Keithley6517B靜電計(jì)/吉時(shí)利6517B高阻表

吉時(shí)利6517B五位半靜電計(jì)提供 1fA 靈敏度，輸入阻抗 >200TΩ 的電壓測量，以及低至 10fC 的電荷測量。

6517B主要特性：
電流測量范圍1fA-20mA
最小電流量程輸入壓降<20μV
<3fA偏置電流
高達(dá)425rdgs/s
噪聲0.75fA p-p
內(nèi)置±1kV電源
獨(dú)特的高電阻測量電壓反接方法
可選的插件式掃描卡

吉時(shí)利6517B靜電計(jì)/高電阻/低電流

Keithley6517B靜電計(jì)

吉時(shí)利6517B特點(diǎn)：
。超低噪聲（6430 為 0.4fA p-p ，6517B 和 6514 <1fA）
。高達(dá) 10 16 ? 的電阻測量 (6517B)
。遠(yuǎn)程預(yù)放大器可以位于信號(hào)源 (6430)
。低輸入端壓降
。內(nèi)置 ±1kV 電壓源，提供掃描功能 (6517B)
。適用于測量試樣材料的體積和表面電阻的選配 8009 型電阻率測試盒 (6517B)
。即使在低電平信號(hào)上也能實(shí)現(xiàn)高測量速度
?？删幊虜?shù)字 I/O 和內(nèi)置接口

Keithley 6517B優(yōu)勢：
。確保對(duì)設(shè)備和材料研究中常見的超低電流實(shí)現(xiàn)更精確的測量。
。精確測量超高電阻材料和絕緣體。
。允許直接或短暫連接到信號(hào)源，較大限度地減少電纜噪聲等噪聲源。
。消除影響低電流測量精度的誤差。
。簡化了執(zhí)行泄漏、擊穿和電阻測試，以及對(duì)高電阻率材料執(zhí)行體積 (?-cm) 和表面電阻率 (?/square) 測量的過程。
。防止您接觸潛在危險(xiǎn)電壓 — 打開測試盒蓋子時(shí)自動(dòng)關(guān)閉儀器的電壓源。
。支持更快的低電平元器件測試。
。簡化構(gòu)建自動(dòng)化元器件測試系統(tǒng)的過程。

Keithley6517B是一個(gè)更新版本，取代了較早型號(hào)6517A(1996年推出)。Model 6517A的應(yīng)用軟件使用SCPI語言命令可以在Model 6517B上不做任何修改的運(yùn)行。不過，Model 6517B較Model 6517A提供了一些有益的改進(jìn)和升級(jí)，其內(nèi)部備份電池內(nèi)存緩沖區(qū)可以存儲(chǔ)多達(dá)50,000讀數(shù)，使用戶能夠記錄更長時(shí)間的測試結(jié)果，并存儲(chǔ)更多的數(shù)據(jù)和讀數(shù)。新的Model還可提供至內(nèi)部緩沖器（高達(dá)425讀數(shù)/秒的讀數(shù)率）以及通過IEEE總線至外部存儲(chǔ)器的更高讀數(shù)率（高達(dá)400讀數(shù)/秒的讀數(shù)率）。一些連接器的修改已列入解決現(xiàn)代連接和安全要求。

吉時(shí)利5?位顯示的6517B [1] 提供的精度和靈敏度指標(biāo)是高于其他同類型儀表。它豐富的功能使測量高阻和絕緣材料電阻率變得簡單。6517B具有425讀數(shù)/秒的讀數(shù)率，比同類型的靜電計(jì)顯著的快，可以提供快速、簡易的方式測量弱電流。

從三個(gè)敏感選項(xiàng)中選擇，實(shí)現(xiàn)精確的高阻抗和低電流測量。5? 位 6514 型和 6517B 型靜電計(jì)提供 1fA 靈敏度，輸入阻抗 >200TΩ 的電壓測量，以及低至 10fC 的電荷測量。6? 位 6430 型亞 fA 遠(yuǎn)程 SourceMeter SMU 儀器能夠以 1aA 的靈敏度測量電流。其噪聲低、偏差小，非常適用于研究單電子器件、高電阻納米線和納米管、聚合物以及電化學(xué)應(yīng)用。