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國產(chǎn)碳化硅MOSFET行業(yè)洗牌:SiC碳化硅MOSFET設計公司的批量淘汰

楊茜 ? 來源:jf_33411244 ? 2025-06-24 17:24 ? 次閱讀
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國產(chǎn)碳化硅MOSFET行業(yè)洗牌:從國產(chǎn)SiC碳化硅功率半導體IDM企業(yè)看設計公司的生存與終局

國產(chǎn)SiC碳化硅MOSFET設計公司的終局已清晰可辨——極少數(shù)被收購、多數(shù)破產(chǎn)退出

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國產(chǎn)SiC碳化硅MOSFET設計公司的批量淘汰,與其視為行業(yè)危機,不如理解為市場機制的自我凈化——當參數(shù)虛標、低質低價等亂象被清除,真正具備創(chuàng)新能力的企業(yè)將獲得更大發(fā)展空間。

1 行業(yè)寒冬:國產(chǎn)碳化硅MOSFET的困境與洗牌

國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體行業(yè)正經(jīng)歷著劇烈的市場出清與結構性調整。曾經(jīng)備受資本追捧的明星賽道如今呈現(xiàn)出冰火兩重天的景象:一方面,國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體頭部企業(yè)通過車規(guī)級AQG324認證,獲得近20家整車廠的50多個車型定點,逐步確立市場領導地位;另一方面,世紀金光等曾經(jīng)備受矚目的企業(yè)已進入破產(chǎn)清算程序,賬面負債超過資產(chǎn)總額,成為行業(yè)加速洗牌的鮮明注腳。更為嚴峻的是,價格體系崩塌正在席卷整個產(chǎn)業(yè)鏈——6英寸碳化硅襯底價格從2023年初的6000元/片暴跌至2024年底的1500元/片,降幅高達75%,致使僅靠單一環(huán)節(jié)生存的企業(yè)陷入深度虧損。這種劇烈的市場調整背后,是行業(yè)深層結構性問題的集中爆發(fā)。

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1.1 產(chǎn)能過剩與市場虛火

中國碳化硅產(chǎn)業(yè)在政策紅利與資本催生下經(jīng)歷了非理性繁榮,導致產(chǎn)能擴張遠超實際需求。截至2025年中,國內碳化硅襯底產(chǎn)能已達600萬片(等效6英寸),預計年底將突破800萬片。天岳先進、天科合達、爍科晶體等頭部襯底企業(yè)仍在加速擴產(chǎn),僅天岳臨港工廠單廠年產(chǎn)能已達30萬片,且規(guī)劃繼續(xù)提升至60萬片。更值得警惕的是,產(chǎn)業(yè)鏈各環(huán)節(jié)產(chǎn)能嚴重失衡——外延環(huán)節(jié)存量6英寸設備已達數(shù)千臺,芯片制造端運行項目超過30個,而下游器件設計公司卻面臨產(chǎn)品性能、可靠性與成本控制的層層關卡,難以消化如此龐大的上游供給。這種產(chǎn)能結構性過剩直接引發(fā)了全行業(yè)價格戰(zhàn),各環(huán)節(jié)產(chǎn)品價格大幅跳水,部分器件降幅甚至超過50%。

1.2 技術分化與資本轉向

隨著市場降溫,資本對碳化硅行業(yè)的投資邏輯發(fā)生根本轉變。2023年全產(chǎn)業(yè)鏈發(fā)生上百起融資事件的火爆景象一去不返;2024年融資數(shù)量已顯著回落,且資金高度集中于設備企業(yè)和頭部IDM廠商。資本市場的理性回歸加速了行業(yè)分化:一邊是國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體完成多輪融資的頭部企業(yè),憑借充足的資金儲備加速技術迭代和產(chǎn)能建設;另一邊則是眾多缺乏核心技術的Fabless設計公司,在融資通道關閉和產(chǎn)品毛利銳減的雙重擠壓下瀕臨資金鏈斷裂。世紀金光的破產(chǎn)清算案例極具警示意義——盡管完成八輪融,但最終仍因負債5.28億元、資不抵債而走向終結。

