chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

華科智源半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀

hustec ? 2025-10-29 10:28 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品為桌面放置的臺(tái)式機(jī)結(jié)構(gòu),由測(cè)試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過(guò)Prober接口、Handler接口可選(16Bin)連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站,實(shí)現(xiàn)快速批量化測(cè)試。通過(guò)軟件設(shè)置可依照被測(cè)器件的參數(shù)等級(jí)進(jìn)行自動(dòng)分類存放。能夠應(yīng)對(duì)“來(lái)料檢驗(yàn)”“失效分析”“選型配對(duì)”“量產(chǎn)測(cè)試”等不同場(chǎng)景。

產(chǎn)品的可靠性和測(cè)試數(shù)據(jù)的重復(fù)性以及測(cè)試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點(diǎn)控式夾具”讓操作人員在夾具上實(shí)現(xiàn)一點(diǎn)即測(cè)。操作更簡(jiǎn)單效率更高。測(cè)試數(shù)據(jù)可保存為EXCEL文本。

半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀應(yīng)用場(chǎng)景

?測(cè)試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測(cè)試)

?失效分析(對(duì)失效器件進(jìn)行測(cè)試分析,查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過(guò)程提出改善方案)

?選型配對(duì)(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試,將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì))

?來(lái)料檢驗(yàn)(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

?量產(chǎn)測(cè)試(可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備,實(shí)現(xiàn)規(guī)?;?、自動(dòng)化測(cè)試)

半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)

(1)可測(cè)試7大類26分類的各類電子元器件

(2) PC機(jī)為系統(tǒng)的主控機(jī);

(3)基于Lab VIEW平臺(tái)開(kāi)發(fā)的填充式菜單軟件界面;

(4)自動(dòng)識(shí)別器件極性NPN/PNP (5) 16位ADC,100K/S采樣速率;

(6)程控高壓源10~1400V,提供2KV選配;

(7)程控高流源1uA~40A,提供100A,300A,500A選配;

(8)驅(qū)動(dòng)電壓10mV~40V;

(9)控制極電流10uA~10mA;

(10)四線開(kāi)爾文連接保證加載測(cè)量的準(zhǔn)確;

(11)通過(guò)RS232接口連接校準(zhǔn)數(shù)字表,對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行校驗(yàn);

(12) Prober接口、Handler接口可選(16Bin)

(13)可為用戶提供豐富的測(cè)試適配器

(14)連接分選機(jī)測(cè)試量為每小時(shí)1萬(wàn)個(gè)

(15)可以測(cè)試結(jié)電容,諸如Cka,Ciss,Crss,Coss;

(16)脈沖電流自動(dòng)加熱功能,方便高溫測(cè)試,無(wú)需外掛升溫裝置;

半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀產(chǎn)品信息及規(guī)格

產(chǎn)品型號(hào):HUSTEC-DC-2010

產(chǎn)品名稱:分立器件測(cè)試儀

主機(jī)尺寸:長(zhǎng)660*寬430*高210(mm)

主機(jī)重量:<35kg

主機(jī)功耗:<300W

海拔高度:海拔不超過(guò)4000m;

環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲(chǔ)存)、5℃~50℃(工作);

相對(duì)濕度:20%RH~75%RH (無(wú)凝露,濕球溫度計(jì)溫度45℃以下);

大氣壓力:86Kpa~106Kpa;

防護(hù)條件:無(wú)較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等;

電網(wǎng)要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

工作時(shí)間:連續(xù);

wKgZomZEKG2AY8AkAAgkpTj1PBg453.png

?分立器件測(cè)試儀測(cè)試范圍

01. Diode /二極管(穩(wěn)壓、瞬態(tài)、三端肖特基、TVS、整流橋、三相整流橋)

02. BJT /三極管

03. Mosfet & JFET /場(chǎng)效應(yīng)管

04. SCR /可控硅(單向/雙向)

05. IGBT /絕緣柵雙極大功率晶體管

06. OC /光耦

07. Relay /繼電器

08. Darlington tube /達(dá)林頓陣列

09. Current sensor/電流傳感器

10.基準(zhǔn)IC(TL431)

11.電壓復(fù)位IC

12.穩(wěn)壓器(三端/四端)

13.三端開(kāi)關(guān)功率驅(qū)動(dòng)器

14.七端半橋驅(qū)動(dòng)器

15.高邊功率開(kāi)關(guān)

16.電壓保護(hù)器(單組/雙組)

