在功率半導(dǎo)體器件研發(fā)與生產(chǎn)領(lǐng)域，對(duì)器件性能參數(shù)的精準(zhǔn)測(cè)試是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。吉時(shí)利2614B大電流源表憑借其卓越的性能與多功能集成特性，成為應(yīng)對(duì)高電壓、大電流測(cè)試場(chǎng)景的理想選擇，為功率器件的特性分析與可靠性驗(yàn)證提供了高效解決方案。

雙通道架構(gòu)與寬量程輸出，滿足復(fù)雜測(cè)試需求
吉時(shí)利2614B采用雙通道設(shè)計(jì)，每個(gè)通道均具備200V電壓輸出與10A電流輸出能力，支持恒壓、恒流及恒功率模式靈活切換。這一特性使其能夠同時(shí)驅(qū)動(dòng)并測(cè)試多個(gè)功率器件，顯著提升測(cè)試效率。對(duì)于MOSFET、IGBT等器件的高壓大電流特性測(cè)試，2614B的6位半分辨率與100fA/100nV測(cè)量精度，可精準(zhǔn)捕捉器件動(dòng)態(tài)響應(yīng)與靜態(tài)參數(shù)，確保測(cè)試數(shù)據(jù)的可靠性。
高速TSP技術(shù)賦能自動(dòng)化測(cè)試，提升效率
內(nèi)置的測(cè)試腳本處理器（TSP）技術(shù)是2614B的核心優(yōu)勢(shì)之一。TSP允許測(cè)試程序在儀器內(nèi)部獨(dú)立運(yùn)行，無(wú)需依賴外部PC控制，從而將測(cè)試速度提升至傳統(tǒng)方法的200%。在功率循環(huán)測(cè)試、動(dòng)態(tài)特性分析等需要快速數(shù)據(jù)采樣的場(chǎng)景中，TSP技術(shù)大幅縮短了測(cè)試周期，尤其適用于生產(chǎn)線的高效批量測(cè)試需求。
多重保護(hù)機(jī)制，保障測(cè)試安全與穩(wěn)定性
功率器件測(cè)試常面臨過(guò)流、過(guò)壓等風(fēng)險(xiǎn)。2614B配備完善的保護(hù)功能，當(dāng)檢測(cè)到異常狀態(tài)時(shí)，儀器可即時(shí)切斷輸出并觸發(fā)警報(bào)，避免損壞待測(cè)器件或測(cè)試系統(tǒng)。此外，電氣隔離設(shè)計(jì)進(jìn)一步增強(qiáng)了儀器與負(fù)載間的安全性，使其在高電壓環(huán)境下仍能穩(wěn)定運(yùn)行。
靈活通信接口與即插即用軟件，簡(jiǎn)化操作與系統(tǒng)集成
2614B支持USB、GPIB、LAN等多種通信協(xié)議，可無(wú)縫接入自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。內(nèi)置的基于Java的I-V特性分析軟件，通過(guò)瀏覽器即可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制與數(shù)據(jù)分析，簡(jiǎn)化了操作流程。對(duì)于研發(fā)團(tuán)隊(duì)而言，這一特性顯著降低了設(shè)備學(xué)習(xí)成本，縮短了項(xiàng)目調(diào)試時(shí)間。
結(jié)語(yǔ)
作為電子測(cè)量領(lǐng)域的標(biāo)桿產(chǎn)品，吉時(shí)利2614B大電流源表以高精度、高穩(wěn)定性與多功能集成優(yōu)勢(shì)，為功率器件測(cè)試提供了從研發(fā)到生產(chǎn)的全流程支持。在新能源、汽車電子、工業(yè)控制等行業(yè)的快速發(fā)展背景下，2614B將持續(xù)助力工程師突破測(cè)試瓶頸，推動(dòng)功率半導(dǎo)體技術(shù)的創(chuàng)新與迭代。

審核編輯 黃宇