動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-03-03 15:48

  氬離子束研磨拋光助力EBSD樣品的高效制備

  

  EBSD樣品制備EBSD樣品的制備過程對實驗結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性有著極為重要的影響。目前，常用的EBSD樣品制備方法包括機(jī)械拋光、電解拋光和聚焦離子束（FIB）等，但這些方法各有其局限性。1.機(jī)械拋光的局限性機(jī)械拋光是一種傳統(tǒng)的EBSD樣品制備方法，雖然操作相對簡單，但存在諸多問題。首先，由于其硬度較大，可能會劃傷材料表面，尤其不適合硬度較低的材料。其次，機(jī)

  fib 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-02-28 16:11

  雙束聚焦離子束-掃描電鏡（FIB）：TEM樣品制備

  

  雙束聚焦離子束-掃描電鏡（DualBeamFocusedIonBeam,FIB）作為一種先進(jìn)的微觀加工與分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域。其不僅可以制作常見的截面透射電子顯微鏡（TEM）薄片樣品，還能根據(jù)不同的研發(fā)表征需求，對材料樣品的表面進(jìn)行平面加工制樣。截面與平面TEM樣品的區(qū)別截面TEM樣品與平面TEM樣品的主要區(qū)別在于觀察面的

  fib 掃描電鏡 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-02-27 14:33

  氣體腐蝕對電子產(chǎn)品的危害與應(yīng)對

  

  在當(dāng)今快速發(fā)展的科技時代，電子產(chǎn)品已成為人們生活中不可或缺的一部分。從日常使用的手機(jī)、電腦到復(fù)雜的工業(yè)設(shè)備和醫(yī)療器械，它們的性能和可靠性直接影響著我們的生活和生產(chǎn)效率。然而，在復(fù)雜的使用環(huán)境中，電子產(chǎn)品面臨著諸多挑戰(zhàn)，其中氣體腐蝕問題尤為突出。氣體腐蝕試驗的重要性腐蝕性氣體雖然在大氣中的濃度較低，但它們之間的相互作用會形成“倍乘效應(yīng)”，生成強(qiáng)酸并伴隨水分的生

  氣體 電子產(chǎn)品

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• 發(fā)布了文章 2025-02-26 15:24

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)原理和應(yīng)用

  

  FIB技術(shù)原理聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)作為一種前沿的納米級加工與分析手段。它巧妙地融合了離子束技術(shù)與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)的優(yōu)勢，憑借其獨特的原理、廣泛的應(yīng)用場景以及顯著的優(yōu)勢，成為現(xiàn)代科學(xué)研究與工業(yè)生產(chǎn)中不可或缺的重要工具。聚焦離子束技術(shù)的核心是液態(tài)金屬離子源。液態(tài)金屬離子源由一個半徑為2～5μm的鎢尖組成，鎢尖被尖

  fib SEM 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-02-26 15:22

  氬離子拋光如何應(yīng)用于材料微觀結(jié)構(gòu)分析

  

  微觀結(jié)構(gòu)的分析氬離子束拋光技術(shù)作為一種先進(jìn)的材料表面處理方法，憑借其精確的工藝參數(shù)控制，能夠有效去除樣品表面的損傷層，為高質(zhì)量的成像和分析提供理想的樣品表面。這一技術(shù)廣泛應(yīng)用于掃描電子顯微鏡（SEM）、光學(xué)顯微鏡、掃描探針顯微鏡等高端分析設(shè)備，并適用于能譜分析（EDS）、電子背散射衍射（EBSD）、陰極發(fā)光（CL）、電子束誘導(dǎo)電流（EBIC）等多種分析技術(shù)。

  顯微鏡 材料

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• 發(fā)布了文章 2025-02-25 17:31

  電氣設(shè)備的安全性與絕緣性能測試

  

  電氣設(shè)備在現(xiàn)代生產(chǎn)中的廣泛應(yīng)用極大地提升了生產(chǎn)效率，但同時也帶來了潛在的安全風(fēng)險。觸電事故和電氣火災(zāi)的發(fā)生，使得電氣設(shè)備的安全性成為產(chǎn)品質(zhì)量的首要考量因素。耐壓測試耐壓測試，也稱為介電強(qiáng)度測試，是一種用于檢驗電氣設(shè)備絕緣強(qiáng)度的重要手段。它通過施加高于設(shè)備正常工作電壓的高電壓，模擬設(shè)備在極端情況下的運行狀態(tài)，從而檢測絕緣材料是否能夠承受正常工作電壓以及短時過電

  電氣設(shè)備 電流 絕緣測試

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• 發(fā)布了文章 2025-02-25 17:29

  聚焦離子束與掃描電鏡聯(lián)用技術(shù)

  

  技術(shù)概述聚焦離子束與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)（FIB-SEM）是一種融合高分辨率成像與微納加工能力的前沿設(shè)備，主要由掃描電鏡（SEM）、聚焦離子束（FIB）和氣體注入系統(tǒng)（GIS）構(gòu)成。聚焦離子束系統(tǒng)利用靜電透鏡將離子束聚焦至極小尺寸，最小束斑直徑可小于10納米，是一種高精度的顯微加工工具。當(dāng)前商用系統(tǒng)中，離子源種類豐富，涵蓋鎵（Ga）、氙（Xe）、氦（He）等。在

  fib 掃描電鏡 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-02-25 17:28

  什么是錫須生長？

  

  AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)是由汽車電子委員會制定的一系列嚴(yán)格規(guī)范，目的是確保汽車使用的電子元件能夠在嚴(yán)酷的工作環(huán)境中保持高度的可靠性和性能穩(wěn)定性。在這些規(guī)范中，錫須測試占據(jù)了至關(guān)重要的地位，它專門用來評估電子元件在預(yù)期服務(wù)壽命期間產(chǎn)生錫須的潛在可能性。錫須測試對于維護(hù)汽車電子系統(tǒng)的安全性和可靠性是必不可少的，它幫助確保元件在面對高溫、濕度和其他環(huán)境壓力時不會發(fā)生故

  AEC 電子元件 錫須

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• 發(fā)布了文章 2025-02-25 17:26

  氬離子技術(shù)之電子顯微鏡樣品制備技術(shù)

  

  在材料科學(xué)的微觀研究領(lǐng)域，電子顯微鏡扮演著至關(guān)重要的角色。它能夠深入揭示材料樣品內(nèi)部的精細(xì)結(jié)構(gòu)，為科研人員分析組織形貌和結(jié)構(gòu)特征提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。掃描電鏡（SEM）樣品制備掃描電鏡（SEM）以其高分辨率和三維成像能力，廣泛應(yīng)用于材料表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)的觀察。其樣品制備方法根據(jù)樣品類型和觀察需求有所不同。1.塊狀樣品低倍率觀察（＜5萬倍）：對于低倍率觀察，

  TEM 掃描電鏡 顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-02-24 23:00

  聚焦離子束與掃描電鏡結(jié)合：雙束FIB-SEM切片應(yīng)用

  

  聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)作為一種前沿的納米級加工與分析手段，近年來在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。它巧妙地融合了離子束技術(shù)與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)的優(yōu)勢，憑借其獨特的原理、廣泛的應(yīng)用場景以及顯著的優(yōu)勢，成為現(xiàn)代科學(xué)研究與工業(yè)生產(chǎn)中不可或缺的重要工具。聚焦離子束系統(tǒng)的核心在于其獨特的離子束生成與聚焦機(jī)制。該系統(tǒng)以鎵離子

  SEM 掃描電鏡 離子束

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