動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2026-01-15 18:03

  四探針法測量Ti-Al-C薄膜的電阻率

  

  Ti-Al-C薄膜作為質(zhì)子交換膜燃料電池（PEMFC）金屬雙極板表面改性材料，其導電性能直接影響電池堆的輸出效率，電阻率是評估該性能的核心指標。本文基于中頻磁控濺射制備的Ti-Al-C薄膜，采用Xfilm埃利四探針技術對不同基底（不銹鋼316L、石英片）、不同制備溫度（500-750℃）的薄膜電阻率進行測量，分析溫度對薄膜電阻率的影響規(guī)律，為Ti-Al-C薄

  測量 電阻率 薄膜

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• 發(fā)布了文章 2026-01-08 18:02

  二探針與四探針電阻測量法的區(qū)別

  

  在半導體材料與器件的研發(fā)與制備過程中，準確測量其電學參數(shù)（如方阻、電阻率等）是評估材料質(zhì)量和器件性能的基礎。電阻率作為材料的基本電學參數(shù)之一，其測量方法的選取直接影響結果的可靠性。在多種電阻測量方法中，二探針法和四探針法是兩種常用且具有代表性的技術。本文Xfilm埃利將系統(tǒng)梳理并比較這兩種方法的原理、特點與應用差異。二探針法/Xfilm（a）兩探針法測試示意

  四探針 測量 電阻

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• 發(fā)布了文章 2026-01-04 18:04

  四探針電阻測試 | CuNiC 三元合金的導電性能研究

  

  在電子材料領域，銅基合金因高導電性和低成本備受關注，但其易氧化特性限制了應用。CuNiC三元合金通過引入鎳和碳，在提升抗氧化性的同時保持良好導電性，為高溫、高穩(wěn)定性的電子器件提供了新材料選項。本研究采用碳熱還原法制備不同配比的CuNiC合金，結合Xfilm埃利的四探針電阻測試技術，系統(tǒng)研究其導電性能與微觀結構的關系，以拓展其在功能性電子材料中的應用。四探針電

  導電 測試

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• 發(fā)布了文章 2025-12-25 18:05

  基于四探針電阻測試的CuC 合金的導電性能研究

  

  在導電金屬材料體系中，銅（Cu）以卓越導電性及遠低于金、銀的成本優(yōu)勢，成為電子漿料、催化等領域貴金屬替代潛力材料。但納米銅表面活性高，易氧化形成絕緣層，嚴重限制實際應用。因此，行業(yè)多通過合金化改性銅材料，利用組分協(xié)同效應賦予其優(yōu)于單一金屬的獨特性能。本研究聚焦CuC合金，采用碳熱還原法合成，借助Xfilm埃利的四探針技術系統(tǒng)測試導電性能，為開發(fā)高性能低成本銅

  導電 材料 電阻測試

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• 發(fā)布了文章 2025-12-18 18:06

  四探針法在薄膜電阻率測量中的優(yōu)勢

  

  薄膜電阻率是材料電學性能的關鍵參數(shù)，對其準確測量在半導體、光電及新能源等領域至關重要。在眾多測量技術中，四探針法因其卓越的精確性與適用性，已成為薄膜電阻率測量中廣泛應用的標準方法之一。下文，Xfilm埃利將系統(tǒng)闡述四探針法的基本原理，重點分析其在薄膜電阻率測量中的核心優(yōu)勢，并結合典型應用說明其重要價值。四探針法的基本原理/Xfilm四探針法的原理四探針法的理

  測量 電阻率

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• 發(fā)布了文章 2025-12-04 18:08

  四探針法測電阻的原理與常見問題解答

  

  四探針法是廣泛應用于半導體材料、薄膜、導電涂層及塊體材料電阻率測量的重要技術。該方法以其無需校準、測量結果準確、對樣品形狀適應性強等特點，在科研與工業(yè)檢測中備受青睞。在許多標準電阻率測定場合，四探針法甚至被用作校正其他方法的基準。下文，Xfilm埃利將系統(tǒng)闡述四探針法的基本原理，并對實際應用中遇到的常見問題進行詳細解答。四探針法測電阻的基本原理/Xfilm1

  測量 電阻

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• 發(fā)布了文章 2025-11-27 18:04

  基于四點探針法測量石墨烯薄層電阻的IEC標準

  

  自石墨烯在實驗室中被成功分離以來，其基礎研究與工業(yè)應用迅速發(fā)展。亟需建立其關鍵控制特性的標準測量方法。國際電工委員會發(fā)布的IECTS62607-6-8:2023技術規(guī)范，確立了使用四點探針法評估單層石墨烯薄層電阻（RsRs）的標準化流程。Xfilm埃利四探針方阻儀作為符合該標準要求的專業(yè)測量設備，可為石墨烯薄層電阻的精確測量提供可靠的解決方案。本文介紹了支撐

  IEC 測量 電阻

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• 發(fā)布了文章 2025-11-20 18:03

  基于四探針測量的 BiFeO?疇壁歐姆響應研究

  

  導電疇壁（DWs）是新型電子器件的關鍵候選結構，但其納米尺度與宿主材料高電阻特性導致電學表征困難。Xfilm埃利四探針方阻儀可助力其電阻精確測量，本文以四探針測量技術為核心，采用亞微米級多點探針（MPP），實現(xiàn)BiFeO?（BFO）薄膜鐵彈/鐵電71°疇壁的無損、無光刻面內(nèi)輸運測量，并給出了其電阻率的首次四探針測量值。四探針與二探針配置/Xfilm使用繼電器

  測量 電子器件

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• 發(fā)布了文章 2025-11-13 18:05

  鋰電池嵌入電極顆粒的傳輸線法TLM 模擬研究

  

  在鋰離子電池研發(fā)與性能評估中，精確表征材料內(nèi)部的離子傳輸行為至關重要。Xfilm埃利的TLM接觸電阻測試儀廣泛用于測量電極材料，為電池阻抗分析提供關鍵數(shù)據(jù)。本文系統(tǒng)提出了一種用于描述電池內(nèi)部活性顆粒中鋰離子擴散行為的傳輸線模型TLM。該模型通過有限體積法離散化擴散方程，構建出具有明確物理意義的等效電路，不僅能與TLM測試儀所獲得的實驗數(shù)據(jù)形成互補，更能從微觀

  TLM 電極 鋰電池

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• 發(fā)布了文章 2025-11-06 18:04

  基于微四探針測量的熱電性能表征

  

  隨著電子器件尺寸持續(xù)縮小，熱管理問題日益突出。熱電材料的三項關鍵參數(shù)——電導率（σ）、熱導率（κ）和塞貝克系數(shù)（α），共同決定了器件的熱電優(yōu)值（ZT），進而影響其能效與可靠性。四探針技術因其高空間分辨率、無損接觸和快速測量等優(yōu)勢常應用于電導率測量，Xfilm埃利四探針方阻儀是電導率測量的重要設備。本文將解析基于諧波電壓分析的微四探針方法，旨在通過單一測量同時

  測量 電壓 電導率

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