金鑒實驗室文章

• 聚焦離子束技術(shù)：原理、應(yīng)用與展望2025-05-08 14:26

  

  聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam，簡稱FIB）作為一種前沿的微觀加工與分析技術(shù)，近年來在眾多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。金鑒實驗室憑借其專業(yè)的檢測技術(shù)和服務(wù)，成為了眾多企業(yè)在半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域的首選合作伙伴。FIB技術(shù)的基本原理聚焦離子束技術(shù)的核心在于將特定元素（如鎵元素）的離子化為帶正電的離子（Ga+），并通過電場加速使其獲得高能量。隨后，借助靜電透鏡系統(tǒng)

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• AEC-Q102認(rèn)證之器件可焊性2025-05-07 14:11

  

  可焊性測試在汽車電子中的關(guān)鍵地位在汽車電子行業(yè)，AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)為分立光電半導(dǎo)體元件的可靠性測試提供了全面而嚴(yán)格的規(guī)范。其中，可焊性測試作為核心環(huán)節(jié)之一，對于保障產(chǎn)品質(zhì)量和性能發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。汽車電子設(shè)備在運(yùn)行過程中需要面對復(fù)雜多變的工作環(huán)境，如高溫、高濕、振動等，而良好的可焊性是確保光電半導(dǎo)體器件與電路板之間實現(xiàn)可靠電氣連接和機(jī)械固定的基礎(chǔ)。只有

  AEC 汽車電子 認(rèn)證 173瀏覽量

• 雪崩二極管：汽車電子系統(tǒng)中的關(guān)鍵光檢測元件2025-05-06 15:06

  

  雪崩二極管的原理與結(jié)構(gòu)雪崩二極管（AvalanchePhotodiode，簡稱APD）是一種利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來放大光電信號的光檢測二極管。其核心原理是利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來放大光電信號。在高反向偏壓下工作時，光生載流子在強(qiáng)電場中獲得足夠的動能，與晶格碰撞產(chǎn)生新的電子-空穴對，從而實現(xiàn)載流子的雪崩倍增，顯著增加電流增益。這種倍增效應(yīng)使得APD在低光強(qiáng)條

  二極管 汽車電子 雪崩二極管 1136瀏覽量

• 聚焦離子束技術(shù)在透射電子顯微鏡樣品制備中的應(yīng)用2025-05-06 15:03

  

  聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的微觀加工與分析手段，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域。FIB核心原理是利用離子源產(chǎn)生高能離子束，通常以鎵（Ga）離子為主，部分設(shè)備還配備氦（He）或氖（Ne）離子源。離子束在轟擊樣品時，會產(chǎn)生濺射現(xiàn)象，從而實現(xiàn)材料的精準(zhǔn)去除，同時通過二次電子信號獲取樣品的形貌

  fib 電子顯微鏡 離子束 172瀏覽量

• FIB 技術(shù)在電池材料研究中的相關(guān)應(yīng)用2025-04-30 15:20

  

  橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束（FIB）技術(shù)對電池材料進(jìn)行精確切割，能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內(nèi)部不同層次的結(jié)構(gòu)特征，從而獲取材料在特定平面上的微觀信息。例如，通過橫截面分析可以清晰地觀察到不同成分的分布情況，了解各成分在材料內(nèi)部的相對位置和分布范圍；同時，還能觀察到相界面的形態(tài)，確定不同相之間的接觸關(guān)系

  fib TEM 電池材料 264瀏覽量

• AEC-Q102中WHTOL及H3TRB試驗的異同2025-04-29 17:28

  

  汽車電子行業(yè)中光電半導(dǎo)體的要求在汽車電子行業(yè)我們熟知的光電半導(dǎo)體器件可靠性是確保車輛安全和性能的關(guān)鍵因素之一。隨著汽車技術(shù)的進(jìn)步，這些器件不僅要在各種氣候條件下穩(wěn)定工作，還要承受來自車輛內(nèi)部和外部的多種應(yīng)力。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)為這些器件提供了一套全面的測試和評估程序，以確保它們能夠滿足汽車行業(yè)的嚴(yán)格要求。WHTOL測試的重要性AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)中的一個重

  AEC 半導(dǎo)體 試驗 258瀏覽量

• 元器件失效之推拉力測試2025-04-29 17:26

  

  元器件失效之推拉力測試在當(dāng)代電子設(shè)備的生產(chǎn)與使用過程中，組件的故障不僅可能降低產(chǎn)品的性能，還可能導(dǎo)致產(chǎn)品徹底失效，給用戶帶來麻煩和經(jīng)濟(jì)損失，同時對制造商的聲譽(yù)和成本也會造成負(fù)面影響。為什么要做推拉力測試？在電子元件的焊接、運(yùn)輸和使用過程中，它們經(jīng)常遭受到振動、沖擊以及彎曲等外部力量的干擾，這些力量可能在焊點(diǎn)或元件上產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力，進(jìn)而有可能導(dǎo)致焊點(diǎn)斷裂或元件損

  pcb PCB 元器件 推拉力測試機(jī) 293瀏覽量

• LED芯片質(zhì)量檢測技術(shù)之X-ray檢測2025-04-28 20:18

  

  X射線檢測在光電半導(dǎo)體領(lǐng)域，LED芯片作為核心技術(shù)，其質(zhì)量至關(guān)重要。隨著制造工藝的不斷進(jìn)步，LED芯片的結(jié)構(gòu)日益復(fù)雜，內(nèi)部潛在缺陷的風(fēng)險也隨之增加。盡管在常規(guī)工作條件下，這些缺陷可能不會明顯影響芯片的性能，但在高電流、高溫等極端環(huán)境下，它們可能引發(fā)功能失效，甚至導(dǎo)致整個LED系統(tǒng)損壞。因此，在LED芯片制造和應(yīng)用過程中，利用無損檢測技術(shù)對內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)檢查

  LED芯片 x-ray 檢測技術(shù) 285瀏覽量

• 鹵素檢測：PCB有鹵與無鹵的差異2025-04-28 20:17

  

  在當(dāng)代電子產(chǎn)業(yè)中，印制電路板（PCB）是核心組件之一，其材料與工藝的革新對電子設(shè)備的性能與可持續(xù)性有著深遠(yuǎn)影響。有鹵與無鹵PCB作為當(dāng)前市場上的兩大類，各自有著獨(dú)特的特性與應(yīng)用范圍。有鹵與無鹵PCB概述1.有鹵PCB有鹵PCB是指在生產(chǎn)過程中使用了含有鹵素（如氯、溴等）的阻燃劑。當(dāng)電路板遭遇高溫或燃燒時，這些阻燃劑會釋放鹵素氣體，從而有效抑制火焰的蔓延，起到

  pcb PCB 鹵素 檢測 686瀏覽量

• AEC-Q之高壓蒸煮試驗（PCT）2025-04-28 20:16

  

  在現(xiàn)代電子技術(shù)飛速發(fā)展的背景下，電子元件的性能和可靠性直接決定了各類設(shè)備的穩(wěn)定性和使用壽命。高壓蒸煮試驗（PCT）作為一種關(guān)鍵的測試手段，為評估電子元件在極端環(huán)境下的表現(xiàn)提供了科學(xué)依據(jù)。模擬極端環(huán)境的關(guān)鍵技術(shù)PCT試驗的核心在于模擬電子元件在實際使用中可能遭遇的高濕、高溫和高壓環(huán)境。通過將待測元件置于100%相對濕度（R.H.）的飽和蒸汽環(huán)境中，并施加一定的

  PCT 模擬電子 環(huán)境測試 282瀏覽量