昊衡科技文章

• 【2024光連接大會】國產(chǎn)OFDR設備助力光模塊檢測2024-06-08 08:17

  

  當前，AI技術(shù)的大規(guī)模應用加速推動了光模塊需求的釋放。相應的，針對高密度、穩(wěn)定可靠的高速光互聯(lián)技術(shù)迎來重大機遇和挑戰(zhàn)。隨著光模塊速率越來越高，其內(nèi)部光電互聯(lián)結(jié)構(gòu)越來越復雜，需要測量的參數(shù)逐漸變多，常規(guī)測量方法已逐漸不能滿足全部測量需求。而高精度分布式的光頻域測量技術(shù)將填補常規(guī)設備不能測到的參量空白，補全高速光互聯(lián)、硅光芯片、光纖鏈路、耦合對接等各方面的測試標

  光模塊 光連接 檢測 設備 741瀏覽量

• 光連接大會邀請函：昊衡科技誠邀您共赴光通信行業(yè)盛會2024-06-05 08:17

  

  大會介紹INTRODUCTION光纖在線、和弦產(chǎn)業(yè)研究中心主辦的光通信行業(yè)年度盛會--第九屆光連接大會CFCF2024(ChinaFiberConnectForum)將于2024年6月23~25日在中國·蘇州舉辦。本屆大會以“光連萬物，多彩未來”為主題，立足于光網(wǎng)絡基礎建設，基于光網(wǎng)絡、光器件、光模塊、光電芯片的技術(shù)發(fā)展路徑，向光通信電信、數(shù)據(jù)中心、邊緣云計

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• 昊衡科技推出OLI低成本光學鏈路診斷儀，助力光模塊產(chǎn)線檢測2024-05-11 08:17

  

  INTRODUCTIONAI時代下，數(shù)據(jù)量需求的爆炸式增長推動著光通信系統(tǒng)不斷升級更新。作為光通信產(chǎn)業(yè)鏈中的核心組件，光收發(fā)模塊的性能優(yōu)劣十分重要。隨著產(chǎn)品速率與集成度的不斷提高，終端用戶對光器件、光模塊的質(zhì)量把控更加嚴格。為了在這樣的環(huán)境中脫穎而出，品質(zhì)把控成為企業(yè)生存和發(fā)展的關(guān)鍵?；诖耍缓饪萍纪瞥鲎匝械腛LI低成本光學鏈路診斷儀，其原理基于光學相干檢

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• OLI測試范圍升級至-100dB2024-01-12 08:17

  

  今天小編來跟大家探討下我司推出的OLI光纖微裂紋檢測儀。首先理解下OLI的原理，OLI其原理基于白光干涉，可以簡單理解為，設備出光光源為白光，該光源分為兩路，一路在設備內(nèi)部作為參考光，一路進入待測器件作為信號光，參考光和信號光在相同光程的地方會發(fā)生干涉，且誤差在百微米內(nèi)，這也意味著OLI有著超高的定位精度。OLI讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范

  檢測儀 測試 測量 702瀏覽量

• 如何利用OLI進行產(chǎn)線自動化檢測？-閾值判斷功能介紹2024-01-06 08:17

  

  今天小編來跟大家分享，我們?yōu)楣饫w微裂紋檢測儀（OLI）用于產(chǎn)線自動化檢測做的定制功能，合格閾值判斷。簡單來說就是使用設備檢測產(chǎn)品是否合格，需要人為給設備定義合格標準，該標準就是設備正常運行自動判別程序的合格閾值。光纖微裂紋檢測儀（OLI）通過檢測光鏈路的回波光強大小判定此段鏈路是否有異?；蛘咛厥饨Y(jié)構(gòu)（如：微裂紋、波導耦合點、法蘭連接點、鏈路末端端面、光纖彎折

  soli 檢測儀 自動化檢測 861瀏覽量

• 光纖微裂紋檢測儀適用于產(chǎn)線的多通道測試2023-12-02 08:17

  

  單通道能否滿足產(chǎn)線測試呢？顯然是不能的。以光模塊廠家為例，一個光模塊可能有多個通道，每個通道都需要檢測。使用單通道測試，一個器件就需要反復插拔多次、掃描多次、保存多次結(jié)果，這樣效率太低了，顯然產(chǎn)線不會接受這種方式。OLI支持產(chǎn)線多通道測試，一次就能掃描完一個光模塊，極大節(jié)省測試時間。當前OLI（光纖微裂紋檢測儀）標準版支持12通道測試，用戶也可根據(jù)需求定制更

  光纖 檢測儀 模塊 測試 729瀏覽量

• OLI 光纖微裂紋檢測儀介紹2023-09-15 08:19

  

  今天小編來跟大家探討下我司推出的OLI光纖微裂紋檢測儀。首先理解下OLI的原理，OLI其原理基于白光干涉，可以簡單理解為，設備出光光源為白光，該光源分為兩路，一路在設備內(nèi)部作為參考光，一路進入待測器件作為信號光，參考光和信號光在相同光程的地方會發(fā)生干涉，且誤差在百微米內(nèi)，這也意味著OLI有著超高的定位精度。OLI讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范

  光纖 檢測儀 白光干涉儀 1131瀏覽量

• OLI測試硅光芯片耦合質(zhì)量2023-08-05 08:21

  

  硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規(guī)模集成技術(shù)。光纖到硅基耦合是芯片設計十分重要的一環(huán)，耦合質(zhì)量決定著集成硅光芯片上光信號和外部信號互聯(lián)質(zhì)量，耦合過程中最困難的地方在于兩者光模式尺寸不匹配，硅光芯片中光模式約為幾百納米，而光纖中則為幾個微米，幾何尺寸上巨大差異造成模場的嚴重失配。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對硅光芯片耦合質(zhì)量檢測非常有優(yōu)勢，以亞毫米級別的

  測試 硅光芯片 耦合 芯片 1411瀏覽量

• OLI測試硅光芯片內(nèi)部裂紋2023-07-31 23:04

  

  硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規(guī)模集成技術(shù)，能夠突破傳統(tǒng)電子芯片的極限性能，是5G通信、大數(shù)據(jù)、人工智能、物聯(lián)網(wǎng)等新型產(chǎn)業(yè)的基礎支撐。準確測量硅光芯片內(nèi)部鏈路情況，讓硅光芯片設計和生產(chǎn)都變得十分有意義。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對硅光芯片耦合質(zhì)量和內(nèi)部裂紋損傷檢測非常有優(yōu)勢，可精準探測到光鏈路中每個事件節(jié)點，具有靈敏度高、定位精準、穩(wěn)定性高、簡單易

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• 昊衡科技-OLI用于光纖彎曲檢測2023-06-30 10:04

  

  今天小編想跟大家探討一下，關(guān)于光纖的一個小細節(jié)問題：光纖是否可以彎曲？答案是可以的，但卻有一定的限制，不同的彎曲半徑、不同的光纖類型等，光纖彎曲特性的表征也會不一樣。光纖的傳播方式主要是全反射原理。光信號于光纖垂直端射入，在與光纖的軸心線重合時沿軸心線向前傳播，如果光纖的彎曲度過大，就會造成一部分的光信號無法通過而反射回去。昊衡科技推出的OLI光纖微裂紋檢測

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