動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2024-06-15 08:18
昊衡科技自研低成本光學(xué)鏈路診斷儀——適用大規(guī)模光模塊失效檢測(cè)
隨著大數(shù)據(jù)時(shí)代對(duì)數(shù)據(jù)量需求的爆炸式增長(zhǎng)，光通信系統(tǒng)也在不斷的更新升級(jí)。光通信產(chǎn)業(yè)鏈上的光收發(fā)模塊作為核心組件之一，其性能優(yōu)劣直接影響系統(tǒng)的通信質(zhì)量。由于光模塊速率越來(lái)越高，多通道并行的波分復(fù)用方案應(yīng)用越來(lái)越廣泛，隨之帶來(lái)的是模塊內(nèi)部高密度的光路連接方式，對(duì)高速光互聯(lián)的信號(hào)傳輸質(zhì)量，可靠性提出了更高要求。由武漢昊衡科技自研的OLI低成本光學(xué)鏈路診斷儀基于光學(xué)相 -
發(fā)布了文章 2024-06-08 08:17
【2024光連接大會(huì)】國(guó)產(chǎn)OFDR設(shè)備助力光模塊檢測(cè)
當(dāng)前，AI技術(shù)的大規(guī)模應(yīng)用加速推動(dòng)了光模塊需求的釋放。相應(yīng)的，針對(duì)高密度、穩(wěn)定可靠的高速光互聯(lián)技術(shù)迎來(lái)重大機(jī)遇和挑戰(zhàn)。隨著光模塊速率越來(lái)越高，其內(nèi)部光電互聯(lián)結(jié)構(gòu)越來(lái)越復(fù)雜，需要測(cè)量的參數(shù)逐漸變多，常規(guī)測(cè)量方法已逐漸不能滿足全部測(cè)量需求。而高精度分布式的光頻域測(cè)量技術(shù)將填補(bǔ)常規(guī)設(shè)備不能測(cè)到的參量空白，補(bǔ)全高速光互聯(lián)、硅光芯片、光纖鏈路、耦合對(duì)接等各方面的測(cè)試標(biāo) -
發(fā)布了文章 2024-06-05 08:17
光連接大會(huì)邀請(qǐng)函：昊衡科技誠(chéng)邀您共赴光通信行業(yè)盛會(huì)
大會(huì)介紹INTRODUCTION光纖在線、和弦產(chǎn)業(yè)研究中心主辦的光通信行業(yè)年度盛會(huì)--第九屆光連接大會(huì)CFCF2024(ChinaFiberConnectForum)將于2024年6月23~25日在中國(guó)·蘇州舉辦。本屆大會(huì)以“光連萬(wàn)物，多彩未來(lái)”為主題，立足于光網(wǎng)絡(luò)基礎(chǔ)建設(shè)，基于光網(wǎng)絡(luò)、光器件、光模塊、光電芯片的技術(shù)發(fā)展路徑，向光通信電信、數(shù)據(jù)中心、邊緣云計(jì) -
發(fā)布了文章 2024-05-11 08:17
昊衡科技推出OLI低成本光學(xué)鏈路診斷儀，助力光模塊產(chǎn)線檢測(cè)
INTRODUCTIONAI時(shí)代下，數(shù)據(jù)量需求的爆炸式增長(zhǎng)推動(dòng)著光通信系統(tǒng)不斷升級(jí)更新。作為光通信產(chǎn)業(yè)鏈中的核心組件，光收發(fā)模塊的性能優(yōu)劣十分重要。隨著產(chǎn)品速率與集成度的不斷提高，終端用戶對(duì)光器件、光模塊的質(zhì)量把控更加嚴(yán)格。為了在這樣的環(huán)境中脫穎而出，品質(zhì)把控成為企業(yè)生存和發(fā)展的關(guān)鍵?；诖耍缓饪萍纪瞥鲎匝械腛LI低成本光學(xué)鏈路診斷儀，其原理基于光學(xué)相干檢 -
發(fā)布了文章 2024-01-12 08:17
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發(fā)布了文章 2024-01-06 08:17
如何利用OLI進(jìn)行產(chǎn)線自動(dòng)化檢測(cè)？-閾值判斷功能介紹
今天小編來(lái)跟大家分享，我們?yōu)楣饫w微裂紋檢測(cè)儀（OLI）用于產(chǎn)線自動(dòng)化檢測(cè)做的定制功能，合格閾值判斷。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)就是使用設(shè)備檢測(cè)產(chǎn)品是否合格，需要人為給設(shè)備定義合格標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)就是設(shè)備正常運(yùn)行自動(dòng)判別程序的合格閾值。光纖微裂紋檢測(cè)儀（OLI）通過(guò)檢測(cè)光鏈路的回波光強(qiáng)大小判定此段鏈路是否有異?；蛘咛厥饨Y(jié)構(gòu)（如：微裂紋、波導(dǎo)耦合點(diǎn)、法蘭連接點(diǎn)、鏈路末端端面、光纖彎折866瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2023-12-02 08:17
光纖微裂紋檢測(cè)儀適用于產(chǎn)線的多通道測(cè)試
單通道能否滿足產(chǎn)線測(cè)試呢？顯然是不能的。以光模塊廠家為例，一個(gè)光模塊可能有多個(gè)通道，每個(gè)通道都需要檢測(cè)。使用單通道測(cè)試，一個(gè)器件就需要反復(fù)插拔多次、掃描多次、保存多次結(jié)果，這樣效率太低了，顯然產(chǎn)線不會(huì)接受這種方式。OLI支持產(chǎn)線多通道測(cè)試，一次就能掃描完一個(gè)光模塊，極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間。當(dāng)前OLI（光纖微裂紋檢測(cè)儀）標(biāo)準(zhǔn)版支持12通道測(cè)試，用戶也可根據(jù)需求定制更 -
發(fā)布了文章 2023-09-15 08:19
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發(fā)布了文章 2023-08-05 08:21
OLI測(cè)試硅光芯片耦合質(zhì)量
硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規(guī)模集成技術(shù)。光纖到硅基耦合是芯片設(shè)計(jì)十分重要的一環(huán)，耦合質(zhì)量決定著集成硅光芯片上光信號(hào)和外部信號(hào)互聯(lián)質(zhì)量，耦合過(guò)程中最困難的地方在于兩者光模式尺寸不匹配，硅光芯片中光模式約為幾百納米，而光纖中則為幾個(gè)微米，幾何尺寸上巨大差異造成模場(chǎng)的嚴(yán)重失配。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對(duì)硅光芯片耦合質(zhì)量檢測(cè)非常有優(yōu)勢(shì)，以亞毫米級(jí)別的 -
發(fā)布了文章 2023-07-31 23:04
OLI測(cè)試硅光芯片內(nèi)部裂紋
硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規(guī)模集成技術(shù)，能夠突破傳統(tǒng)電子芯片的極限性能，是5G通信、大數(shù)據(jù)、人工智能、物聯(lián)網(wǎng)等新型產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)支撐。準(zhǔn)確測(cè)量硅光芯片內(nèi)部鏈路情況，讓硅光芯片設(shè)計(jì)和生產(chǎn)都變得十分有意義。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對(duì)硅光芯片耦合質(zhì)量和內(nèi)部裂紋損傷檢測(cè)非常有優(yōu)勢(shì)，可精準(zhǔn)探測(cè)到光鏈路中每個(gè)事件節(jié)點(diǎn)，具有靈敏度高、定位精準(zhǔn)、穩(wěn)定性高、簡(jiǎn)單易
