動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-09-26 11:42

  技術(shù)前沿 | 搭建數(shù)字孿生模型，開啟動力電池服務(wù)新篇章

  

  廣電計量利用數(shù)字孿生技術(shù)，為上下游企業(yè)提供可視化的電池產(chǎn)品全生命周期健康優(yōu)化管理服務(wù)，為產(chǎn)品運行和改進提供更加精確的決策支持。

  新能源 電池包 電池測試

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• 發(fā)布了文章 2024-09-26 11:40

  干貨分享 | 關(guān)于空間輻射位移效應(yīng)的考核

  

  目前在元器件位移效應(yīng)試驗標(biāo)準(zhǔn)主要有GJB548 方法1017.1，該標(biāo)準(zhǔn)只規(guī)定了以1MeV等效中子作為輻照源，但標(biāo)準(zhǔn)描述了該試驗的目的是考核以非電離能量損失（NIEL Non-Ionizing Energy Loss）作為衡量不同能量中子的等效性。

  元器件 半導(dǎo)體 空間輻射

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• 發(fā)布了文章 2024-09-18 10:55

  廣電計量|功率場效應(yīng)管過壓失效機理及典型特征分析

  

  失效分析最常觀察到的現(xiàn)象是EOS過電失效，分為過壓失效及過流失效的兩種失效模式。對于以功率器件為代表的EOS過電失效樣品，其失效表征往往表現(xiàn)為芯片的大面積熔融，導(dǎo)致難以進一步判定其失效模式。本文以常規(guī)MOS、IGBT場效應(yīng)管為例，從芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行分析和明確過壓擊穿容易出現(xiàn)的失效位置及機理解釋。

  EOS MOS 場效應(yīng)管 失效分析 失效機理

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• 發(fā)布了文章 2024-09-11 11:01

  新技術(shù)丨廣電計量成功開發(fā)系統(tǒng)級電磁脈沖防護仿真技術(shù)

  

  系統(tǒng)級電磁脈沖效應(yīng)是電磁脈沖對系統(tǒng)內(nèi)部電子設(shè)備的影響和作用，這種效應(yīng)能夠通過各種途徑耦合到系統(tǒng)內(nèi)部，對電子設(shè)備造成威脅。為提升研究系統(tǒng)級電磁脈沖效應(yīng)及其防護技術(shù)效率，增強各行業(yè)系統(tǒng)抗電磁脈沖能力，廣電計量電磁安全工程研究所成立科研專項組開展系統(tǒng)級電磁脈沖防護仿真技術(shù)研究。

  仿真技術(shù) 無人機 電磁脈沖

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• 發(fā)布了文章 2024-08-23 11:01

  Robotaxi發(fā)展再加速，智能駕駛傳感領(lǐng)域檢測迎來全新挑戰(zhàn)

  

  高階智駕的發(fā)展是無人駕駛系統(tǒng)在技術(shù)層面落地的基石，而感知是智能駕駛的先決條件，車輛的傳感器需要通過嚴(yán)苛的可靠性驗證，方可保障智能駕駛的行駛安全。本期“專家訪談”欄目，我們邀請到廣電計量集成電路測試與分析事業(yè)部資深技術(shù)專家王河清博士，探討智能駕駛中傳感系統(tǒng)面臨的安全性挑戰(zhàn)以及如何助力提升系統(tǒng)及產(chǎn)品測試效率和設(shè)計質(zhì)量等問題。

  Robotaxi 元器件 智能駕駛 激光雷達(dá) 車載激光雷達(dá)

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• 發(fā)布了文章 2024-08-13 09:37

  技術(shù)干貨 | AI浪潮下的光模塊可靠性

  

  人工智能（AI）技術(shù)的快速發(fā)展對數(shù)據(jù)處理和傳輸提出了前所未有的挑戰(zhàn)。在深度學(xué)習(xí)、自然語言處理和計算機視覺等AI應(yīng)用中，訓(xùn)練和學(xué)習(xí)需要巨大的數(shù)據(jù)量傳遞和交互。2023年GPT-4模型所需訓(xùn)練的參數(shù)量有1.8萬億，要完成這么大的數(shù)據(jù)量的運算，需要上萬個GPU同時工作。如此龐大的數(shù)據(jù)傳輸對于傳統(tǒng)銅纜而言是個巨大的挑戰(zhàn)，因此光模塊在數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)揮著非常重要的作用。光

  AI SiC 光模塊

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• 發(fā)布了文章 2024-07-05 10:22

  車規(guī)級 | 功率半導(dǎo)體模塊封裝可靠性試驗-熱阻測試

  

  在因為功率器件相關(guān)原因所引起電子系統(tǒng)失效的原因中，有超過50%是因為溫度過高導(dǎo)致的熱失效。結(jié)溫過高會導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能降低、可靠性降低、壽命降低、引發(fā)器件結(jié)構(gòu)內(nèi)部的缺陷。隨著器件小尺寸化、高集成化的趨勢，有限的空間承載的功率密度越來越大，對熱性能測試的研究成為了行業(yè)的熱門議題。因此，熱阻測試對功率器件試可靠性驗證及對汽車電子系統(tǒng)保障中起著關(guān)鍵性的作用。

  SiC模塊 半導(dǎo)體 熱阻測試

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• 發(fā)布了文章 2024-06-11 16:06

  技術(shù)分享 | AEC-Q007中組件焊點開裂原因分析及相關(guān)車規(guī)標(biāo)準(zhǔn)介紹

  

  本文系統(tǒng)梳理了焊點開裂典型失效模式、失效機理，并整理了AEC-Q007及業(yè)內(nèi)日系、德系等主機廠對應(yīng)檢驗標(biāo)準(zhǔn)。

  AEC 汽車電子 焊點

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• 發(fā)布了文章 2024-05-17 14:45

  合作案例｜鈞聯(lián)電子自主研發(fā)的SiC功率模塊順利通過AQG-324認(rèn)證

  

  2024年3月，合肥鈞聯(lián)汽車電子有限公司（以下簡稱“鈞聯(lián)電子”）自主研發(fā)的SiC功率模塊（型號JLBH800N120SAM）順利通過AQG-324車規(guī)級功率模塊可靠性測試認(rèn)證，廣電計量提供本次AQG324車規(guī)級可靠性測試服務(wù)方案。廣電計量出具的AQG-324報告廣電計量合肥總經(jīng)理王繼忠為鈞聯(lián)電子總經(jīng)理陳兆銀頒發(fā)證AQG-324測試認(rèn)證內(nèi)容包含模塊測試、模塊特

  功率器件 功率模塊 半導(dǎo)體

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• 發(fā)布了文章 2024-04-23 11:31

  功率器件環(huán)境可靠性測試的加速老化物理模型

  

  高溫柵偏（HighTemperatureGateBias，HTGB）、高溫反偏（HighTemperatureReverseBias，HTRB）、高溫高濕反偏（HighHumidityHighTemperatureReverseBias，H3TRB）等環(huán)境可靠性測試是進行功率器件壽命評估所必備的試驗。由于不同標(biāo)準(zhǔn)下的試驗條件并不相同，因而理解上述環(huán)境可靠性測

  功率器件 可靠性測試

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