動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-05-09 16:47

  透射電子顯微鏡（TEM）與聚焦離子束技術（FIB）在材料分析中的應用

  

  什么是透射電子顯微鏡（TEM）透射電子顯微鏡（TEM）是一種功能強大的分析工具，可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過三種不同的分析技術獲得固態(tài)樣品的化學信息：能量色散X射線分析（EDX）、電子能量損失光譜（EELS）和高角度環(huán)形暗場成像（HAADF）。金鑒實驗室配備先進的TEM設備，擁有經(jīng)驗豐富的操作團隊，可為客戶提供專業(yè)的材料分析服務。1.能量色散X射

  TEM 材料 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-05-08 14:30

  元器件失效分析有哪些方法？

  

  失效分析的定義與目標失效分析是對失效電子元器件進行診斷的過程。其核心目標是確定失效模式和失效機理。失效模式指的是我們觀察到的失效現(xiàn)象和形式，例如開路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等；而失效機理則是指導致失效的物理或化學過程，如疲勞、腐蝕、過應力等。通過失效分析，我們能夠提出有效的糾正措施，防止同類問題再次出現(xiàn)，從而提高產品的可靠性和穩(wěn)定性。失效分析的程序1.收集

  元器件 失效分析

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• 發(fā)布了文章 2025-05-08 14:26

  聚焦離子束技術：原理、應用與展望

  

  聚焦離子束技術（FocusedIonBeam，簡稱FIB）作為一種前沿的微觀加工與分析技術，近年來在眾多領域得到了廣泛應用。金鑒實驗室憑借其專業(yè)的檢測技術和服務，成為了眾多企業(yè)在半導體檢測領域的首選合作伙伴。FIB技術的基本原理聚焦離子束技術的核心在于將特定元素（如鎵元素）的離子化為帶正電的離子（Ga+），并通過電場加速使其獲得高能量。隨后，借助靜電透鏡系統(tǒng)

  fib 檢測 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-05-07 14:11

  AEC-Q102認證之器件可焊性

  

  可焊性測試在汽車電子中的關鍵地位在汽車電子行業(yè)，AEC-Q102標準為分立光電半導體元件的可靠性測試提供了全面而嚴格的規(guī)范。其中，可焊性測試作為核心環(huán)節(jié)之一，對于保障產品質量和性能發(fā)揮著至關重要的作用。汽車電子設備在運行過程中需要面對復雜多變的工作環(huán)境，如高溫、高濕、振動等，而良好的可焊性是確保光電半導體器件與電路板之間實現(xiàn)可靠電氣連接和機械固定的基礎。只有

  AEC 汽車電子 認證

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• 發(fā)布了文章 2025-05-06 15:06

  雪崩二極管：汽車電子系統(tǒng)中的關鍵光檢測元件

  

  雪崩二極管的原理與結構雪崩二極管（AvalanchePhotodiode，簡稱APD）是一種利用載流子雪崩倍增效應來放大光電信號的光檢測二極管。其核心原理是利用載流子雪崩倍增效應來放大光電信號。在高反向偏壓下工作時，光生載流子在強電場中獲得足夠的動能，與晶格碰撞產生新的電子-空穴對，從而實現(xiàn)載流子的雪崩倍增，顯著增加電流增益。這種倍增效應使得APD在低光強條

  二極管 汽車電子 雪崩二極管

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• 發(fā)布了文章 2025-05-06 15:03

  聚焦離子束技術在透射電子顯微鏡樣品制備中的應用

  

  聚焦離子束技術聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術是一種先進的微觀加工與分析手段，廣泛應用于材料科學、納米技術以及半導體研究等領域。FIB核心原理是利用離子源產生高能離子束，通常以鎵（Ga）離子為主，部分設備還配備氦（He）或氖（Ne）離子源。離子束在轟擊樣品時，會產生濺射現(xiàn)象，從而實現(xiàn)材料的精準去除，同時通過二次電子信號獲取樣品的形貌

  fib 電子顯微鏡 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-04-30 15:20

  FIB 技術在電池材料研究中的相關應用

  

  橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束（FIB）技術對電池材料進行精確切割，能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內部不同層次的結構特征，從而獲取材料在特定平面上的微觀信息。例如，通過橫截面分析可以清晰地觀察到不同成分的分布情況，了解各成分在材料內部的相對位置和分布范圍；同時，還能觀察到相界面的形態(tài)，確定不同相之間的接觸關系

  fib TEM 電池材料

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• 發(fā)布了文章 2025-04-29 17:28

  AEC-Q102中WHTOL及H3TRB試驗的異同

  

  汽車電子行業(yè)中光電半導體的要求在汽車電子行業(yè)我們熟知的光電半導體器件可靠性是確保車輛安全和性能的關鍵因素之一。隨著汽車技術的進步，這些器件不僅要在各種氣候條件下穩(wěn)定工作，還要承受來自車輛內部和外部的多種應力。AEC-Q102標準為這些器件提供了一套全面的測試和評估程序，以確保它們能夠滿足汽車行業(yè)的嚴格要求。WHTOL測試的重要性AEC-Q102標準中的一個重

  AEC 半導體 試驗

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• 發(fā)布了文章 2025-04-29 17:26

  元器件失效之推拉力測試

  

  元器件失效之推拉力測試在當代電子設備的生產與使用過程中，組件的故障不僅可能降低產品的性能，還可能導致產品徹底失效，給用戶帶來麻煩和經(jīng)濟損失，同時對制造商的聲譽和成本也會造成負面影響。為什么要做推拉力測試？在電子元件的焊接、運輸和使用過程中，它們經(jīng)常遭受到振動、沖擊以及彎曲等外部力量的干擾，這些力量可能在焊點或元件上產生機械應力，進而有可能導致焊點斷裂或元件損

  pcb PCB 元器件 推拉力測試機

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• 發(fā)布了文章 2025-04-28 20:18

  LED芯片質量檢測技術之X-ray檢測

  

  X射線檢測在光電半導體領域，LED芯片作為核心技術，其質量至關重要。隨著制造工藝的不斷進步，LED芯片的結構日益復雜，內部潛在缺陷的風險也隨之增加。盡管在常規(guī)工作條件下，這些缺陷可能不會明顯影響芯片的性能，但在高電流、高溫等極端環(huán)境下，它們可能引發(fā)功能失效，甚至導致整個LED系統(tǒng)損壞。因此，在LED芯片制造和應用過程中，利用無損檢測技術對內部結構進行詳細檢查

  LED芯片 x-ray 檢測技術

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