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探索NTJD5121N和NVJD5121N MOSFET:特性、參數(shù)與應(yīng)用

h1654155282.3538 ? 來源:未知 ? 作者:陳翠 ? 2025-12-02 10:45 ? 次閱讀
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探索NTJD5121N和NVJD5121N MOSFET:特性、參數(shù)與應(yīng)用

電子工程師的日常設(shè)計(jì)工作中,MOSFET是電路設(shè)計(jì)里的關(guān)鍵角色,特別是在功率開關(guān)和信號處理等領(lǐng)域。今天,我們就來深入探討ON Semiconductor的NTJD5121N和NVJD5121N這兩款MOSFET,看看它們有哪些獨(dú)特之處。

文件下載:onsemi NTJD5121N,NVJD5121N雙N溝道功率MOSFET.pdf

產(chǎn)品概述

NTJD5121N和NVJD5121N是雙N溝道功率MOSFET,采用SC - 88封裝,具備ESD保護(hù)功能。其中,NV前綴的產(chǎn)品適用于汽車及其他有獨(dú)特場地和控制變更要求的應(yīng)用,并且通過了AEC - Q101認(rèn)證,還具備PPAP能力。這兩款器件都是無鉛產(chǎn)品,環(huán)保又實(shí)用。

引腳分配

關(guān)鍵特性

低導(dǎo)通電阻

低$R_{DS(on)}$是這兩款MOSFET的一大亮點(diǎn)。低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,器件的功率損耗更小,發(fā)熱也更低,有助于提高電路的效率和穩(wěn)定性。這在對功耗要求較高的應(yīng)用中,如電池供電設(shè)備,顯得尤為重要。大家在實(shí)際應(yīng)用中,有沒有遇到過因?yàn)閷?dǎo)通電阻過高而導(dǎo)致發(fā)熱嚴(yán)重的情況呢?

低柵極閾值

低柵極閾值電壓使得器件在較低的柵源電壓下就能導(dǎo)通,降低了驅(qū)動電路的設(shè)計(jì)難度和功耗。對于一些低電壓供電的系統(tǒng),這一特性可以簡化電路設(shè)計(jì),提高系統(tǒng)的整體性能。

低輸入電容

低輸入電容可以減少柵極驅(qū)動電荷,從而降低開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度。在高頻開關(guān)應(yīng)用中,低輸入電容能夠顯著提高電路的效率和響應(yīng)速度。

ESD保護(hù)

柵極具備ESD保護(hù)功能,增強(qiáng)了器件的可靠性和抗干擾能力,減少了因靜電放電而導(dǎo)致器件損壞的風(fēng)險(xiǎn)。這對于在復(fù)雜電磁環(huán)境下工作的電路來說,是非常重要的。

應(yīng)用領(lǐng)域

低端負(fù)載開關(guān)

在許多電子設(shè)備中,需要對負(fù)載進(jìn)行開關(guān)控制。NTJD5121N和NVJD5121N的低導(dǎo)通電阻和快速開關(guān)特性,使其非常適合作為低端負(fù)載開關(guān)使用,能夠有效地控制負(fù)載的通斷,提高系統(tǒng)的可靠性和效率。

DC - DC轉(zhuǎn)換器

在降壓(Buck)和升壓(Boost)電路中,這兩款MOSFET可以作為開關(guān)管使用,實(shí)現(xiàn)電壓的轉(zhuǎn)換和調(diào)節(jié)。其低導(dǎo)通電阻和低開關(guān)損耗的特性,有助于提高DC - DC轉(zhuǎn)換器的效率和性能。

最大額定值

器件的最大額定值規(guī)定了其正常工作的邊界條件,超過這些值可能會導(dǎo)致器件損壞或性能下降。以下是一些關(guān)鍵的最大額定值參數(shù): 參數(shù) 符號 單位
漏源電壓 $V_{DSS}$ 60 V
柵源電壓 $V_{GS}$ ±20 V
連續(xù)漏極電流(穩(wěn)態(tài),$T_A = 25^{\circ}C$) $I_D$ 295 mA
脈沖漏極電流($t_p = 10\ \mu s$) $I_{DM}$ 900 mA
功率耗散(穩(wěn)態(tài),$T_A = 25^{\circ}C$) $P_D$ 250 mW
工作結(jié)溫和儲存溫度 $TJ, T{stg}$ -55 至 150 $^{\circ}C$

在設(shè)計(jì)電路時(shí),一定要確保器件的工作條件在這些最大額定值范圍內(nèi),否則可能會影響器件的壽命和性能。大家在設(shè)計(jì)時(shí),是如何確保器件工作在安全范圍內(nèi)的呢?

