--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 主機(jī)尺寸 深 660*寬 430*高 210(mm)
- 主機(jī)重量 <35kg
- 主機(jī)顏色 銀色系
- 主機(jī)功耗 <300W
- 海拔高度 海拔不超過 4000m
- 環(huán)境要求 -20℃~60℃(儲(chǔ)存)、5℃~50℃(工作)
- 相對(duì)濕度 20%RH~75%RH (無凝露,濕球溫度計(jì)溫度 45℃以下
- 大氣壓力 86Kpa~106Kpa
- 防護(hù)條件 無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等
--- 產(chǎn)品詳情 ---
產(chǎn)品介紹
HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合半導(dǎo)體功率器件測試的多年經(jīng)驗(yàn),以及眾多國內(nèi)外測試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后,完全自主開發(fā)設(shè)計(jì)的全新一代“晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)”。軟件及硬件均由團(tuán)隊(duì)自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。
脈沖信號(hào)源輸出方面,高壓源標(biāo)配1400V(選配2KV),高流源標(biāo)配100A(選配40A,200A)柵極電壓40V,柵極電流10mA,分辨率最高至1mV/30pA,精度最高可至0.5%。程控軟件基于Lab VIEW平臺(tái)編寫,填充式菜單界面。采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試插座,自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降,保證測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。產(chǎn)品可測試Si,SiC,GaN材料的IGBTs,DIODEs,MOSFETs,BJTs,SCRs等7大類26分類的電子元器件。涵蓋電子產(chǎn)品中幾乎所有的常見器件。無論電壓電流源還是功能配置都有著極強(qiáng)的擴(kuò)展性。
產(chǎn)品為桌面放置的臺(tái)式機(jī)結(jié)構(gòu),由測試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過Prober接口、Handler接口可選(16Bin)連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站,實(shí)現(xiàn)快速批量化測試。通過軟件設(shè)置可依照被測器件的參數(shù)等級(jí)進(jìn)行自動(dòng)分類存放。能夠極好的應(yīng)對(duì)“來料檢驗(yàn)”“失效分析”“選型配對(duì)”“量產(chǎn)測試”等不同場景。
產(chǎn)品的可靠性和測試數(shù)據(jù)的重復(fù)性以及測試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點(diǎn)控式夾具”讓操作人員在夾具上實(shí)現(xiàn)一點(diǎn)即測。操作更簡單效率更高。測試數(shù)據(jù)可保存為EXCEL文本。
應(yīng)用場景
? 測試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測試)
? 失效分析(對(duì)失效器件進(jìn)行測試分析,查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過程提 出改善方案)
? 選型配對(duì)(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì))
? 來料檢驗(yàn)(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
? 量產(chǎn)測試(可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備,實(shí)現(xiàn)規(guī)模化、自動(dòng)化測試)
產(chǎn)品特點(diǎn)
(1) 可測試 7 大類 26 分類的各類電子元器件;
(2) PC 機(jī)為系統(tǒng)的主控機(jī);
(3) 基于 Lab VIEW 平臺(tái)開發(fā)的填充式菜單軟件界面;
(4) 自動(dòng)識(shí)別器件極性 NPN/PNP (5) 16 位 ADC,100K/S 采樣速率;
(6) 程控高壓源 10~1400V,提供 2KV 選配;
(7) 程控高流源 1uA~40A,提供 100A,300A,500A 選配;
(8) 驅(qū)動(dòng)電壓 10mV~40V;
(9) 控制極電流 10uA~10mA;
(10) 四線開爾文連接保證加載測量的準(zhǔn)確;
(11) 通過 RS232 接口連接校準(zhǔn)數(shù)字表,對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行校驗(yàn);
(12) Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin)
(13) 可為用戶提供豐富的測試適配器
(14) 連接分選機(jī)最高測試量為每小時(shí) 1 萬個(gè)
(15) 可以測試結(jié)電容,諸如 Cka,Ciss,Crss,Coss;
(16) 脈沖電流自動(dòng)加熱功能,方便高溫測試,無需外掛升溫裝置;
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