--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 材質(zhì) 不銹鋼
- 內(nèi)箱尺寸 500*600*500MM
- 溫度范圍 -20~+150度
- 濕度范圍 20~98%R.H
- 電源 220V
--- 產(chǎn)品詳情 ---
平板電腦高低溫濕熱試驗箱 箱體采用數(shù)控機床加工成型,造型美觀大方,并采用無反作用把手,操作簡便。外箱采用SUS304#霧面線條處理不銹鋼板,內(nèi)箱采用進口不銹鋼SUS#304鏡面鋼板。外形設計美觀,各零部件安裝位置合理,靜電噴涂顏色能滿足客戶實驗室整體配套要求。

平板電腦高低溫濕熱試驗箱規(guī)格:
型 號 工作室尺寸(mm) 外箱尺寸(mm)
HL-80 400*500*400 950*1650*950
HL-150 500*600*500 1050*1750*1050
HL-225 600*750*500 1200*1900*1150
HL-408 600*800*850 1200*1950*1350
HL-800 1000*1000*800 1600*2000*1450
HL-1000 1000*1000*1000 1600*2100*1450
溫度范圍:A型:25℃~150℃;B型:0℃~150℃;C型:-20℃~150℃;D型:-40℃~150℃;E型:-60℃~150℃;F型:-70℃~150℃
濕度范圍:20%~98%RH
降溫速率:20℃~-70℃/85min(空載下)
升溫速率:20℃~+150℃/45min(空載下)
發(fā)熱負載:250W.(40℃,90%RH)
溫度穩(wěn)定度:±0.2℃
濕度穩(wěn)定度:±2%
平板電腦高低溫濕熱試驗箱滿足標準:
1、GB/T2423.1-2001低溫試驗方法;
2、GB/T2423.2-2001高溫試驗方法;
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N;
7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗;
8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗;
9、GJB367.2-87405溫度沖擊試驗。
10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式
11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式
12、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
10、GB/T2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則
11、GB/T2423.22-2002溫度變化
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則
13、EIA364-32熱沖擊(溫度循環(huán))



平板電腦高低溫濕熱試驗箱應用范圍:
平板電腦高低溫濕熱試驗箱又名高低溫濕熱試驗室、大型高低溫濕熱試驗箱、兩箱移動平板電腦高低溫濕熱試驗箱,用于電子電器零組件、自動化零部件通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具.
為了仿真不同電子構(gòu)件,在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴格測試環(huán)境,縮短測試時間,降低測試費用,但是須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為:TemperatureCycling或TemperatureCyclingTest也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。
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