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• 工業(yè)測量的兩大神器：輪廓儀和三坐標(biāo)測量機(jī)2023-11-02 11:23

  

  輪廓儀和三坐標(biāo)測量機(jī)雖然有所不同，但在工業(yè)測量領(lǐng)域中，它們同樣都具有自己鮮明的特點，有著各自的適用范圍和優(yōu)缺點。

  工業(yè) 測量 測量機(jī) 1222瀏覽量

• 晶圓表面形貌及臺階高度測量方法2023-11-02 11:21

  

  晶圓在加工過程中的形貌及關(guān)鍵尺寸對器件的性能有著重要的影響，而形貌和關(guān)鍵尺寸測量如表面粗糙度、臺階高度、應(yīng)力及線寬測量等就成為加工前后的步驟。以下總結(jié)了從宏觀到微觀的不同表面測量方法：單種測量手段往往都有著自身的局限性，實際是往往是多種測量方法配合使用。此外，除表面形貌和臺階測量外，在晶圓制程中需要進(jìn)行其他測量如缺陷量測、電性量測和線寬量測。通過多種測量方式

  3D 晶圓 測量 表面輪廓儀 1779瀏覽量

• 臺階儀能檢測哪些東西？主要應(yīng)用在哪些領(lǐng)域？2023-11-02 11:15

  

  臺階儀是一種常見的工業(yè)測量儀器，它能完成對微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。

  儀器 檢測 測量 1508瀏覽量

• 篩網(wǎng)孔徑測量方法，您了解多少？2023-11-01 08:08

  

  篩網(wǎng)是一種表面有均勻而穩(wěn)定的透氣孔、具有篩選和過濾作用的工業(yè)用品，常見的有金屬絲編織網(wǎng)和沖孔板篩網(wǎng)，廣泛用于新能源汽車、太陽能光伏、冶金、煤炭、橡膠、石油、化工、制藥、建材、糧油等行業(yè)。篩網(wǎng)有著嚴(yán)格的網(wǎng)孔尺寸規(guī)范，需要符合標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)可，篩網(wǎng)的線徑、網(wǎng)孔（尺寸規(guī)范）是否符合要求，需要專業(yè)的尺寸測量工具來檢測。1.目視測量法目視測量法是篩網(wǎng)孔徑大小測量中最常用的方法

  儀器 工業(yè) 測量 1856瀏覽量

• 白光干涉儀如何測曲面粗糙度特征2023-10-31 10:57

  

  針對葉片類曲面零部件，型號為W3的白光干涉儀能夠在空間范圍內(nèi)實現(xiàn)曲面全自動測量功能，解決其形狀不規(guī)則裝夾不便、測量點分布不在同一個面、單次測量效率低的問題。

  干涉儀 測量 白光干涉儀 精密儀器 2548瀏覽量

• 激光干涉儀檢測機(jī)床的方法（以線性檢測為例）2023-10-30 09:06

  

  本產(chǎn)品的加工定制是否，類型是激光干涉儀，品牌是中圖，型號是sj6000，品種是激光干涉儀，測量范圍是80m，用途是檢測和校準(zhǔn)機(jī)床三坐標(biāo)機(jī)等。如有疑問或需要更多詳細(xì)信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

  機(jī)床 檢測 激光干涉儀 998瀏覽量

• WD4000無圖晶圓檢測機(jī)：助力半導(dǎo)體行業(yè)高效生產(chǎn)的利器2023-10-25 13:31

  

  WD4000無圖晶圓檢測機(jī)集成厚度測量模組和三維形貌、粗糙度測量模組，非接觸厚度、三維維納形貌一體測量，使用一臺機(jī)器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形貌的測量，助力半導(dǎo)體行業(yè)高效生產(chǎn)！

  半導(dǎo)體 半導(dǎo)體晶圓 晶圓 檢測機(jī) 1177瀏覽量

• 臺階儀和輪廓儀區(qū)別是什么？2023-10-25 13:29

  

  臺階儀和輪廓儀在工業(yè)制造領(lǐng)域的區(qū)別和應(yīng)用領(lǐng)域解析測量和檢測是工業(yè)制造領(lǐng)域的重要環(huán)節(jié)，而臺階儀和輪廓儀則是各有其特點和應(yīng)用范圍的兩種儀器。臺階儀和輪廓儀區(qū)別在哪？一、臺階儀1、產(chǎn)品概述臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器。它是利用光學(xué)干涉原理，對微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。2、產(chǎn)品特點臺階儀在工業(yè)生產(chǎn)中，常用來保證產(chǎn)

  儀器 工業(yè) 測量儀器 表面輪廓儀 1582瀏覽量

• 一鍵式影像測量儀能測出什么？2023-10-24 16:28

  

  尺寸較小的產(chǎn)品及零部件需要批量測量時，一鍵式影像測量儀則是一個很好的選擇。一鍵式影像測量儀為企業(yè)打開了高精度、高效率測量的大門，并很大限度地為客戶簡化了測量過程。

  儀器 影像 測量儀 2383瀏覽量

• 一種晶圓表面形貌測量方法-WD40002023-10-24 09:42

  

  WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術(shù)測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等參數(shù)，同時生成Mapping圖；2、采用白光干涉測量技術(shù)對Wafer表面進(jìn)行非接觸式掃描同時建立表面3D層析圖像，顯示2D剖面圖和3D立體彩色視圖，高效分析表

  半導(dǎo)體 晶圓 測量 2251瀏覽量