動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2023-04-13 17:52

  瑞芯微RK3568核心板強(qiáng)在何處？

  

  RK3568核心板是武漢萬(wàn)象奧科基于瑞芯微Rockchip的RK3568設(shè)計(jì)的一款高性能核心板。該處理器集成了最新的高性能CPU、GPU，并擁有豐富的接口，非常適用于工業(yè)自動(dòng)化控制、人機(jī)界面、中小型醫(yī)療分析器、電力等多種行業(yè)應(yīng)用。

  Linux RK3568 核心板 瑞芯微

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• 發(fā)布了文章 2023-04-12 14:53

  【萬(wàn)象奧科】RZ/G2UL網(wǎng)關(guān)內(nèi)存壓力測(cè)試

  

  內(nèi)存壓力測(cè)試的目的是測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)存的穩(wěn)定性和可靠性，以便確定系統(tǒng)是否能夠在各種負(fù)載情況下正常運(yùn)行。其主要目的有：

  測(cè)試 瑞薩 網(wǎng)關(guān)

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2023-04-03 17:06

  芯馳D9處理器核心模塊 四核Cortex-A55+Cortex-R5

  

  產(chǎn)品型號(hào)：D9

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• 上傳了資料 2023-04-03 10:30

  【數(shù)據(jù)手冊(cè)】GU2L-EVM評(píng)估板

  參數(shù) 嵌入式 評(píng)估板

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• 上傳了資料 2023-04-03 10:27

  【數(shù)據(jù)手冊(cè)】G2L開發(fā)板參數(shù)、接口定義、尺寸

  開發(fā)板 瑞薩

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• 發(fā)布了文章 2023-03-29 16:55

  超詳細(xì)!萬(wàn)象奧科親測(cè)8款不同品牌TF卡性能測(cè)試

  

  TF卡作為一種微型存儲(chǔ)卡，可以在手機(jī)、平板、相機(jī)等設(shè)備中存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。不同的TF卡有不同的容量和速度，可以滿足不同的需求。而對(duì)于開發(fā)板來說，TF卡的讀寫速度也直接影響了傳輸數(shù)據(jù)的快慢。如果TF卡的讀寫速度過慢，可能會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失，系統(tǒng)崩潰，文件損壞等問題。因此，選擇一款高品質(zhì)、高規(guī)格、高兼容性的TF卡是很必要的。

  TF卡 測(cè)試

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• 發(fā)布了文章 2023-03-28 15:43

  瑞薩G2UL工業(yè)核心板內(nèi)存測(cè)試,您想了解的內(nèi)容全都有

  

  武漢萬(wàn)象奧科HD-G2UL-CORE核心板支持512MB/1GB DDR4配置，本文檔主要評(píng)估測(cè)試核心板內(nèi)存512MB（DDR4）性能（讀寫速率）。

  內(nèi)存 內(nèi)存測(cè)試 工業(yè)級(jí)嵌入式 開發(fā)板 瑞薩

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• 發(fā)布了文章 2023-03-23 16:50

  瑞薩G2UL開發(fā)板-U盤讀寫速度測(cè)試

  

  U盤是一種便攜的存儲(chǔ)介質(zhì)，可以在不同設(shè)備之間傳輸數(shù)據(jù)和文件，也可以作為啟動(dòng)或擴(kuò)展設(shè)備，運(yùn)行、調(diào)試和測(cè)試不同的操作系統(tǒng)或應(yīng)用程序。要選擇合適的U盤來配合開發(fā)板進(jìn)行項(xiàng)目開發(fā)，則需要考慮容量、讀寫速度、接口類型、兼容性和可靠性等因素。

  U盤 開發(fā)板 瑞薩

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• 發(fā)布了文章 2023-03-21 17:38

  基于RZ/G2UL Cortex-A55開發(fā)板以太網(wǎng)打流測(cè)試方法

  

  為了保證以太網(wǎng)數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，需要進(jìn)行一些測(cè)試和優(yōu)化。其中一種常用的測(cè)試方法是iperf3：它是一種用于測(cè)量IP網(wǎng)絡(luò)上最大可達(dá)帶寬的工具，支持TCP、UDP等協(xié)議，并可以調(diào)節(jié)各種參數(shù)來模擬不同的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境。

  ARM Linux 以太網(wǎng) 瑞薩

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• 發(fā)布了文章 2023-03-20 17:11

  無懼高溫,穩(wěn)定運(yùn)行!RZ/G2UL工業(yè)級(jí)核心板

  

  評(píng)估測(cè)試RZ/G2UL核心板（未安裝散熱片和封閉外殼）高溫環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。這種測(cè)試可以模擬電子設(shè)備在高溫環(huán)境下運(yùn)行時(shí)可能會(huì)面臨的情況，如長(zhǎng)時(shí)間高負(fù)載運(yùn)行、溫度波動(dòng)等，以檢驗(yàn)產(chǎn)品的工作能力和可靠性。

  嵌入式 核心板 測(cè)試 瑞薩

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