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測試信號(hào)電流低且可選擇：1μA~10mA·測量范圍寬：10μΩ~100kΩ·分辨率：10μΩ·接觸檢查功能·1kHz交流測量·測量速度高：34ms·內(nèi)設(shè)比較器·自動(dòng)測量方式

HP 4338B毫歐表

HP 4338B毫歐表是一臺(tái)精密、可靠、高速的測量儀器，用于低阻測量。 精密低阻測量　　在低電流電路中，機(jī)電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(hào)(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機(jī)電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關(guān)、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號(hào)消除了由熱電對(duì)被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號(hào)是檢查電池內(nèi)阻的最好方法，因?yàn)樗苊饬酥绷髂芰康南摹?高速測量　　高速(34ms)內(nèi)設(shè)比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動(dòng)處理器和外部計(jì)算機(jī)構(gòu)成一個(gè)測量系統(tǒng)，使生產(chǎn)測試時(shí)間縮短到最低限度。 自動(dòng)測量方式　　在進(jìn)行大量連續(xù)的測試、而測試信號(hào)電平又不是很主要的因素時(shí)，自動(dòng)測量功能會(huì)使儀器選擇合適的測試信號(hào)并設(shè)定測量范圍。

技術(shù)指標(biāo)

(全面的技術(shù)指標(biāo)請(qǐng)參閱技術(shù)資料)

測量功能測量參數(shù)：R(交流電阻)，X(電抗)，L(電感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°])組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只適用于串聯(lián)模式)數(shù)學(xué)功能：偏差和相對(duì)偏差(以百分比表示)顯示數(shù)字：3.4或5位(可選擇)測試信號(hào)特性測試頻率：1kHz頻率精度：±0.1%測試信號(hào)電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms電平精度：±(10%＋0.2μA)樣品兩端的最大電壓：在任何情況下最大為20mV峰值測量范圍　參數(shù)　　　測量范圍 R 10μΩ~100kΩ X,|Z| 10μΩ~100kΩ (典型值) L 10nH~10H(典型值)　θ　　　　 -180°~＋180°(典型值)測量精度：R的基本精度為±0.4%測量時(shí)間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結(jié)束測量(EOM)信號(hào)輸出的時(shí)間間隔模式　　時(shí)間(典型值)短　　　34ms中等　　70ms長　　　900ms修正功能短路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差比較功能對(duì)每個(gè)一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設(shè)立高/符合/低界限接觸檢查功能可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障其它功能疊加直流：在測量端可能給出±42Vdc(最大值)存儲(chǔ)/調(diào)用：可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器對(duì)10種儀器設(shè)置進(jìn)行存儲(chǔ)/調(diào) 用連續(xù)存儲(chǔ)功能：若儀器被切斷或發(fā)生電源故障，儀器設(shè)置將自動(dòng)被存 儲(chǔ)起來(在23±5℃時(shí)≤72小時(shí))HP-IB接口：所有控制設(shè)置、被測值和比較器信息處理器接口：所有輸出信號(hào)為負(fù)邏輯，光隔離開路集電極輸出信號(hào)包括：高/符合/低、變址，測量結(jié)束和告警。輸入信號(hào)是健鎖定和外觸發(fā)一般指標(biāo)電源要求：198~264V，47~66Hz,45VAmax工作溫度：0°~45℃尺寸：320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長)重量：4.5kg