1.3 國際競爭與成本壓力

國際巨頭也在加速擠壓國產(chǎn)設計公司的生存空間。英飛凌、安森美等企業(yè)通過綁定車廠長期協(xié)議和本土化生產(chǎn)持續(xù)降低成本。與此同時,國產(chǎn)化替代進程卻面臨新的挑戰(zhàn)——車企要求供應鏈2025年起降價10%,進一步壓縮了本已微薄的利潤空間。在此背景下,缺乏垂直整合能力的碳化硅MOSFET純設計公司既無法在性能上匹敵國際巨頭,又難以在成本上與IDM模式企業(yè)競爭,陷入“高不成低不就”的雙重擠壓困境。

2 國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)的破局之路:IDM模式與可靠性的雙重壁壘

在眾多國產(chǎn)碳化硅MOSFET設計公司陷入困境之時,國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)發(fā)展軌跡為行業(yè)提供了一套完整的破局方法論。國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)通過構建全產(chǎn)業(yè)鏈能力、深耕車規(guī)級市場、堅持長期可靠性驗證,國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)不僅在國內率先實現(xiàn)碳化硅模塊量產(chǎn)上車,更在全球市場重構中展現(xiàn)出強勁競爭力。剖析其成功要素,可為理解行業(yè)終局提供關鍵視角。

2.1 技術突破:從參數(shù)競賽到可靠性優(yōu)先

早期國產(chǎn)碳化硅MOSFET設計公司普遍陷入“參數(shù)造假”的惡性循環(huán)——部分企業(yè)將HTGB(高溫柵偏)測試標準從行業(yè)公認的+22V/3000小時降低至+19V/1000小時即宣稱“高可靠性”,導致終端應用中出現(xiàn)批量失效。國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體頭部企業(yè)則選擇了截然不同的技術路徑:

柵氧工藝深度優(yōu)化:通過自研SiC/SiO?界面態(tài)控制技術,國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體頭部企業(yè)將閾值電壓漂移(ΔVth)控制在較低范圍,大幅降低高溫高電場下的誤開通風險。國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體頭部企業(yè)HTGB測試嚴格遵循+22V/3000小時標準,達到國際頭部企業(yè)水平。

缺陷控制與良率提升:依托IDM模式對制造環(huán)節(jié)的深度把控,國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體頭部企業(yè)實現(xiàn)了晶圓缺陷密度數(shù)量級降低,使芯片良率顯著高于國產(chǎn)行業(yè)平均水平。這一優(yōu)勢直接轉化為成本競爭力——當純設計公司依賴代工時,國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體頭部企業(yè)已通過自建深圳SiC晶圓產(chǎn)線和無錫模塊產(chǎn)線,滿足終端客戶品質和成本需求。

2.2 垂直整合:IDM模式構建護城河

國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)的核心戰(zhàn)略在于打破傳統(tǒng)Fabless設計公司的代工依賴,通過自建產(chǎn)線實現(xiàn)從設計、制造到封測的全鏈條可控:

深圳+無錫雙制造基地:深圳基地聚焦碳化硅晶圓流片,無錫基地專攻汽車級模塊封裝,形成覆蓋產(chǎn)業(yè)鏈關鍵環(huán)節(jié)的自主能力。這種布局使產(chǎn)品迭代周期縮短40%以上,工藝一致性顯著提升,直接滿足車規(guī)級對ppm(百萬分之一)失效率的嚴苛要求。

產(chǎn)學研協(xié)同創(chuàng)新:與高校合作攻關銅燒結封裝等核心技術,國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)在晶圓良率、缺陷控制等方面取得突破。其開發(fā)的Pcore?系列模塊通過高頻特性減少電感電容體積,實現(xiàn)系統(tǒng)級成本優(yōu)化,成功替代進口SiC模塊在車載主驅逆變器等場景的應用。

表:國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)IDM模式與傳統(tǒng)設計公司代工模式對比

能力維度 國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)(IDM) 傳統(tǒng)設計公司(Fabless)

