吉時(shí)利 2400 數(shù)字源表：精密 I-V 測(cè)試的行業(yè)標(biāo)桿
產(chǎn)品定位與核心優(yōu)勢(shì)
吉時(shí)利 2400 是一款單通道 6? 位高精度數(shù)字源表 (SMU)，將精密電壓源、電流源、電壓表、電流表和歐姆表功能集成于一體，專為需要緊密結(jié)合源和測(cè)量的測(cè)試應(yīng)用設(shè)計(jì)。作為源表概念的開(kāi)創(chuàng)者，它已在全球?qū)嶒?yàn)室和生產(chǎn)線服役超過(guò) 25 年，提供200V/1A、20W的穩(wěn)定性能，特別適合半導(dǎo)體器件、無(wú)源元件和材料特性的精密測(cè)試。
技術(shù)規(guī)格精華
| 參數(shù) | 性能指標(biāo) | 應(yīng)用價(jià)值 |
|---|---|---|
| 電壓范圍 | ±200V (測(cè)量精度達(dá) 0.012%) | 覆蓋大多數(shù)電子元件測(cè)試需求 |
| 電流范圍 | ±10pA 至 ±1A (分辨率低至 1pA) | 可測(cè)從絕緣體到導(dǎo)體的全范圍器件 |
| 測(cè)量精度 | 0.012% 基本準(zhǔn)確度，6? 位分辨率 | 確保微小信號(hào)測(cè)量可靠性 |
| 四象限工作 | 可同時(shí)提供 / 吸收電壓和電流 | 支持二極管、晶體管等雙向特性測(cè)試 |
| 測(cè)量速度 | 最高2,000 讀數(shù) / 秒(緩沖模式) | 適合生產(chǎn)線快速測(cè)試 |
| 功率輸出 | 20W (連續(xù)) | 滿足大多數(shù)電子元件測(cè)試需求 |
| 遠(yuǎn)程測(cè)量 | 支持2/4/6 線感測(cè)，消除引線電阻影響 | 確保高精度測(cè)量，尤其適合低阻測(cè)試 |
| 通信接口 | GPIB、RS-232、USB | 便于自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)集成 |
核心功能與特點(diǎn)
1. 精密 I-V 測(cè)試引擎
- 六合一功能集成：電壓源 (V)、電流源 (I)、電壓表 (V)、電流表 (I)、歐姆表 (R) 和電子負(fù)載，單臺(tái)儀器替代傳統(tǒng)測(cè)試臺(tái)上的多臺(tái)設(shè)備
- 極低噪聲特性：電流噪聲低至fA 級(jí)，電壓噪聲低至μV 級(jí)，適合測(cè)量納米材料和低功耗器件
- 高精度源回讀：輸出值與測(cè)量值的偏差 < 0.1%，確保閉環(huán)控制精度
2. 靈活的掃描與測(cè)量能力
- 三種掃描模式：線性、對(duì)數(shù)和自定義，可自動(dòng)生成I-V 特性曲線
- 內(nèi)置測(cè)試序列器：存儲(chǔ)最多100 種測(cè)試配置，實(shí)現(xiàn)無(wú) PC 自動(dòng)化測(cè)試
- 通過(guò) / 失效比較器：可設(shè)置3 組閾值，測(cè)試速度達(dá)500μs / 點(diǎn)，適合生產(chǎn)線快速篩選
3. 四象限操作與高級(jí)測(cè)量
- 雙向能量流動(dòng)：可同時(shí)作為電源(提供能量) 和負(fù)載(吸收能量)，完美模擬器件實(shí)際工作狀態(tài)
- 6 線歐姆測(cè)量：消除接觸電阻和引線電阻影響，測(cè)量精度達(dá)0.01%
- 偏置補(bǔ)償功能：可消除測(cè)試夾具和電纜的寄生效應(yīng)，提高測(cè)量準(zhǔn)確度
應(yīng)用場(chǎng)景詳解
1. 半導(dǎo)體器件測(cè)試
- 二極管 / 晶體管特性：測(cè)量正向 / 反向特性、擊穿電壓和閾值電壓
- 集成電路測(cè)試：驗(yàn)證CMOS 器件、運(yùn)算放大器和穩(wěn)壓器的 I-V 特性
