動態(tài)
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上傳了資料 2025-05-09 13:34
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上傳了資料 2025-05-09 13:16
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上傳了資料 2025-05-09 13:13
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上傳了資料 2025-05-09 12:04
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發(fā)布了文章 2025-04-30 11:33
干簧繼電器在RF信號衰減中的應(yīng)用與優(yōu)勢
在電子測試領(lǐng)域,RF(射頻)評估是不可或缺的一部分。無論是研發(fā)階段的性能測試,還是生產(chǎn)環(huán)節(jié)的質(zhì)量檢測,RF測試設(shè)備都扮演著關(guān)鍵角色。然而,要實現(xiàn)精準(zhǔn)的RF評估,測試設(shè)備需要一種特殊的電路——衰減電路。這些電路的作用是調(diào)整RF信號的強度,以便測試設(shè)備能夠準(zhǔn)確地評估RF組件和RF電路的各個方面。衰減器的挑戰(zhàn)衰減器的核心功能是校準(zhǔn)RF信號的強度。為了實現(xiàn)這一點,衰 -
發(fā)布了文章 2025-04-23 16:39
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發(fā)布了文章 2025-04-23 16:14
集成電路測試中的關(guān)鍵角色:MEDER超微型繼電器
在當(dāng)今快速發(fā)展的科技時代,芯片設(shè)計人員正不斷突破極限,開發(fā)出體積更小、運行速度更快且擁有更多門電路的新型集成電路。這些芯片上的成百上千萬個門電路,每一個都需要經(jīng)過嚴(yán)格的測試,以確保其達到理想的運行效果。這不僅是一個復(fù)雜的過程,更是一個對速度和精度要求極高的挑戰(zhàn)。高成本的測試需求用于測試這些先進芯片的設(shè)備價值不菲,通常高達數(shù)千萬美元。這些測試設(shè)備日夜不停地工作908瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-04-10 16:55
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發(fā)布了文章 2025-04-07 16:38
干簧繼電器:芯片測試儀的“性能催化劑”
在集成電路(IC)制造領(lǐng)域,測試環(huán)節(jié)是確保芯片性能和可靠性的重要步驟。然而,測試過程往往伴隨著高昂的成本和復(fù)雜的設(shè)備需求。本文將探討如何通過優(yōu)化接口電路板和干簧繼電器的使用,實現(xiàn)高效且經(jīng)濟的芯片測試。高成本的測試設(shè)備與優(yōu)化方案大多數(shù)集成電路和芯片制造商都擁有大型工廠,配備了數(shù)百臺先進的測試機。這些設(shè)備一周7天、每天24小時不間斷地運轉(zhuǎn),以確保芯片的質(zhì)量和性能848瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-04-03 16:39