安捷倫推出GoldenGate 2011射頻設(shè)計(jì)軟體
安捷倫(Agilent)宣布推出旗下最新版的射頻積體電路(RFIC)模擬、驗(yàn)證與分析軟體GoldenGate 2011。新版軟體以強(qiáng)化的效能、針對(duì)類(lèi)比(Analog)/射頻(RF)應(yīng)用的快速不匹配分析及圖形化使用者介面,奠定安捷倫在先進(jìn)節(jié)點(diǎn)RFIC設(shè)計(jì)領(lǐng)域的地位。
臺(tái)灣安捷倫科技董事長(zhǎng)暨電子量測(cè)事業(yè)群總經(jīng)理張志銘表示,GoldenGate 2011軟體專(zhuān)為射頻設(shè)計(jì)分析,并擴(kuò)展軟體的RFIC分析能力,以便更容易納入封裝和電路板效應(yīng)。而強(qiáng)化效能的方法有很多種,安捷倫選擇持續(xù)改進(jìn)客戶(hù)最關(guān)心的電路,故GoldenGate 2011便承襲不斷改善的優(yōu)良傳統(tǒng)。
張志銘指出,該新產(chǎn)品強(qiáng)化的效能包括改進(jìn)載波分析,為多核心中央處理器(CPU)提供明顯更佳的擴(kuò)充性與效能,可進(jìn)一步提升安捷倫的射頻效能領(lǐng)導(dǎo)地位;大幅改進(jìn)載波與同步切換雜訊分析效能(SSNA),為射頻與類(lèi)比/混合訊號(hào)設(shè)計(jì)師提供快速的良率因素分析,包括直流、交流和振蕩器分析;快速電路波封 (Circuit-envelope)分析,可讓射頻功能路徑的模擬速度提高一個(gè)量級(jí)以上,另外還為模型提供以RFIC為中心,更廣泛的訊號(hào)源配置支援,如記憶體效應(yīng);強(qiáng)化晶體振蕩器聚合選項(xiàng),可減少晶體振蕩器模擬失敗的機(jī)率。
此外,GoldenGate 2011包含一些改善的無(wú)線(xiàn)設(shè)計(jì)驗(yàn)證功能。例如快速的不匹配分析可大幅提升RFIC設(shè)計(jì)師每天所執(zhí)行的區(qū)塊和功能路徑驗(yàn)證速度,而不會(huì)減損其準(zhǔn)確度,并且新增支援Cadence極端狀況測(cè)試工具。而該產(chǎn)品的程式庫(kù)更新版,包含延遲定義的傳輸線(xiàn)與Philips-TU Delft標(biāo)準(zhǔn)/使用者定義接合線(xiàn)模型,使用該程式庫(kù),工程師可藉由納入射頻封裝和電路板效應(yīng),對(duì)其設(shè)計(jì)進(jìn)行更完整的模擬。另外使用新的 SystemVue與GoldenGate鏈路和流程來(lái)封閉系統(tǒng)與電路設(shè)計(jì)師之間的回路,可以讓設(shè)計(jì)師大幅加快RFIC系統(tǒng)層級(jí)的驗(yàn)證速度。
GoldenGate 2011還改善工具的可用性,進(jìn)而提升使用者的生產(chǎn)力。舉例來(lái)說(shuō),適用于Cadence類(lèi)比設(shè)計(jì)環(huán)境的新的樹(shù)狀/標(biāo)簽式圖形化使用者介面,簡(jiǎn)化射頻分析與選擇環(huán)境/選項(xiàng)的設(shè)定。張志銘強(qiáng)調(diào),GoldenGate 2011為最可靠的模擬、驗(yàn)證與分析解決方案,適用于Cadence Virtuoso設(shè)計(jì)流程中的整合射頻電路設(shè)計(jì)。該軟體獨(dú)特的模擬演算法經(jīng)過(guò)最佳化,可滿(mǎn)足復(fù)雜的射頻電路設(shè)計(jì)需求,在設(shè)計(jì)定案之前即對(duì)完整的收發(fā)器進(jìn)行徹底的特性描述。其為安捷倫RFIC模擬、分析與驗(yàn)證解決方案的一部分,整體解決方案還包括Momentum,可用于3D平面電磁模擬;Ptolemy Wireless Test Benches,可用于系統(tǒng)層級(jí)驗(yàn)證;以及ADS先進(jìn)設(shè)計(jì)系統(tǒng)的Data Display,可用來(lái)執(zhí)行復(fù)雜的資料分析。該套件將射頻系統(tǒng)、子系統(tǒng)和元件層級(jí)的設(shè)計(jì)與分析,整合到一個(gè)獨(dú)特而完整的RFIC設(shè)計(jì)流程。 GoldenGate與Cadence IC5和IC6平臺(tái)完全相容。
有關(guān)GoldenGate 2011的詳細(xì)資訊,可至www.agilent.com/find/eesof-goldengate2011網(wǎng)站。安捷倫將于6月7~9日在美國(guó)巴爾的摩會(huì)議中心(813號(hào)攤位)舉辦的2011年國(guó)際微波研討會(huì)(IEEE MTT-S),展示旗下適用于先進(jìn)射頻與微波研發(fā)及制造的最新設(shè)計(jì)與測(cè)試解決方案。與會(huì)者可到Agilent Avenue加入安捷倫及其事業(yè)夥伴,以便與業(yè)界領(lǐng)導(dǎo)廠(chǎng)商的專(zhuān)家們對(duì)談。
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