開關(guān)電源作為電子行業(yè)中應(yīng)用最為廣泛的電源模塊，其測試流程和方法需遵循 “從基礎(chǔ)功能到復(fù)雜性能、從靜態(tài)特性到動態(tài)可靠性” 的邏輯流程。具體的測試工程通常分為設(shè)計驗證測試、生產(chǎn)測試和驗證測試幾個階段。

一，測試準(zhǔn)備階段
明確測試標(biāo)準(zhǔn)：所有測試都必須依據(jù)產(chǎn)品測試的國家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行，包括輸入電壓范圍、輸出電壓/電流、效率、紋波、保護(hù)功能等關(guān)鍵參數(shù)。
確定測試儀器：數(shù)字萬用表、高精度直流電子負(fù)載、交流可調(diào)電源、示波器、功率分析儀/效率測試儀、溫度記錄儀、絕緣耐壓測試儀、浪涌發(fā)生器、振動臺等。
制作測試治具：用于快速連接電源的輸入、輸出和測量點，確保測試的一致性和可靠性。

開關(guān)電源測試

二，主要測試流程及方法
第一階段：基本電氣性能測試
輸出電壓調(diào)整率
目的：測試輸入電壓變化時，輸出電壓的穩(wěn)定能力。
方法：將輸出負(fù)載固定在額定值（如滿載），調(diào)整輸入電壓從最小值到最大值，測量輸出電壓的最大偏差。
負(fù)載調(diào)整率
目的：測試負(fù)載變化時，輸出電壓的穩(wěn)定能力。
方法：將輸入電壓固定在額定值，調(diào)整輸出負(fù)載從最小值（如空載）到最大值（滿載），測量輸出電壓的最大偏差。計算公式同上。
輸出精度
目的：測試輸出電壓與標(biāo)稱值的初始偏差。
方法：在額定輸入和額定負(fù)載下，測量輸出電壓，與標(biāo)稱值對比。
效率測試??
目的：衡量電源的能量轉(zhuǎn)換能力，是重要指標(biāo)。
方法：使用功率分析儀，同時測量輸入功率（Pin）和輸出功率（Pout），效率 η = Pout / Pin * 100%。通常需測試在不同輸入電壓和不同負(fù)載點（如10%， 25%， 50%， 75%， 100%負(fù)載）下的效率，以繪制效率曲線。
紋波和噪聲
目的：測量輸出直流電壓上疊加的交流雜波。
方法：使用示波器，并將帶寬限制在20MHz（模擬實際系統(tǒng)的頻寬）。
采用并聯(lián)探針法：使用同軸電纜，中心線接輸出正極，屏蔽層接輸出負(fù)極，并在探頭尖端并聯(lián)一個47μF電解電容和一個0.1μF陶瓷電容，以消除外部噪聲干擾。
測量峰峰值（Vpp）。

紋波測試

第二階段：動態(tài)特性測試
動態(tài)負(fù)載響應(yīng)
目的：測試電源對負(fù)載劇烈變化的響應(yīng)速度和穩(wěn)定性。
方法：使用電子負(fù)載的動態(tài)模式，讓負(fù)載電流在兩個值之間高速切換。用示波器觀察輸出電壓的過沖、下沖和恢復(fù)時間。
開機(jī)啟動時間 & 關(guān)機(jī)保持時間

啟動時間：從施加輸入電壓到輸出電壓達(dá)到穩(wěn)定值的90%所需的時間。
保持時間：在額定輸入和滿載條件下，關(guān)閉輸入電壓，測量輸出電壓維持在正常范圍內(nèi)的持續(xù)時間。這關(guān)系到電源能否應(yīng)對短暫的電網(wǎng)中斷。

電源模塊測試

第三階段：保護(hù)功能測試
過流保護(hù)
目的：測試輸出電流過大時，電源是否能保護(hù)自身和后續(xù)設(shè)備。
方法：緩慢增加負(fù)載，直到輸出電壓開始下降或關(guān)閉。記錄保護(hù)點電流（I_ocp），驗證其是否在規(guī)格范圍內(nèi)。
過壓保護(hù)
目的：測試輸出電壓異常過高時，電源是否能關(guān)閉輸出。
方法：通常需要人為改變反饋網(wǎng)絡(luò)，使環(huán)路失控，觸發(fā)OVP。記錄觸發(fā)電壓值。
短路保護(hù)
目的：測試輸出短路時，電源的行為。
方法：將輸出端短路，上電。觀察電源是進(jìn)入打嗝模式、完全關(guān)閉還是恒定限流。短路移除后，檢查是否能自動恢復(fù)或需要重啟。
過溫保護(hù)
目的：測試電源內(nèi)部溫度過高時能否保護(hù)。
方法：將電源置于高溫箱中或用電吹風(fēng)/熱風(fēng)槍加熱關(guān)鍵熱源，同時監(jiān)控溫度和輸出，記錄保護(hù)動作的溫度點。

過流保護(hù)

第四階段：安全與可靠性測試
絕緣耐壓測試
目的：檢驗初級（輸入）和次級（輸出）之間的絕緣強(qiáng)度。
方法：使用耐壓測試儀，在輸入-輸出、輸入-地、輸出-地之間施加高壓，要求漏電流小于規(guī)定值。
接地電阻
目的：測試接地連接的可靠性。
方法：用微歐計或大電流源測量輸入接地端到外殼之間的電阻，通常要求 < 100mΩ。
溫升測試
目的：確保所有元器件在 最高輸入電壓、滿載、高溫環(huán)境下的工作溫度低于其額定值。
方法：將電源置于高溫箱，在最高輸入電壓和滿載下工作至熱穩(wěn)定，使用熱電偶或熱成像儀測量關(guān)鍵元件的殼溫或表面溫度。
高低溫循環(huán)/老化測試
目的：剔除早期失效產(chǎn)品，考核長期可靠性。
方法：將一批樣品在高溫下滿載運行24-168小時，監(jiān)測其是否失效。

除了以上測試外，某些開關(guān)電源還會測試其EMC性能和音頻噪聲以及浪涌電流、功率因素等項目。

審核編輯 黃宇