動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2022-04-08 14:53
光學(xué)表面輪廓儀優(yōu)勢(shì)
3D形貌地圖配合色譜圖，非常直觀，但橫向測(cè)試范圍，縱向高度尺度也很關(guān)鍵。在超精密加工中，3DAOI（自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)）是對(duì)傳統(tǒng)精密加工上的升級(jí)，彌補(bǔ)了傳統(tǒng)AOI由于2D成像原理上的一些缺陷，改進(jìn)設(shè)備性能以滿足各大電子廠對(duì)質(zhì)量和產(chǎn)品能得雙重要求。拋開光學(xué)光學(xué)表面輪廓儀格實(shí)惠不說，基于白光干涉原理而研發(fā)生產(chǎn)的SuperViewW1系列能以非接觸的方式，無損檢測(cè)精密機(jī)1.2k瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-07 15:35
白光干涉儀測(cè)量工件
產(chǎn)品型號(hào)：SuperView W1 臺(tái)階高測(cè)量：準(zhǔn)確度0.3%，重復(fù)性0.08% 1σ 粗糙度RMS重復(fù)性：0.005nm 水平調(diào)整：±5°手動(dòng)228瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-07 15:22
白光干涉儀在半導(dǎo)體的應(yīng)用
產(chǎn)品型號(hào)：SuperView W1 光學(xué)ZOOM：0.5×，（0.75×，1×可選） 干涉物鏡：10×，（2.5×，5×，20×，50×，100×可選） Z軸行程：100mm，電動(dòng)1.1k瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-07 14:55
白光干涉儀應(yīng)用實(shí)例
產(chǎn)品型號(hào)：SuperView W1 影像系統(tǒng)：1024×1024 光學(xué)ZOOM：0.5×，（0.75×，1×可選） XY平臺(tái)：尺寸320×200mm，行程140×110mm，電動(dòng)、手動(dòng)同722瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-07 14:39
白光干涉儀的應(yīng)用場(chǎng)景
產(chǎn)品型號(hào)：SuperView W1 XY平臺(tái)：尺寸320×200mm，行程140×110mm，電動(dòng)、手動(dòng)同 Z軸行程：100mm，電動(dòng) Z向掃描范圍：10mm555瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-06 17:48
國內(nèi)光學(xué)影像儀測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：CH系列 X軸行程范圍：（300-1200）mm Y軸行程范圍：（200-1500）mm Z軸行程范圍：200mm267瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-06 17:42
高配測(cè)量影像儀特點(diǎn)
產(chǎn)品型號(hào)：CH系列 X軸行程范圍：（300-1200）mm Y軸行程范圍：（200-1500）mm Z軸行程范圍：200mm380瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-06 17:35
全自動(dòng)光學(xué)影像量測(cè)儀
產(chǎn)品型號(hào)：CH系列 X軸行程范圍：（300-1200）mm Y軸行程范圍：（200-1500）mm Z軸行程范圍：200mm199瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2022-04-03 00:49
有圖晶圓關(guān)鍵尺寸及套刻量測(cè)系統(tǒng)助力半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展
有圖晶圓關(guān)鍵尺寸及套刻量測(cè)系統(tǒng)可對(duì)Wafer的關(guān)鍵尺寸進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)套刻偏移量的測(cè)量，以及Wafer表面3D形貌、粗糙度的測(cè)量，包括鐳射切割的槽寬、槽深等自動(dòng)測(cè)量。300*300mm真空吸附平臺(tái)，最大可支持12寸Wafer的自動(dòng)測(cè)量，配置掃描槍，可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)線的全自動(dòng)化生產(chǎn)需求。一.系統(tǒng)的布局結(jié)構(gòu)1.上料/下料區(qū)：Robot自動(dòng)抓取Wafer至尋邊器平臺(tái)；2.定位1.9k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2022-04-02 15:30
