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為微控制器軟件構(gòu)建有效的測(cè)試工具

2512957 2022-11-25 | pdf | 292.21KB | 次下載 | 免費(fèi)

資料介紹

嵌入式系統(tǒng)正變得更加智能、互聯(lián)且復(fù)雜得多。為了使嵌入式系統(tǒng)保持健壯并盡可能接近無(wú)錯(cuò)誤，開發(fā)團(tuán)隊(duì)需要有效的方法來(lái)測(cè)試和驗(yàn)證他們的系統(tǒng)是否按預(yù)期工作。最關(guān)鍵且通常最難測(cè)試的領(lǐng)域是在微控制器上運(yùn)行的軟件。嵌入式系統(tǒng)正變得更加智能、互聯(lián)且復(fù)雜得多。為了使嵌入式系統(tǒng)保持健壯并盡可能接近無(wú)錯(cuò)誤，開發(fā)團(tuán)隊(duì)需要有效的方法來(lái)測(cè)試和驗(yàn)證他們的系統(tǒng)是否按預(yù)期工作。最關(guān)鍵且通常最難測(cè)試的領(lǐng)域是在微控制器上運(yùn)行的軟件。由于難以在資源受限的設(shè)備上使用現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)，微控制器軟件測(cè)試通常落后于在基于應(yīng)用處理器的設(shè)備上執(zhí)行的測(cè)試。然而，調(diào)試技術(shù)的幾項(xiàng)新進(jìn)展與傳統(tǒng)的測(cè)試工具設(shè)計(jì)技術(shù)相結(jié)合，現(xiàn)在允許嵌入式系統(tǒng)開發(fā)人員更有效地測(cè)試他們的系統(tǒng)軟件。由于難以在資源受限的設(shè)備上使用現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)，微控制器軟件測(cè)試通常落后于在基于應(yīng)用處理器的設(shè)備上執(zhí)行的測(cè)試。然而，調(diào)試技術(shù)的幾項(xiàng)新進(jìn)展與傳統(tǒng)的測(cè)試工具設(shè)計(jì)技術(shù)相結(jié)合，現(xiàn)在允許嵌入式系統(tǒng)開發(fā)人員更有效地測(cè)試他們的系統(tǒng)軟件。本文將向開發(fā)人員展示如何使用這些新技術(shù)以及實(shí)現(xiàn)它們所需的設(shè)備和工具。本文將向開發(fā)人員展示如何使用這些新技術(shù)以及實(shí)現(xiàn)它們所需的設(shè)備和工具。嵌入式測(cè)試需求的變化嵌入式測(cè)試需求的變化現(xiàn)代嵌入式系統(tǒng)測(cè)試工具要求開發(fā)人員包括四個(gè)主要組件來(lái)全面測(cè)試他們的系統(tǒng)（圖 1）：現(xiàn)代嵌入式系統(tǒng)測(cè)試工具要求開發(fā)人員包括四個(gè)主要組件來(lái)全面測(cè)試他們的系統(tǒng)（圖 1）：具有跟蹤功能的調(diào)試器具有跟蹤功能的調(diào)試器通信適配器/嗅探器通信適配器/嗅探器邏輯分析儀邏輯分析儀模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)圖 1：測(cè)試嵌入式系統(tǒng)所需的各種接口和工具包括調(diào)試器、通信轉(zhuǎn)換器、邏輯分析儀和模數(shù)轉(zhuǎn)換器。（圖片來(lái)源：Beningo Embedded Group）圖 1：測(cè)試嵌入式系統(tǒng)所需的各種接口和工具包括調(diào)試器、通信轉(zhuǎn)換器、邏輯分析儀和模數(shù)轉(zhuǎn)換器。（圖片來(lái)源：Beningo Embedded Group）這四個(gè)組件允許開發(fā)人員在系統(tǒng)級(jí)、微控制器級(jí)以及微處理器執(zhí)行的指令中測(cè)試他們的嵌入式軟件。這在當(dāng)今的開發(fā)環(huán)境中至關(guān)重要，可以確保正在構(gòu)建的系統(tǒng)不僅滿足他們的要求，而且能夠可靠地運(yùn)行。這四個(gè)組件允許開發(fā)人員在系統(tǒng)級(jí)、微控制器級(jí)以及微處理器執(zhí)行的指令中測(cè)試他們的嵌入式軟件。這在當(dāng)今的開發(fā)環(huán)境中至關(guān)重要，可以確保正在構(gòu)建的系統(tǒng)不僅滿足他們的要求，而且能夠可靠地運(yùn)行。快速查看圖 1 可能看起來(lái)像一個(gè)非常傳統(tǒng)的嵌入式系統(tǒng)測(cè)試工具，但這些進(jìn)步和新功能實(shí)際上來(lái)自一種分析微控制器中發(fā)生的情況的新方法，稱為深度洞察分析。快速查看圖 1 可能看起來(lái)像一個(gè)非常傳統(tǒng)的嵌入式系統(tǒng)測(cè)試工具，但這些進(jìn)步和新功能實(shí)際上來(lái)自一種分析微控制器中發(fā)生的情況的新方法，稱為深度洞察分析。利用深度洞察分析來(lái)測(cè)試軟件