日本santec多端口光功率計(jì)MPM-210H

MPM-210H / MPM-211、212、213、215

多端口光器件光學(xué)特性的高速測量

 

可進(jìn)行高速測量（每個端口最多 100 萬個記錄點(diǎn)）

一臺設(shè)備最多可測量20個端口（可同時使用多臺設(shè)備）

功率計(jì)模塊 (MPM-211 / 212/215)

電流表模塊 (MPM-213)

MPM-210H 非常適合對多端口光學(xué)組件（例如波長選擇開關(guān) (WSS) 和 AWG 模塊）進(jìn)行插入損耗和 WDL/PDL 測量。通過與配備功率監(jiān)視器輸出的可調(diào)光源（TSL 系列）組合，可以實(shí)時消除光源的光輸出波動，并進(jìn)行高精度的損耗測量。
有關(guān)光學(xué)表征系統(tǒng)的更多信息，請參閱掃描測試系統(tǒng) 。

特征

高速測量
每個
端口最多可進(jìn)行 100 萬點(diǎn)的記錄采樣 每個端口配備兩個存儲器，即使在記錄期間也可以讀取
最高 100 kHz 的高速采樣是可能的

高動態(tài)范圍
-80 ~ + 10dBm (MPM-211 / 212)
-70 ~ + 5dBm (MPM-215)

高動態(tài)范圍（在記錄模式下）
50dB / 掃描 (MPM-211 / 212)
70dB / 掃描 (MPM-215)

電流表模塊 (MPM-213)
輸入功率范圍 --70 至 + 10 dBmA

配備模擬輸出（MPM-212）

最多可安裝5個模塊（最多可同時測量20個端口）

波長范圍 1250-1650 nm

MPM-210H 是 MPM-210 的向上兼容型號

運(yùn)用

光功率測量

IL/WDL/PDL 測量（掃頻測試系統(tǒng)）