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北京宏展儀器有限公司

北京宏展儀器有限公司專業(yè)生產(chǎn)高低溫試驗(yàn)箱

62 內(nèi)容數(shù) 3.5w 瀏覽量 3 粉絲

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

型號(hào)： TS系列

--- 產(chǎn)品詳情 ---

簡(jiǎn)單介紹

TS系列冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber  的詳細(xì)介紹

TS系列冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

 


 

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長(zhǎng)；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減小；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測(cè)試孔、記錄儀、測(cè)試電纜等）保證了用戶多種功能和測(cè)試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過(guò)程的全程記錄和追溯；
每臺(tái)電機(jī)均配置過(guò)流（過(guò)熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)

 

主要技術(shù)指標(biāo):
 

兩箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱
型號(hào)CTS-50CTS-120CTS-180
HxWxD(mm)內(nèi)300x460x350500x610x400600x660x450
外2250x1200x19502720x1050x19502920x1100x2150
性能參數(shù)高溫室溫度暴露范圍﹢60℃ ～ ﹢200℃
預(yù)熱溫度上限200℃
升溫時(shí)間R.T→﹢200℃約40min
低溫室溫度暴露范圍0 ～ ﹣75℃
預(yù)熱溫度下限﹣75℃
降溫時(shí)間R.T→﹣70℃約60min
提籃溫度范圍﹣65 ～ 150℃
溫度波動(dòng)度≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170﹣1996表示）
溫度偏差≤±2℃（﹣65℃ ～ ﹢150℃）
轉(zhuǎn)換時(shí)間≤5S
溫度回復(fù)時(shí)間≤5min
結(jié)構(gòu)外箱材質(zhì)冷軋鋼板表面噴塑（象牙白）
內(nèi)箱材質(zhì)#304鏡面不銹鋼（1.2mm）
隔熱材料非危廢類環(huán)保型玻璃纖維保溫層
制冷制冷方式風(fēng)冷或水冷
制冷機(jī)進(jìn)口壓縮機(jī)
溫度傳感器鎧裝鉑電阻
控制器西門子PLC模塊（含宏展環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備嵌入式PLC控制軟件PlatinumV1.0）+7英寸彩色液晶觸摸控制屏（含宏展環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備嵌入式觸摸屏控制軟件PlatinumV1.0）。
                數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于功能接口USB數(shù)據(jù)接口：設(shè)備帶有USB存儲(chǔ)接口，存儲(chǔ)信息包括試驗(yàn)時(shí)間、試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)值和試驗(yàn)實(shí)測(cè)值等主要運(yùn)行參數(shù)，存儲(chǔ)格式為.csv格式，此文件可由宏展公司上位機(jī)通訊軟件直接生產(chǎn)曲線，該USB接口不支持熱插拔及下載功能，如要用U盤存儲(chǔ)試驗(yàn)數(shù)據(jù)，需一直讓U盤處于正常聯(lián)接狀態(tài)。
TCP/IP通訊接口：試驗(yàn)箱帶有RJ45數(shù)據(jù)接口，后期如購(gòu)買上位機(jī)通訊功能后（含宏展環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備嵌入式計(jì)算機(jī)軟件PlatinumV1.0），即可聯(lián)接此接口以實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)管理功能，單臺(tái)試驗(yàn)箱支持5臺(tái)計(jì)算機(jī)同時(shí)訪問(wèn)、上位機(jī)軟件*大可管理32臺(tái)試驗(yàn)箱。
裝機(jī)功率（KVA）19.73236
電源AC380V 50Hz三相四線制+接地線
標(biāo)配配置產(chǎn)品使用說(shuō)明書、試驗(yàn)報(bào)告1份、合格證及質(zhì)量保證書各1份、隔板2層、帶腳輪
滿足標(biāo)準(zhǔn)GJB150.3、GJB150.4、GJB150.5、GB/T2423.1、GB/T2423.2
詳細(xì)參數(shù)以對(duì)應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格書為準(zhǔn)


 

 

 

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
型號(hào)TSL-80ATSL-150ATSL-225ATSL-408A
TSU-80WTSU-150WTSU-225WTSU-408W
TSS-80WTSS-150WTSS-225WTSS-408W
內(nèi)部尺寸（mm）W500600750850
H400500500600
D400500600800
外形尺寸（mm）W1460156017101880
H1840194019402040
D1500160017001900
試驗(yàn)方式氣動(dòng)風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式
性能高溫室預(yù)熱溫度范圍﹢60℃ ～ ﹢200℃
升溫速率﹢60→＋200℃≤20分鐘
低溫室預(yù)冷溫度范圍﹣78－0℃
降溫速率﹢20→－75℃≤80分鐘
試驗(yàn)室溫度偏差±2℃
溫度范圍

TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃

 

TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃

 

TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃

 

溫度恢復(fù)時(shí)間5分鐘以內(nèi)
試樣擱架承載能力（kg）30
試樣重量（kg）7.57.51010
注：外形尺寸（不包括外形凸起部分）；升溫速率和降溫速率（溫度上升和溫度下降均為試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能）；溫度恢復(fù)條件（室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路）
詳細(xì)參數(shù)以對(duì)應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格書為準(zhǔn)


 


