E8362C
Agilent E8362C 網(wǎng)絡分析儀
主要特性與技術指標123 dB 的動態(tài)范圍和 <0.006 dB 的跡線噪聲<26 微秒/點的測量速度，32 個通道，20001 個測量點支持 TRL/LRM 校準，提供晶圓、夾具、波導和天線測量混頻器變頻損耗、回波損耗、隔離和群延遲放大器增益壓縮、諧波、IMD 和脈沖射頻
描述可進行通用網(wǎng)絡分析，并可使用可選的軟件和/或硬件定制分析解決方案，以滿足您的應用需求（例如多端口、脈沖射頻等）。
詳細：主要技術指標
94 dB 的動態(tài)范圍和<0.006 dB的跡線噪聲（技術指標為67 GHz，工作中可達到70 GHz）
<26 微秒/點的測量速度，32 個通道，20001 個測量點
支持TRL/LRM 校準，提供晶圓、夾具、波導和天線測量
混頻器變頻損耗、回波損耗、隔離和群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD 和脈沖射頻
Agilent E8361C PNA 系列微波網(wǎng)絡分析儀,10 MHz 至67 GHz
主要特性與技術指標
94 dB 的動態(tài)范圍和<0.006 dB的跡線噪聲（技術指標為67 GHz
，工作中可達到70 GHz）
<26 微秒/點的測量速度，32 個通道，20001 個測量點
支持TRL/LRM 校準，提供晶圓、夾具、波導和天線測量
混頻器變頻損耗、回波損耗、隔離和群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD 和脈沖射頻
Agilent E8362C PNA 系列微波網(wǎng)絡分析儀,10 MHz 至20 GHz
主要特性與技術指標
123 dB 的動態(tài)范圍和<0.006 dB 的跡線噪聲
26 微秒/點的測量速度，32 個通道，20001 個測量點
支持TRL/LRM 校準，提供晶圓、夾具、波導和天線測量
混頻器變頻損耗、回波損耗、隔離和群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD 和脈沖射頻
選項：
E8362C-010添加時間域功能
E8362C-014可配置的測試集甲板
E8362C-016接收器衰減器添加
E8362C-080頻率偏移
E8362C-081參考接收機開關
E8362C-082標量校準變頻器測量
E8362C-083頻率轉換器的測量應用軟件
E8362C-084嵌入式LO測量
E8362C-1A7 ISO 17025標準校準
E8362C-1CM機架安裝套件，安裝，無需處理
E8362C-1CP機架安裝套件安裝與處理
E8362C-301應用為使用標準CalPods的
為與溫度特征CalPods使用的E8362C-302應用
E8362C-550添加4端口測量應用軟件
E8362C-551增加了N端口校準測量
E8362C-897內置安捷倫包容性的校準性能測試軟件，許可證
E8362C-898內置的性能測試軟件，對符合標準的校準，許可證
E8362C-A6J符合ANSI Z540校準
E8362C-UK6商業(yè)校準證書的測試數(shù)據(jù)
E8362C-UNL與偏置T型擴展功率范圍
