動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-01-19 08:30

  第三代半導(dǎo)體碳化硅（SiC）行業(yè)研究報(bào)告：市場空間、未來展望、產(chǎn)業(yè)鏈深度梳理

  

  近年來，隨著5G、新能源等高頻、大功率射頻及電力電子需求的快速增長，硅基半導(dǎo)體器件的物理極限瓶頸逐漸凸顯，如何在提升功率的同時(shí)限制體積、發(fā)熱和成本的快速膨脹成為了半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)內(nèi)重點(diǎn)關(guān)注的問題，以碳化硅為首的第三代半導(dǎo)體材料在這一趨勢下逐漸從科研走向產(chǎn)業(yè)化，并成為替代部分硅基功率器件的明確趨勢。然而，目前行業(yè)仍存在一些挑戰(zhàn)和改進(jìn)的空間。未來需要對(duì)產(chǎn)業(yè)鏈各環(huán)節(jié)進(jìn)行

  SiC 半導(dǎo)體 檢測 碳化硅

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• 發(fā)布了文章 2023-11-17 09:26

  3D打?。褐匦露x制造業(yè)的未來

  

  在3D打印的過程中，精密測量技術(shù)起到重要作用，包括對(duì)原始設(shè)計(jì)模型的測量、實(shí)時(shí)監(jiān)測打印過程中的尺寸變化和形狀偏差，以及檢測打印成品的尺寸、形狀、表面粗糙度、平整度等參數(shù)是否符合要求。

  3D打印 位移傳感器 制造 白光干涉儀

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• 發(fā)布了文章 2023-11-16 16:28

  白光干涉儀測量光學(xué)鏡片的表面粗糙度、面形PV值、曲率半徑案例分享

  

  表面粗糙度、面形、曲率半徑等參數(shù)是影響光學(xué)鏡片品控與性能的重要因素，選擇一種精度高、速度快、操作簡便的檢測方法，能夠幫助降低光學(xué)鏡片的報(bào)廢率，進(jìn)一步提升光學(xué)鏡片產(chǎn)業(yè)的競爭力與核心技術(shù)。

  干涉儀 檢測 測量 白光干涉儀

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2023-11-15 11:33

  優(yōu)可測一鍵式投影測量儀-尺寸測量

  

  產(chǎn)品型號(hào)：FM-9030 是否進(jìn)口：否 測量精度：±1.5μm 拍攝元件：2000w像素 黑白CMOS

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2023-11-15 11:29

  優(yōu)可測一鍵式圖像尺寸測量儀-閃測儀

  

  產(chǎn)品型號(hào)：FM-9020 是否進(jìn)口：否 測量精度：±1.5μm 拍攝元件：2000萬像素 黑白CMOS

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2023-11-15 11:26

  優(yōu)可測一鍵式影像測量儀-閃測儀

  

  產(chǎn)品型號(hào)：FM-9005 是否進(jìn)口：否 測量精度：±1.5μm 拍攝元件：2000萬像素 黑白CMOS

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• 發(fā)布了文章 2023-10-26 16:26

  白光干涉儀、膜厚儀助力航空航天材料精密測量項(xiàng)目

  

  航空航天材料是指在航空航天領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用的材料，其主要特點(diǎn)是具有輕質(zhì)、高強(qiáng)度、耐高溫和耐腐蝕等性能。這些材料在航空航天領(lǐng)域中起著至關(guān)重要的作用，需要對(duì)航空航天材料進(jìn)行精密檢測。優(yōu)可測助力航空航天材料科研，密切關(guān)注航空航天事業(yè)發(fā)展。

  工業(yè) 測厚儀 測量

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• 發(fā)布了文章 2023-10-18 12:01

  金手指彈片高度快速精確檢測方案

  

  連接器金手指是一種常見的電子元器件，用于連接電子設(shè)備的電路板和其他電子設(shè)備。3D線激光測量儀可精確檢測金手指彈片尺寸和高度等數(shù)據(jù)，以確保產(chǎn)品符合設(shè)計(jì)要求把控產(chǎn)品質(zhì)量，提升產(chǎn)品性能，減少客訴。

  檢測 線激光 連接器 金手指

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• 發(fā)布了文章 2023-10-10 08:44

  微流控芯片的粗糙度、高度寬度、空氣層厚度等，用什么儀器測量？

  

  隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展與醫(yī)療需求的逐漸增多，對(duì)微流控技術(shù)要求與微流控芯片種類需求也不斷增多。優(yōu)可測持續(xù)關(guān)注微流控技術(shù)發(fā)展，以高效、高精度的微觀測量技術(shù)，推動(dòng)微流控技術(shù)革新，精準(zhǔn)助力生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等行業(yè)的發(fā)展與進(jìn)步。

  儀器 測量 芯片

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• 發(fā)布了文章 2023-09-26 18:56

  白光干涉儀在金剛石wafer三維形貌測量中的應(yīng)用

  

  金剛石 wafer的檢測需求主要包括表面粗糙度、平面度、缺陷檢測、厚度尺寸等方面。為了確保產(chǎn)品的質(zhì)量和性能，需要對(duì)其進(jìn)行全面的檢測和分析。優(yōu)可測擁有亞納米級(jí)超高精度白光干涉儀，可對(duì)金剛石wafer的表面粗糙度、平面度、三維形貌進(jìn)行精確測量。

  儀器 測量 白光干涉儀

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