 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格可配增加此功能※可配增加LN2功能

試驗(yàn)規(guī)范 駐留溫度(℃)
(exposure temp.)		駐留溫度時(shí)間(Min)
(exposure time)		覆歸時(shí)間
(recovery time)		 周期
或次數(shù)		試驗(yàn)起
始點(diǎn)		備注適用機(jī)臺(tái)型號(hào)
TS-(80/150/225/408)
高溫室溫低溫高溫/低溫室溫SUL
MIL-STD-883E
(Method No.1010.7)		+85

+10

 

----

 

-55

 

0

 

≧10min
≦15min

 

----

 

含駐留時(shí)間&
轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min

 

*少
10次

 

低溫或
高溫

 

Temperature Cycling
(轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min)

實(shí)驗(yàn)過(guò)程若中斷
超過(guò)總實(shí)驗(yàn)之1/10
次則實(shí)驗(yàn)須重做

 

◎

 

◎

 

----

 

0

 

+125

+15

 

◎

 

◎

 

----

 

0

 

-10

 

+150

+15

 

◎

 

◎

 

----

 

0

 

+150

+15

 

-65

 

0

 

◎

 

.

 

----

 

0

 

-10

 

MIL-STD-202F
(Method No.107G)		+83+3-25

+10

-55

0

 

28g以下
15～30 Min
28～136g
30Min
136g～1.36Kg
60Min
1.36～13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min		Max.
5 Min		5 Min 以內(nèi)5 cycle
25
50
100		低溫Transfer time
不超過(guò)5 min		◎◎◎

0

 

-3

 

+125

+3

 

-65

 

0

 

◎

 

◎

 

----

 

0

 

-5

 

-5

 

+125

+3

 

-65

 

0

 

◎

 

◎

 

----

 

0

 

-5

 

JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22

+70

+85

+100

+125

±2

±2

±2

±2

室溫

-5

-10

-25

-40

-55

-65

±3
±3
±3
±3
±3
±3		3hr
2hr
1hr
30min
或無(wú)定義則
以3hr定義		手動(dòng)轉(zhuǎn)
移時(shí)間
2～3Min		為駐留時(shí)間
之1/10		5 cycle
除非有
其它規(guī)格		低溫Auto
Transfer time
不超過(guò)30 sec
小試件
Transfer time
不超過(guò)10 sec		★★★
◎◎◎
◎◎◎
◎◎◎
  ◎◎◎
  ◎◎----
IPC 2.6.7+70

±2

 

----

0

 

+0

 

15 Min

 

----

 

2 Min 以內(nèi)100 cycle高溫
(試驗(yàn)結(jié)束
點(diǎn)在高溫)

Transfer time
不超過(guò)2 min

 

★

 

★

 

★

 

-0-5
+85+5-40+0◎◎◎
-0-5
+105+5-55+0◎◎．
-0-5
+105+5-65+0．．----
-0-5
+105+5  ．．----
-0
IPC 2.6.6+85

+3

 

-25+10-55+030 Min10-15
Min		 5 cycle  ◎◎◎
-0-5
+125+3-5-65+0◎◎----
-0-5
Bellcore
GR-1221-CORE		+70±2---- ≧10min
≦15min		----含駐留時(shí)間
&轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min		500 cycle
OR
1000cycle		  ◎◎◎
 
+80±2◎◎◎
 
JESD22
A104-A		+125+10 -40+0≦15min 含駐留時(shí)間
&轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min		抽10次
可接受;
1000次
合格		 Temperature
Cycling
(轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min)
實(shí)驗(yàn)過(guò)程若中斷
超過(guò)總實(shí)驗(yàn)之1/10
次則實(shí)驗(yàn)須重做		◎◎◎
-0-10
+85+10-55+0◎◎．
-0
+125+10

-0

 

-10

 

+150+10

-0

 

+150

+10

 

-65

 

+0

 

◎

 

．

 

----

 

 

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  • 溫度沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)流程2023-05-09 15:42

    溫度沖擊試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試物品的溫度變化快速升降的能力，其試驗(yàn)流程一般如下：1.準(zhǔn)備工作：將待測(cè)試物品放置于溫度沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)，并將試驗(yàn)箱設(shè)置為所需的溫度范圍和溫度變化速率。2.預(yù)熱階段：將試驗(yàn)箱預(yù)熱到設(shè)定溫度，并保持一段時(shí)間以達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)。3.沖擊測(cè)試：在設(shè)定的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行溫度沖擊測(cè)試。通常情況下，溫度沖擊測(cè)試包括兩個(gè)階段：高溫區(qū)域和低溫區(qū)域。在高溫區(qū)域測(cè)

  • 高低溫試驗(yàn)箱在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中的應(yīng)用2023-04-29 16:16

    由于智能型手機(jī)消費(fèi)者需求的增加，無(wú)線通訊市場(chǎng)目前是半導(dǎo)體應(yīng)用中，成長(zhǎng)擴(kuò)大速度最快的一個(gè)領(lǐng)域。隨著智能型手機(jī)需求的增加，半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)散發(fā)著無(wú)限潛力。半導(dǎo)體的熱敏，光敏等特性也決定了半導(dǎo)體器件在不同溫度條件下所能展現(xiàn)的不同性能，本文主要簡(jiǎn)單介紹一下高低溫試驗(yàn)箱在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中基礎(chǔ)應(yīng)用。高低溫試驗(yàn)箱在半導(dǎo)體行業(yè)中主要用于檢測(cè)半導(dǎo)體器件的可靠性、穩(wěn)定性和耐受性等關(guān)鍵指標(biāo)。半導(dǎo)體器件在使用過(guò)程中需要經(jīng)受極端的高