17.開(kāi)關(guān)穩(wěn)壓集成器

18.壓敏電阻

19.電壓監(jiān)控器

分立器件測(cè)試儀應(yīng)用場(chǎng)景

1、測(cè)試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測(cè)試,主要功能為曲線追蹤儀)

2、失效分析(對(duì)失效器件進(jìn)行測(cè)試分析,查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過(guò)程提出改善方案)

3、選型配對(duì)(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試,將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì))

4、來(lái)料檢驗(yàn)(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

5、量產(chǎn)測(cè)試(可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備,實(shí)現(xiàn)規(guī)?;?、自動(dòng)化測(cè)試)

6、替代進(jìn)口(可替代同級(jí)別進(jìn)口產(chǎn)品)

分立器件測(cè)試儀性能指標(biāo)

wKgaomZEKG2ACemsAACMMrHhTaU882.png

分立器件測(cè)試儀測(cè)試參數(shù)

(1)二極管類:二極管Diode

Kelvin,Vrrm,Irrm,Vf,△Vf,△Vrrm,Cka,Tr(選配);

(2)二極管類:穩(wěn)壓二極管ZD(Zener Diode)

Kelvin,Vz,lr,Vf,△Vf,△Vz,Roz,lzm,Cka;

(3)二極管類:穩(wěn)壓二極管ZD(Zener Diode)

Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka;

(4)二極管類:三端肖特基二極管SBD(SchottkyBarrierDiode)

Kelvin、Type_ident、Pin_test、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr(選配);

(5)二極管類:瞬態(tài)二極管TVS

Kelvin、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka;

(6)二極管類:整流橋堆

Kelvin、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka;

(7)二極管類:三相整流橋堆

Kelvin、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka;

(8)三極管類:三極管

Kelvin、Type_ident、Pin_chk、V(br)cbo、V(br)ceo、V(br)ebo、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo、△Bvcbo、Vbe、lcm、Vsd、Ccbo、Cces、Heater、Tr(選配)、Ts(選配)、Value_process;

(9)三極管類:雙向可控硅

Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、Idrm、Irrm_drm、Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm;

(10)三極管類:?jiǎn)蜗蚩煽毓?/strong>

Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin test、lgt、Vgt、Vtm、Vdrm Vrrm、IH、IL、△Vdrm△Vrrm、Vtm;

(11)三極管類:MOSFET

Kelvin、Type_ident、Pin_test、VGS(th)、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss、Idss zero、Vds(on)、Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs、ld_lim、Heater、Value_proces、△Rds(on);

(12)三極管類:雙MOSFET

Kelvin、Pin_chk、Ic_fx_chk、Type_ident、Vgs1(th)、VGs2(th)、VBR)Dss1、VBR)Dss2、Rds1(on)、Rds2(on)、Bvds1 rz、Bvds2_rz、Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、Coss、Crss;

(13)三極管類:JFET

Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、Idss(off)、Idss(on)、vds(on)、Vsd、Ciss、Crss、Coss;

(14)三極管類:IGBT

Kelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、lces、Vf、Ciss、Coss、Crss;

(15)三極管類:三端開(kāi)關(guān)功率驅(qū)動(dòng)器

Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt;

(16)三極管類:七端半橋驅(qū)動(dòng)器

Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt;

(17)三極管類:高邊功率開(kāi)關(guān)

Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt;

(18)保護(hù)類:壓敏電阻

Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr ;

(19)保護(hù)類:?jiǎn)谓M電壓保護(hù)器

Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr;

(20)保護(hù)類:雙組電壓保護(hù)器

Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr;

(21)穩(wěn)壓集成類:三端穩(wěn)壓器

Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk;

(22)穩(wěn)壓集成類:基準(zhǔn)IC(TL431)

Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka;

(23)穩(wěn)壓集成類:四端穩(wěn)壓

Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk;

(24)穩(wěn)壓集成類:開(kāi)關(guān)穩(wěn)壓集成器

選配;

(25)繼電器類:4腳單刀單組、5腳單刀雙組、8腳雙組雙刀、8腳雙組四刀、固態(tài)繼電器

Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton(選配)、Toff(選配);

(26)光耦類:4腳光耦、6腳光耦、8腳光耦、16腳光耦

Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、Bvceo、Bveco、Iceo、Ctr、Vce(sat)、Tr、Tf

(27)傳感監(jiān)測(cè)類:

電流傳感器(ACS712XX系列、CSNR_15XX系列)(選配);霍爾器件(MT44XX系列、A12XX系列)(選配);電壓監(jiān)控器(選配);電壓復(fù)位IC(選配);

