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2025中國光博會:昊衡科技與您相約!

昊衡科技 ? 2025-08-15 17:29 ? 次閱讀
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CIOE 2025

展會介紹

第二十六屆中國國際光電博覽會(CIOE中國光博會)將于2025年9月10-12日在深圳國際會展中心(寶安新館)隆重舉辦。作為全球光電全產(chǎn)業(yè)鏈旗艦展會,本屆展會匯聚全球3800+企業(yè),聚焦信息通信、精密光學、攝像頭技術(shù)及應(yīng)用、激光制造、紅外紫外、智能傳感、新型顯示及AR/VR等八大前沿領(lǐng)域。是尋找研發(fā)和生產(chǎn)制造中所需要的材料、器件、設(shè)備及解決方案的一站式高效采購平臺,也是精準商貿(mào)需求配對,快速拓展商業(yè)社交圈,把握行業(yè)發(fā)展前沿資訊和動態(tài)的商貿(mào)平臺。

參展信息

展商名稱:武漢昊衡科技有限公司

展會名稱:第二十六屆中國國際光電博覽會(CIOE中國光博會)

展會時間:2025年9月10-12日

展會地點:深圳國際會展中心(寶安新館)

展位號:10A36


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CIOE 2025

展品介紹

OCI高分辨光學鏈路診斷儀

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OCI檢測高速光模塊內(nèi)部光鏈路

OCI是一款超高精度光學鏈路診斷儀,原理基于光頻域反射(OFDR)技術(shù),單次測量可實現(xiàn)從器件到鏈路的全范圍診斷。OCI可輕松查找并判別光纖鏈路中的宏彎、連接點和斷點,并精確測量回損、插損、光譜、時延等參數(shù),其事件點定位精度高達0.1mm。OCI不僅可用于光學鏈路診斷,還可拓展分布式光纖傳感功能,實現(xiàn)應(yīng)變和溫度的高分辨測量。


OCI-V 光矢量分析系統(tǒng)

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OCI-V測量波分復(fù)用器IL

OCI-V是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等參數(shù)的光矢量分析系統(tǒng)。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描,并結(jié)合相干檢測技術(shù)獲取待測器件的瓊斯矩陣,進而獲得器件插損、偏振模色散、偏振相關(guān)損耗、群延時等光學參數(shù)。


FLA 光纖鏈路分析儀

FLA光纖鏈路分析儀,空間分辨率2mm,最長測量范圍500m,最長支持定制2km,測量動態(tài)范圍70dB。可選手持式版本,具有觸屏、內(nèi)置可充電電池等特點,可快速實現(xiàn)光纖長度測量、分布式回損測試、斷點失效檢測等。廣泛用于飛機、通信網(wǎng)絡(luò)、數(shù)據(jù)中心等場景的現(xiàn)場測試。


OLI低成本光學鏈路診斷儀

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OLI檢測光模塊裂紋

OLI基于光學相干檢測技術(shù),利用白光的低相干性可實現(xiàn)光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測,可輕松查找并精準定位器件內(nèi)部斷點、微損傷點以及鏈路連接點。設(shè)備采樣分辨率最高可達1μm,同時最低可探測到-100dB光學弱信號, 廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。


OLI-P分布式偏振串擾測試儀

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OLI-P分布式串擾測量

OLI-P是基于白光干涉的分布式偏振串擾測試分析儀,采樣分辨率優(yōu)于2cm,噪聲靈敏度最低可達-90dB。設(shè)備可高精度測量保偏光纖環(huán)、Y波導芯片等器件的分布式偏振串擾。通過偏振串擾測試,精準定位保偏光路中異常串擾點位置、分析連接頭或耦合端面質(zhì)量、測量保偏器件芯片的偏振消光比等。該產(chǎn)品可用于產(chǎn)品工藝設(shè)計改進或產(chǎn)線批量檢測。


OSI分布式光學傳感系統(tǒng)


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a.高精度分布式光纖傳感解調(diào)儀OSI-S (便攜式)

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b.動態(tài)分布式光纖傳感解調(diào)儀OSI-D


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機翼應(yīng)變測試及變形實時重構(gòu)圖

OSI系列分布式光纖傳感系統(tǒng)基于光頻域反射技術(shù)(OFDR),用于分布式應(yīng)變、溫度測量,傳感空間分辨率高達mm量級,測量重復(fù)精度高達±0.1℃和±1με。該系統(tǒng)采用常規(guī)單模光纖作傳感器,兼容高密度弱反射光纖光柵陣列,在一根光纖上可同時測量成千上萬傳感點,廣泛應(yīng)用于短距離、高分辨、高精度應(yīng)變、溫度測量領(lǐng)域。系統(tǒng)具備形狀傳感和三維應(yīng)變、溫度場重構(gòu)功能。

FGI高速光纖光柵解調(diào)儀

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高速光纖光柵PZT振動傳感實驗

FGI系列產(chǎn)品是一款解調(diào)速率高達100kHz的高速光纖光柵解調(diào)儀,波長重復(fù)精度達5pm,可以對FBG傳感器中心波長進行高速解調(diào)。廣泛應(yīng)用于高頻應(yīng)變、振動,高速沖擊,爆炸等高速動態(tài)測量環(huán)境,精準解析事件中的應(yīng)變、頻率等參數(shù)變化。

2025中國光博會,昊衡科技與您相約!

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