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安森美SiC MOSFET NTBG025N065SC1:高效能與可靠性的完美結(jié)合

h1654155282.3538 ? 來(lái)源:未知 ? 作者:陳翠 ? 2025-12-05 16:35 ? 次閱讀
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安森美SiC MOSFET NTBG025N065SC1:高效能與可靠性的完美結(jié)合

作為電子工程師,我們?cè)谠O(shè)計(jì)中常常追求高性能、高可靠性的電子元件。今天,我將為大家詳細(xì)介紹安森美(onsemi)的一款碳化硅(SiC)MOSFET——NTBG025N065SC1,它在開(kāi)關(guān)電源、太陽(yáng)能逆變器等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。

文件下載:onsemi NTBG025N065SC1 19mohm碳化硅MOSFET.pdf

產(chǎn)品特性

低導(dǎo)通電阻與低電容

這款MOSFET具有極低的導(dǎo)通電阻,典型值在不同柵源電壓下表現(xiàn)出色:在$V{GS}=18V$時(shí),$R{DS(on)}=19m\Omega$;在$V{GS}=15V$時(shí),$R{DS(on)}=25m\Omega$。同時(shí),它的輸出電容$C_{oss}$僅為$278pF$,這有助于降低開(kāi)關(guān)損耗,提高電源轉(zhuǎn)換效率。大家可以思考一下,在實(shí)際應(yīng)用中,低導(dǎo)通電阻和低電容能為我們的電路帶來(lái)哪些具體的優(yōu)勢(shì)呢?

低柵極電荷與雪崩測(cè)試

NTBG025N065SC1的總柵極電荷$Q_{G(tot)}$為$164nC$,這使得它在開(kāi)關(guān)過(guò)程中能夠快速響應(yīng),減少開(kāi)關(guān)時(shí)間。而且,該器件經(jīng)過(guò)了100%雪崩測(cè)試,保證了在極端條件下的可靠性,能夠承受一定的能量沖擊。

寬溫度范圍與環(huán)保特性

它的工作結(jié)溫范圍為$-55^{\circ}C$至$+175^{\circ}C$,能夠適應(yīng)各種惡劣的工作環(huán)境。同時(shí),產(chǎn)品符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),環(huán)保無(wú)污染。

最大額定值

參數(shù) 符號(hào) 單位
漏源電壓 $V_{DSS}$ 650 V
柵源電壓 $V_{GS}$ -8/+22 V
推薦柵源電壓 $V{GS{op}}$ -5/+18 V
連續(xù)漏極電流($T_{c}=25^{\circ}C$) $I_{D}$ 106 A
功率耗散($T_{c}=25^{\circ}C$) $P_{D}$ 395 W
連續(xù)漏極電流($T_{c}=100^{\circ}C$) $I_{D}$ 75 A
功率耗散($T_{c}=100^{\circ}C$) $P_{D}$ 197 W
脈沖漏極電流($T_{c}=25^{\circ}C$) $I_{DM}$ 284 A
工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍 $T{J}, T{stg}$ -55 至 +175 $^{\circ}C$
源極電流(體二極管 $I_{S}$ 83 A
單脈沖漏源雪崩能量($L = 11.2A_{pk}, L = 1mH$) $E_{AS}$ 62 mJ
焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼1/8處,10秒) $T_{L}$ 260 $^{\circ}C$

需要注意的是,超過(guò)最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。而且,實(shí)際應(yīng)用中的熱阻會(huì)受到多種因素的影響,并非固定值。

熱特性與電氣特性

熱特性

參數(shù) 符號(hào) 典型值 最大值 單位
結(jié)到殼熱阻 $R_{\theta JC}$ 0.38 $^{\circ}C/W$
結(jié)到環(huán)境熱阻 $R_{\theta JA}$ 40 $^{\circ}C/W$

電氣特性

關(guān)斷特性

包括漏源擊穿電壓、擊穿電壓溫度系數(shù)、零柵壓漏極電流和柵源泄漏電流等參數(shù),這些參數(shù)反映了器件在關(guān)斷狀態(tài)下的性能。例如,漏源擊穿電壓$V{(BR)DSS}$在$V{GS}=0V$,$I_{D}=1mA$時(shí)為650V。

導(dǎo)通特性

柵極閾值電壓$V{GS(TH)}$在$I{D}=15.5mA$時(shí),范圍為1.8V至4.3V。推薦柵極電壓$V{GOP}$為 -5V至 +18V。漏源導(dǎo)通電阻$R{DS(on)}$在不同的柵源電壓和結(jié)溫下有不同的值,如在$V{GS}=18V$,$I{D}=45A$,$T_{J}=25^{\circ}C$時(shí),典型值為19mΩ。

電荷、電容與柵極電阻

輸入電容$C{iss}$為3480pF,輸出電容$C{oss}$為278pF,總柵極電荷$Q_{G(tot)}$為164nC等。這些參數(shù)對(duì)于理解器件的開(kāi)關(guān)特性和動(dòng)態(tài)性能非常重要。

開(kāi)關(guān)特性

包括開(kāi)通延遲時(shí)間、上升時(shí)間、關(guān)斷延遲時(shí)間、下降時(shí)間以及開(kāi)關(guān)損耗等。例如,開(kāi)通延遲時(shí)間$t{d(on)}$為17ns,總開(kāi)關(guān)損耗$E{TOT}$為177mJ。

源漏二極管特性

連續(xù)源漏二極管正向電流$I{SD}$在$V{GS}=-5V$,$T = 25^{\circ}C$時(shí)為83A,脈沖源漏二極管正向電流$I_{SDM}$為284A。同時(shí),還給出了反向恢復(fù)時(shí)間、反向恢復(fù)電荷等參數(shù)。

典型應(yīng)用

該MOSFET適用于多種典型應(yīng)用,如開(kāi)關(guān)模式電源(SMPS)、太陽(yáng)能逆變器、不間斷電源(UPS)和儲(chǔ)能系統(tǒng)等。在這些應(yīng)用中,它的高性能和可靠性能夠?yàn)橄到y(tǒng)帶來(lái)更好的性能和穩(wěn)定性。

封裝與訂購(gòu)信息

NTBG025N065SC1采用D2PAK - 7L封裝,每盤800個(gè)。對(duì)于封裝尺寸,文檔中也給出了詳細(xì)的表格,包括各個(gè)尺寸的最小值、標(biāo)稱值和最大值。

總結(jié)

安森美NTBG025N065SC1碳化硅MOSFET具有低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷、寬溫度范圍等諸多優(yōu)點(diǎn),在開(kāi)關(guān)電源、太陽(yáng)能等領(lǐng)域有著廣闊的應(yīng)用前景。作為電子工程師,我們?cè)谠O(shè)計(jì)時(shí)需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,合理選擇和使用該器件,并充分考慮其各項(xiàng)參數(shù)和特性,以確保電路的性能和可靠性。大家在實(shí)際應(yīng)用中是否遇到過(guò)類似器件的選型和使用問(wèn)題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。

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