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓:$V{(BR)DSS}$在$V{GS} = 0\ V$,$I_D = 250\ \mu A$時(shí)為60 V,這表示在該條件下,器件能夠承受的最大漏源電壓。
  • 零柵壓漏電流:$I_{DSS}$在不同溫度下有不同的值,$T_J = 25^{\circ}C$時(shí)為1.0 $\mu A$,$T_J = 125^{\circ}C$時(shí)為500 $\mu A$。溫度升高會導(dǎo)致漏電流增大,這在高溫環(huán)境下的應(yīng)用中需要特別注意。

    導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓:$V{GS(TH)}$在$V{GS}=V_{DS}$,$I_D = 250\ \mu A$時(shí),最小值為1.0 V,典型值為1.7 V,最大值為2.5 V。這一參數(shù)決定了器件開始導(dǎo)通的柵源電壓范圍。
  • 漏源導(dǎo)通電阻:$R{DS(on)}$在不同的柵源電壓和漏極電流下有不同的值,如$V{GS}= 10\ V$,$I_D = 500\ mA$時(shí),典型值為1.0 $\Omega$,最大值為1.6 $\Omega$。導(dǎo)通電阻越小,器件在導(dǎo)通狀態(tài)下的功率損耗越小。

熱阻額定值

熱阻是衡量器件散熱能力的重要參數(shù)。NTJD5121N和NVJD5121N的熱阻參數(shù)如下: 參數(shù) 符號 單位
結(jié)到環(huán)境熱阻(穩(wěn)態(tài)) $R_{\theta JA}$ 467 $^{\circ}C/W$
結(jié)到環(huán)境熱阻($t\leq5s$) $R_{\theta JA}$ 412 $^{\circ}C/W$
結(jié)到引腳熱阻(穩(wěn)態(tài)) $R_{\theta JL}$ 252 $^{\circ}C/W$

在設(shè)計(jì)散熱方案時(shí),需要根據(jù)這些熱阻參數(shù)來計(jì)算器件的溫度上升,確保器件在安全的溫度范圍內(nèi)工作。

典型性能曲線

文檔中給出了多個(gè)典型性能曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻與漏極電流和溫度的關(guān)系等。這些曲線能夠幫助我們更直觀地了解器件在不同工作條件下的性能表現(xiàn)。例如,通過導(dǎo)通電阻與溫度的關(guān)系曲線,我們可以預(yù)測在不同溫度下器件的導(dǎo)通電阻變化,從而優(yōu)化電路設(shè)計(jì)。大家在實(shí)際設(shè)計(jì)中,會經(jīng)常參考這些性能曲線嗎?

訂購信息

部件編號 標(biāo)記(XX) 封裝 包裝
NTJD5121NT1G TF SC - 88(無鉛) 3000/卷帶
NTJD5121NT2G TF SC - 88(無鉛) 3000/卷帶
NVJD5121NT1G VTF SC - 88(無鉛) 3000/卷帶

在訂購器件時(shí),要根據(jù)實(shí)際需求選擇合適的部件編號和封裝形式。

機(jī)械尺寸和引腳分配

文檔中提供了器件的機(jī)械尺寸圖和引腳分配圖,以及不同風(fēng)格的引腳定義。在進(jìn)行PCB設(shè)計(jì)時(shí),需要根據(jù)這些信息來確定器件的封裝尺寸和引腳布局,確保器件能夠正確安裝和焊接。同時(shí),還要注意尺寸公差和一些特殊要求,如模具飛邊、引腳扁平部分的尺寸等。

總結(jié)

NTJD5121N和NVJD5121N MOSFET以其低導(dǎo)通電阻、低柵極閾值、低輸入電容和ESD保護(hù)等特性,在低端負(fù)載開關(guān)和DC - DC轉(zhuǎn)換器等應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢。在設(shè)計(jì)電路時(shí),我們需要根據(jù)器件的最大額定值、電氣特性、熱阻參數(shù)等進(jìn)行合理的選型和設(shè)計(jì),同時(shí)參考典型性能曲線來優(yōu)化電路性能。希望通過本文的介紹,大家對這兩款MOSFET有了更深入的了解,在實(shí)際設(shè)計(jì)中能夠更好地應(yīng)用它們。大家在使用MOSFET時(shí),還遇到過哪些問題或有什么經(jīng)驗(yàn)可以分享呢?歡迎在評論區(qū)留言交流。

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