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 測(cè)試儀
    +關(guān)注

    關(guān)注

    6

    文章

    4103

    瀏覽量

    60453
  • 半導(dǎo)體
    +關(guān)注

    關(guān)注

    336

    文章

    29671

    瀏覽量

    254350
  • 分立器件
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5

    文章

    246

    瀏覽量

    22186
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    是德科技Keysight B1500A 半導(dǎo)體器件參數(shù)分析/半導(dǎo)體表征系統(tǒng)主機(jī)

    電子器件、材料、半導(dǎo)體和有源/無(wú)器件。 可以在 CV 和 IV 測(cè)量之間快速切換,無(wú)需重新連接線纜。 能夠捕獲其他傳統(tǒng)測(cè)試儀器無(wú)法捕
    發(fā)表于 10-29 14:28

    半導(dǎo)體分立器件怎么分類?

    請(qǐng)問(wèn)半導(dǎo)體分立器件怎么分類?
    發(fā)表于 10-26 10:29

    4156C半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀4156C

    Agilent4156C精密半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀是Agilent下一代的精密半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀,4156C為高級(jí)器件表征提供了高精頂級(jí)參數(shù)分析的實(shí)
    發(fā)表于 09-27 09:38

    吉時(shí)利——半導(dǎo)體分立器件I-V特性測(cè)試方案

    `吉時(shí)利——半導(dǎo)體分立器件I-V特性測(cè)試方案半導(dǎo)體分立器件
    發(fā)表于 10-08 15:41

    DCT1401半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

    DCT1401半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)西安天光測(cè)控DCT1401半導(dǎo)體分立
    發(fā)表于 02-17 07:44

    國(guó)內(nèi)功率半導(dǎo)體需求持續(xù)快速增長(zhǎng),秋攜手合泰促發(fā)展

    、IGCT、發(fā)光二極管、敏感器件等。半導(dǎo)體分立器件制造,指單個(gè)的半導(dǎo)體晶體管構(gòu)成的一個(gè)電子元件的制造。制造是設(shè)計(jì)及封裝
    發(fā)表于 03-10 17:34

    半導(dǎo)體管特直觀測(cè)試儀

    半導(dǎo)體管特直觀測(cè)試儀
    發(fā)表于 04-30 23:15 ?623次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>管特直觀<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>

    半導(dǎo)體分立器件的命名方法

    半導(dǎo)體分立器件的命名方法 表9 國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體分立器件型號(hào)命名法
    發(fā)表于 12-19 01:17 ?1771次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>分立</b><b class='flag-5'>器件</b>的命名方法

    新型半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀介紹

    誼邦電子科技YB6500半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)功能更加強(qiáng)大,可測(cè)試十九大類二十七分類大、中、小功率的半導(dǎo)體分立
    發(fā)表于 06-07 11:28 ?3176次閱讀

    分立器件測(cè)試儀/設(shè)備

    HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合半導(dǎo)體功率器件
    發(fā)表于 05-15 10:29 ?0次下載

    半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀

    HUSTEC-DC-2010分立器件測(cè)試儀,是我司團(tuán)隊(duì)結(jié)合多年半導(dǎo)體器件測(cè)試經(jīng)驗(yàn)而研發(fā)的,可以應(yīng)
    的頭像 發(fā)表于 05-20 16:50 ?1263次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>分立</b><b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>

    半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)

    半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)產(chǎn)品介紹 HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合
    發(fā)表于 05-21 10:37 ?0次下載

    普賽斯儀表 | 半導(dǎo)體分立器件電性能測(cè)試解決方案

    發(fā)生器和自動(dòng)電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng),支持四象限工作。解決了傳統(tǒng)多臺(tái)測(cè)試儀表之間編程、同步、接線繁雜及總線傳輸慢等問(wèn)題。常見(jiàn)測(cè)試 半導(dǎo)體分立
    發(fā)表于 06-06 16:07 ?0次下載

    SC2020晶體管參數(shù)測(cè)試儀/?半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)介紹

    SC2020晶體管參數(shù)測(cè)試儀/?半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)-日本JUNO測(cè)試儀DTS-1000國(guó)產(chǎn)平
    發(fā)表于 04-16 17:27 ?0次下載

    IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀

    HUSTECHUSTEC-1600A-MTIGBT功率器件測(cè)試儀一:IGBT功率器件
    的頭像 發(fā)表于 10-29 10:39 ?140次閱讀
    <b class='flag-5'>華</b><b class='flag-5'>科</b>智<b class='flag-5'>源</b>IGBT靜態(tài)參數(shù)<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>