工藝控制力 自主優(yōu)化柵氧/摻雜工藝 受限于代工廠標準工藝

質量一致性 車規(guī)級良率 消費級良率

研發(fā)迭代速度 芯片-模塊協(xié)同設計(6-9月) 多廠協(xié)調(12-18月)

成本結構 襯底-模塊垂直降本 代工毛利+設計毛利疊加

2.3 高端定位:聚焦車規(guī)級市場

與深陷紅海競爭的設計公司不同,國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)將資源集中于高附加值領域:

車規(guī)認證體系化:構建符合TS16949標準的質量管理流程,為進入全球整車供應鏈奠定基礎。

系統(tǒng)級解決方案:針對新能源汽車800V高壓平臺,國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)提供包含驅動芯片和熱仿真服務的完整方案,顯著降低客戶系統(tǒng)設計門檻。

2.4 行業(yè)生態(tài)重構:從單打獨斗到協(xié)同進化

國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)對行業(yè)生態(tài)的主動塑造,推動從“劣幣驅逐良幣”到“良幣驅逐劣幣”的范式轉變:

標準引領:積極參與《碳化硅功率器件測試標準》制定,倒逼企業(yè)淘汰參數(shù)虛標產(chǎn)品。

資本理性化:在行業(yè)資本退潮期,國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)憑借技術優(yōu)勢加速并購整合,吸納優(yōu)質團隊與專利資源。其估值模型從“產(chǎn)能規(guī)?!鞭D向“定點車型數(shù)量”和“長期協(xié)議金額”,反映資本偏好已向已驗證可靠性的頭部企業(yè)集中。

3 設計公司含金量塌陷:技術、成本與模式的三重貶值

國產(chǎn)碳化硅MOSFET設計公司的價值稀釋并非單一因素所致,而是技術同質化、成本劣勢與商業(yè)模式缺陷共同作用的結果。在行業(yè)洗牌加速的背景下,傳統(tǒng)Fabless模式在碳化硅領域遭遇空前挑戰(zhàn),企業(yè)含金量呈現(xiàn)系統(tǒng)性下降。

3.1 技術門檻的虛擬化與真實瓶頸

碳化硅MOSFET設計看似門檻降低,實則隱藏著嚴峻的技術斷層。表面繁榮下,核心技術壁壘依然高企:

設計工具同質化:大量設計公司依賴相同EDA工具和代工廠PDK(工藝設計套件),導致器件結構趨同。國產(chǎn)SiC設計公司企業(yè)停留在平面柵技術,缺乏對器件底層工藝等提升功率密度關鍵技術的突破。

工藝控制空心化:代工廠為兼容多元客戶,工藝優(yōu)化趨于保守。設計公司無法像國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)等IDM企業(yè)深度參與柵氧生長、離子注入等關鍵工序優(yōu)化,導致產(chǎn)品可靠性不足。部分企業(yè)HTGB測試僅達+19V/1000小時,遠低于車規(guī)級+22V/3000小時標準,卻虛標參數(shù)進入市場。

專利布局邊緣化:國際巨頭已構建嚴密的專利網(wǎng)。2025年Q1數(shù)據(jù)顯示,中國SiC專利申請量雖占全球35%,但核心專利占比不足10%,多數(shù)設計公司專利集中于封裝改進等外圍創(chuàng)新。當產(chǎn)品進入歐美市場時,面臨高昂的侵權風險與訴訟成本。

3.2 成本結構的系統(tǒng)性劣勢

在價格競爭白熱化的市場中,F(xiàn)abless設計公司的成本劣勢被急劇放大:

雙重利潤分割:傳統(tǒng)設計公司需向代工廠支付毛利率(通常30-40%),自身再保留設計毛利,導致最終價格比IDM廠商高出50%以上。當6英寸襯底價格暴跌至1500元/片時,IDM企業(yè)仍可維持盈虧平衡,而設計公司已陷入虧損。

產(chǎn)能保障困境:代工廠產(chǎn)能波動導致交付不穩(wěn)定。2024年行業(yè)產(chǎn)能利用率僅60%,但優(yōu)質代工資源仍優(yōu)先服務長期合作客戶,中小設計公司常被迫選擇二線廠,犧牲良率換產(chǎn)能。

