算功能，試驗(yàn)數(shù)據(jù)篩選打印功能，自帶日期/時(shí)間功能。

3. 測(cè)試接線：

點(diǎn)擊【接線圖】后就可以看到測(cè)試接線圖：

注意：測(cè)試時(shí)被測(cè)的繞組必須要接地。

1. 測(cè)試參數(shù)：

如果用戶希望看到以下結(jié)果，需要準(zhǔn)確設(shè)置基本參數(shù)（建議用戶設(shè)置）。

A. 匝比誤差、比值差和相位差

B. 準(zhǔn)確計(jì)算的極限電動(dòng)勢(shì)及其對(duì)應(yīng)的復(fù)合誤差

C. 實(shí)測(cè)的準(zhǔn)確限制系數(shù)、儀表保安系數(shù)和對(duì)稱短路電流倍數(shù)

D. 實(shí)測(cè)的暫態(tài)面積系數(shù)、峰瞬誤差、二次時(shí)間常數(shù)

對(duì)于不同級(jí)別的CT，參數(shù)的設(shè)置也不同，見(jiàn)下表：

1. 測(cè)試過(guò)程：

第一步：打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)，進(jìn)入【CT測(cè)試】頁(yè)面，設(shè)置互感器基本信息。

第二步：選擇【新建測(cè)試】，進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)置界面，根據(jù)【接線圖】進(jìn)行測(cè)試接線。

注意：被測(cè)CT必須與原有線路完全斷開(kāi)。

注意：被測(cè)CT端和儀器必須可靠接地。

第三步：設(shè)置參數(shù)。

按需求設(shè)置參數(shù)，基本測(cè)試時(shí)只需設(shè)置CT的額定一次、二次和負(fù)荷即可。詳細(xì)設(shè)置請(qǐng)參考測(cè)試參數(shù)部分。

第四步： 選擇右邊的開(kāi)始測(cè)試按鈕進(jìn)行試驗(yàn)。

2. 試驗(yàn)結(jié)果：

試驗(yàn)結(jié)果頁(yè)，界面如下圖。

基本數(shù)據(jù)：顯示出所測(cè)試出的所有基本結(jié)果，如上圖。

勵(lì)磁曲線：顯示出當(dāng)前數(shù)據(jù)的勵(lì)磁曲線。

誤差曲線：顯示出當(dāng)前數(shù)據(jù)的5%或10%誤差曲線。

勵(lì)磁數(shù)據(jù)：根據(jù)所設(shè)模式顯示出勵(lì)磁數(shù)據(jù)，模式有：全部數(shù)據(jù)、標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)和指定數(shù)據(jù)。

誤差數(shù)據(jù)：根據(jù)所設(shè)模式顯示出誤差數(shù)據(jù)，模式有：全部數(shù)據(jù)和標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)。

結(jié)果打?。?/strong>可以根據(jù)設(shè)置的模式進(jìn)行結(jié)果打印。

數(shù)據(jù)保存：點(diǎn)擊后可以保存當(dāng)前數(shù)據(jù)。

數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存：點(diǎn)擊后可以轉(zhuǎn)存當(dāng)前數(shù)據(jù)到U盤內(nèi)。

注意：結(jié)果需要手動(dòng)保存，如需保存請(qǐng)按右側(cè)的【數(shù)據(jù)保存】按鈕進(jìn)行存儲(chǔ)。

對(duì)于不同級(jí)別的CT和所選的試驗(yàn)項(xiàng)目，試驗(yàn)結(jié)果也不同，見(jiàn)下表：