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上行解調(diào)測試 - 如何快速準(zhǔn)確的仿真多天線環(huán)境

2011年08月14日 09:54 C114中國通信網(wǎng) 作者:秩名 用戶評論(0
 3.3.1上行解調(diào)測試

  上行測試需要使用單向的1*8環(huán)境,支持SCME、IMTA信道模型,基站設(shè)置為交叉極化,終端設(shè)置為垂直極化,天線具有方向性。

  在每種信道模型下,通過調(diào)整信噪比獲得不同的吞吐量。

  可方便的遍歷終端速度、信噪比設(shè)置等。

  上行解調(diào)測試可用SR5500M或VR5,下圖是SR5500M的例子:

  

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  圖7 上行解調(diào)測試連接

  信道模型為實(shí)時(shí)的SCME或IMTA M.2135模型:

  

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  圖8 SCME信道模型實(shí)時(shí)配置

  3.3.2雙向8*2測試

  雙向測試需要使用雙向的8*2環(huán)境,支持SCME、IMTA信道模型,基站設(shè)置為交叉極化,終端設(shè)置為垂直極化,天線具有方向性。

  雙向測試必須保證上下行信道的互易性。所以開始測試前,需要執(zhí)行相位校準(zhǔn)。并保證相位校準(zhǔn)的精度。相位校準(zhǔn)的間隔應(yīng)該盡量長。VR5-HD的校準(zhǔn)精度在20M的帶寬里達(dá)到5°,請校準(zhǔn)周期可達(dá)到1周。大大提高了測試效率。

  VR5內(nèi)置雙工器,無需添加然后外部器件即可完成雙向測試:

  

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  圖9 雙向8*2連接

  

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  圖10 雙向8*2配置

  小結(jié)

  TD-LTE因?yàn)楦嗟奶炀€,以及因?yàn)閎eamforming而必須同時(shí)進(jìn)行上下行的雙向測試,給實(shí)驗(yàn)室的信道模擬帶來了較大的挑戰(zhàn)。同時(shí)TD-LTE需要全新的業(yè)界最前沿的基于幾何地理的信道模型,給信道模擬器的模擬帶來了新的課題。

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( 發(fā)表人:葉子 )

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