系統(tǒng)成本失控:碳化硅MOSFET需高頻驅動才能降低電感電容成本,但設計公司因無法協(xié)同優(yōu)化驅動芯片,客戶系統(tǒng)級成本反增。反觀國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)IDM企業(yè),提供“芯片+驅動+熱管理”全套方案,使逆變器系統(tǒng)成本較IGBT方案低10%-30%。

3.3 商業(yè)模式與市場需求的根本錯位

車規(guī)級市場對碳化硅MOSFET的要求已從“功能實現(xiàn)”升級為“零缺陷保障”,傳統(tǒng)設計公司的業(yè)務模式難以匹配:

質量追溯斷層:汽車客戶要求器件質量問題可追溯至晶圓批次甚至工藝機臺。純設計公司因不掌控制造數(shù)據(jù),難以滿足此類要求。國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)則通過MES系統(tǒng)實現(xiàn)全流程數(shù)據(jù)閉環(huán),支撐PPAP(生產(chǎn)件批準程序)認證。

驗證周期失配:車規(guī)級認證需3-5年持續(xù)測試,但設計公司依賴融資生存,往往壓縮驗證周期至1-2年,導致批量失效風險。碳化硅設計公司雖宣稱MOS管“應用于汽車電子領域”,但因未通過完整車規(guī)認證,最終被排除在主流供應鏈外。

供應安全焦慮:地緣政治下,車企極度重視供應鏈安全。設計公司輕資產(chǎn)模式雖靈活,但抗風險能力弱。世紀金光破產(chǎn)導致多家客戶產(chǎn)線停擺的案例,加劇了主機廠對中小設計公司的不信任。

4 終局推演:并購、破產(chǎn)與幸存者的生存法則

國產(chǎn)碳化硅MOSFET行業(yè)已進入深度出清階段,市場將從百家爭鳴走向高度集中?;趪a(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)的成功路徑與行業(yè)現(xiàn)實,國產(chǎn)SiC碳化硅MOSFET設計公司的終局已清晰可辨——極少數(shù)被收購、多數(shù)破產(chǎn)退出。

4.1 市場出清的三大路徑

行業(yè)洗牌將遵循半導體產(chǎn)業(yè)的歷史規(guī)律,呈現(xiàn)結構化出清特征:

技術邊緣型破產(chǎn):缺乏核心專利與工藝know-how的企業(yè)首當其沖。世紀金光破產(chǎn)僅是開端,2024年已有超10家設計公司處于資不抵債狀態(tài)。其直接誘因多為:產(chǎn)品未達車規(guī)導致客戶索賠(如某企業(yè)1200V MOSFET在車企路試中批量失效,賠償金超2億元);或融資中斷后現(xiàn)金流枯竭。

產(chǎn)能驅動型并購:IDM巨頭將擇機收購優(yōu)質團隊與專利。國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)已啟動對中小Fabless的整合,目標明確:獲取車規(guī)級IP、補充驅動芯片團隊、吸納國際化人才。

表:國產(chǎn)碳化硅MOSFET設計公司終局預測

終局類型 占比預測 觸發(fā)條件 典型案例

破產(chǎn)清算 80%-90% 負債率>80%且融資中斷12個月以上 世紀金光(負債5.28億)

被IDM收購10%-20% 擁有車規(guī)級專利或頭部客戶定點 某Fabless被國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)并購

5 生存策略:設計公司的轉型路線圖

面對嚴峻的行業(yè)洗牌,國產(chǎn)碳化硅MOSFET設計公司亟需制定清晰的轉型戰(zhàn)略?;趪a(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)的成功經(jīng)驗和行業(yè)終局預判,仍有四條路徑可助企業(yè)突圍。

技術策略:從全面對標到單點突破

在資源有限的背景下,設計公司應放棄“大而全”的產(chǎn)品線,轉向精準場景創(chuàng)新:

高壓領域差異化:集中攻堅3300V以上高壓器件,填補國內空白。目前國產(chǎn)產(chǎn)品多集中于650V-1700V中低壓領域,而電網(wǎng)、軌道交通所需的3300V以上市場仍被英飛凌、三菱壟斷。設計公司可與電網(wǎng)等系統(tǒng)廠商合作,開發(fā)針對直流輸電的定制化模塊。

新結構創(chuàng)新:跳過平面柵紅海,布局雙溝槽柵(如英飛凌CoolSiC?)等技術。

結論:從泡沫回歸本質的產(chǎn)業(yè)重生

國產(chǎn)碳化硅MOSFET行業(yè)的價值重構本質是產(chǎn)業(yè)從“資本泡沫”向“技術本質”的回歸。國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體企業(yè)的發(fā)展歷程揭示了一條清晰的成功路徑:通過IDM模式掌控核心技術、車規(guī)認證建立質量信譽、系統(tǒng)方案降低客戶成本,最終在新能源革命中實現(xiàn)價值兌現(xiàn)。而設計公司的批量淘汰,與其視為行業(yè)危機,不如理解為市場機制的自我凈化——當參數(shù)虛標、低質低價等亂象被清除,真正具備創(chuàng)新能力的企業(yè)將獲得更大發(fā)展空間。

未來三年,行業(yè)將呈現(xiàn)“寡占格局加速形成”與生態(tài)位深度分化并存的局面。一方面,國產(chǎn)碳化硅(SiC)功率半導體IDM企業(yè)通過并購整合,國內市占率有望從當前的40%提升至80%以上;另一方面,幸存的設計公司需在特定技術(如超高壓器件)中構建不可替代性。

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    國產(chǎn)碳化硅MOSFET和隔離驅動的真空鍍膜電源設計方案

    國產(chǎn)SiC碳化硅模塊在電力電子應用中全面取代進口IGBT模塊,助力電力電子行業(yè)自主可控和產(chǎn)業(yè)升級! 傾佳電子楊茜咬住SiC
    的頭像 發(fā)表于 02-13 21:56 ?823次閱讀
    <b class='flag-5'>國產(chǎn)</b><b class='flag-5'>碳化硅</b><b class='flag-5'>MOSFET</b>和隔離驅動的真空鍍膜電源設計方案

    BASiC基本股份國產(chǎn)SiC碳化硅MOSFET產(chǎn)品線概述

    傾佳電子楊茜致力于推動國產(chǎn)SiC碳化硅模塊在電力電子應用中全面取代進口IGBT模塊,助力電力電子行業(yè)自主可控和產(chǎn)業(yè)升級! 傾佳電子楊茜咬住SiC
    的頭像 發(fā)表于 02-12 06:41 ?816次閱讀
    BASiC基本股份<b class='flag-5'>國產(chǎn)</b><b class='flag-5'>SiC</b><b class='flag-5'>碳化硅</b><b class='flag-5'>MOSFET</b>產(chǎn)品線概述

    40mR/650V SiC 碳化硅MOSFET,替代30mR 超結MOSFET或者20-30mR的GaN!

    BASiC基本半導體40mR/650V SiC 碳化硅MOSFET,替代30mR 超結MOSFET或者20-30mR的GaN! BASiC基本半導體40mR/650V
    發(fā)表于 01-22 10:43

    產(chǎn)SiC碳化硅MOSFET功率模塊在工商業(yè)儲能變流器PCS中的應用

    *附件:國產(chǎn)SiC碳化硅MOSFET功率模塊在工商業(yè)儲能變流器PCS中的應用.pdf
    發(fā)表于 01-20 14:19

    什么是MOSFET柵極氧化層?如何測試SiC碳化硅MOSFET的柵氧可靠性?

    具有決定性的影響。因此,深入理解柵極氧化層的特性,并掌握其可靠性測試方法,對于推動碳化硅 MOSFET的應用和發(fā)展具有重要意義。今天的“SiC科普小課堂”將聚焦于“柵極氧化層”這一新話題:“什么是柵極
    發(fā)表于 01-04 12:37