- 功率器件測(cè)試：測(cè)試MOSFET、IGBT的導(dǎo)通電阻和開(kāi)關(guān)特性
2. 材料科學(xué)研究
- 導(dǎo)電性測(cè)量：從金屬(低阻) 到絕緣體(高阻) 的全范圍材料測(cè)試
- 薄膜電阻測(cè)量：配合四探針技術(shù)，精確測(cè)量納米薄膜的方塊電阻
- 電化學(xué)測(cè)試：電池、燃料電池和傳感器的充放電特性分析
3. 無(wú)源元件與電路測(cè)試
- 電阻 / 電容 / 電感的精確測(cè)量與分選
- 連接器 / 開(kāi)關(guān)的接觸電阻測(cè)試
- PCB 阻抗測(cè)試，確保信號(hào)完整性
4. 顯示與光電器件
- LED/Laser 二極管的 I-V 特性與光功率相關(guān)性測(cè)試
- 液晶顯示器(LCD) 的閾值電壓測(cè)量
與同類(lèi)產(chǎn)品對(duì)比
2400 vs 2450 (圖形化系列)
| 特性 | 2400 標(biāo)準(zhǔn)系列 | 2450 圖形化系列 | 差異說(shuō)明 |
|---|---|---|---|
| 操作界面 | 按鍵 + 數(shù)碼管 | 觸摸屏+ 圖形界面 | 2450 操作更直觀，設(shè)置更快捷 |
| 通信方式 | GPIB、RS-232、USB | 增加以太網(wǎng)接口 | 2450 更適合遠(yuǎn)程監(jiān)控和自動(dòng)化系統(tǒng) |
| 電流分辨率 | 1pA | 10fA (部分量程) | 2450 在超微電流測(cè)量上更精確 |
| 價(jià)格定位 | 約 **$10,500** | 更高 | 2400 性價(jià)比更高，適合預(yù)算有限場(chǎng)景 |
| 產(chǎn)品定位 | 經(jīng)典型號(hào) | 新一代替代產(chǎn)品 | 2400 為行業(yè)標(biāo)桿，2450 為長(zhǎng)期投資選擇 |
使用要點(diǎn)
1. 測(cè)量設(shè)置優(yōu)化
- 低電平測(cè)量：?jiǎn)⒂?strong>保護(hù)模式和偏移補(bǔ)償，減小漏電流影響
- 高阻測(cè)量：選擇高阻模式(>10^9Ω)，并確保測(cè)試環(huán)境低濕度
- 四探針測(cè)量：使用Kelvin 連接消除接觸電阻，適合半導(dǎo)體晶圓和薄膜材料
2. 自動(dòng)化測(cè)試集成
- 使用KickStart 軟件(標(biāo)配) 快速設(shè)置測(cè)試，無(wú)需編程即可生成測(cè)試報(bào)告 Tektronix
- 通過(guò)SCPI 命令遠(yuǎn)程控制，可與LabVIEW、Python等自動(dòng)化平臺(tái)集成
- 利用觸發(fā)鏈路接口連接多臺(tái)儀器，實(shí)現(xiàn)同步測(cè)試，提高效率
總結(jié)
吉時(shí)利 2400 數(shù)字源表以高精度、多功能和可靠性成為電子測(cè)試領(lǐng)域的經(jīng)典之作，特別適合半導(dǎo)體研發(fā)、材料測(cè)試和生產(chǎn)線質(zhì)量控制。盡管已服役 25 年，其200V/1A/20W的核心性能和 **0.012%** 的測(cè)量精度仍能滿足大多數(shù)現(xiàn)代電子測(cè)試需求。
若預(yù)算有限且需要基礎(chǔ) SMU 功能，2400 是性價(jià)比之選；若追求長(zhǎng)期投資和更便捷操作，可考慮升級(jí)至2450 圖形化系列。無(wú)論哪種選擇，吉時(shí)利源表都能為您提供精確可靠的 I-V 測(cè)試解決方案，助力產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量控制。
開(kāi)啟送禮物
