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金鑒實(shí)驗(yàn)室

金鑒實(shí)驗(yàn)室是光電半導(dǎo)體行業(yè)最知名的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)之一

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動(dòng)態(tài)

  • 發(fā)布了文章 2024-12-20 12:54

    汽車(chē)高分子材料光老化試驗(yàn)方法匯總

    材料老化測(cè)試的重要性材料老化測(cè)試是材料科學(xué)中的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù),它涉及對(duì)材料在自然環(huán)境下長(zhǎng)期使用后性能變化的預(yù)測(cè)和評(píng)估。這項(xiàng)技術(shù)對(duì)于橡膠、塑料、絕緣材料等的熱氧老化,以及電子元件和塑料產(chǎn)品的換氣老化至關(guān)重要。光老化測(cè)試模擬了太陽(yáng)光、溫度和濕度對(duì)高分子材料耐候性的影響,是材料老化研究的核心。光老化測(cè)試的原理光老化測(cè)試的核心在于模擬太陽(yáng)光中的紫外線、紅外線和可見(jiàn)光對(duì)
  • 發(fā)布了文章 2024-12-20 12:44

    鈦合金微觀結(jié)構(gòu)表征:EBSD制樣技術(shù)的應(yīng)用與經(jīng)驗(yàn)分析

    EBSD技術(shù)的進(jìn)步電子背散射衍射技術(shù)(EBSD)在材料科學(xué)領(lǐng)域扮演著越來(lái)越重要的角色。它允許科學(xué)家在掃描電子顯微鏡(SEM)下進(jìn)行顯微形貌、成分和晶體取向的綜合分析,極大地提高了材料研究的效率和準(zhǔn)確性。鈦合金圖譜備盡管EBSD技術(shù)帶來(lái)了許多便利,但它對(duì)操作者提出了較高的要求,操作者需要具備深厚的晶體學(xué)知識(shí)。此外,EBSD對(duì)樣品的制備也有嚴(yán)格的要求,這對(duì)于初學(xué)
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  • 發(fā)布了文章 2024-12-19 12:40

    離子束與材料的相互作用

    聚焦離子束(FIB)技術(shù)憑借其在微納米尺度加工和分析上的高精度和精細(xì)控制,已成為材料科學(xué)、納米技術(shù)和半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域的關(guān)鍵技術(shù)。該技術(shù)通過(guò)精確操控具有特定能量的離子束與材料相互作用,引發(fā)一系列復(fù)雜的物理化學(xué)效應(yīng),這些效應(yīng)深刻影響材料的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu),為多個(gè)領(lǐng)域的發(fā)展提供了重要的技術(shù)支持。荷能離子與固體表面作用的主要物理化學(xué)現(xiàn)象荷能離子與固體表面作用時(shí),會(huì)發(fā)生
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  • 發(fā)布了文章 2024-12-19 12:39

    AECQ-102 認(rèn)證試驗(yàn)項(xiàng)目全解析

    在汽車(chē)電子領(lǐng)域,AECQ-102認(rèn)證對(duì)于確保產(chǎn)品可靠性起著極為關(guān)鍵的作用。該認(rèn)證包含了一系列嚴(yán)謹(jǐn)且全面的試驗(yàn)項(xiàng)目,旨在對(duì)汽車(chē)用分立光電半導(dǎo)體產(chǎn)品進(jìn)行嚴(yán)格的性能與可靠性評(píng)估。一、環(huán)境應(yīng)力測(cè)試這一板塊的測(cè)試主要模擬產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的耐受能力。高溫存儲(chǔ)測(cè)試要求產(chǎn)品在規(guī)定的高溫環(huán)境(如150°C甚至更高)下存儲(chǔ)一定時(shí)長(zhǎng),例如1000小時(shí),以檢驗(yàn)其材料穩(wěn)定性與封裝
  • 發(fā)布了文章 2024-12-19 12:38

    RoHS2.0解析

    RoHS2.0的實(shí)施與擴(kuò)展自2019年7月22日起,歐盟對(duì)電子電器產(chǎn)品實(shí)施了更為嚴(yán)格的環(huán)保要求。這一規(guī)定要求所有進(jìn)入歐洲市場(chǎng)的電子電器產(chǎn)品(不包括醫(yī)療和監(jiān)控設(shè)備)必須遵守RoHS2.0指令,限制特定有害物質(zhì)的使用。到了2021年7月22日,這一規(guī)定進(jìn)一步擴(kuò)展到了醫(yī)療設(shè)備和監(jiān)控設(shè)備,包括體外醫(yī)療設(shè)備和工業(yè)監(jiān)控設(shè)備,從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)電子電器產(chǎn)品全面的環(huán)保管控。此外,
  • 發(fā)布了文章 2024-12-19 12:37

    如何進(jìn)行元器件篩選?

    電子元件的核心作用在電子設(shè)備中,電子元件扮演著基礎(chǔ)而關(guān)鍵的角色,它們是電子通信、數(shù)據(jù)處理和自動(dòng)化控制等技術(shù)領(lǐng)域的基石。篩選的必要性為了確保電子元件在其整個(gè)使用壽命內(nèi)都能穩(wěn)定工作,避免因元件本身的缺陷或制造過(guò)程中的差異導(dǎo)致的早期失效,必須依據(jù)應(yīng)用環(huán)境選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試類(lèi)型和條件進(jìn)行篩選,以排除可能早期失效的元件。篩選的分類(lèi)可靠性篩選涵蓋一次篩選、二次篩選、補(bǔ)充篩選
  • 發(fā)布了文章 2024-12-19 12:35

    鎂合金微觀結(jié)構(gòu)分析:EBSD制樣技術(shù)的應(yīng)用與經(jīng)驗(yàn)探討

    電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域,電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)以其卓越的晶體微區(qū)取向和結(jié)構(gòu)分析能力,已經(jīng)成為全球研究者不可或缺的工具。它不僅能夠提供關(guān)于材料微觀組織結(jié)構(gòu)和微織構(gòu)的精確信息,還極大地推動(dòng)了材料科學(xué)研究的深入發(fā)展。隨著技術(shù)的進(jìn)步,EBSD系統(tǒng)與能譜儀的結(jié)合,使得掃描電子顯微鏡能夠同時(shí)進(jìn)行顯微形貌、成分和取向的分析,這一進(jìn)步顯著提升了
  • 發(fā)布了文章 2024-12-18 12:24

    AEC-Q102之凝露試驗(yàn)

    隨著汽車(chē)電子產(chǎn)品在車(chē)輛中的廣泛應(yīng)用,對(duì)這些產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性要求也越來(lái)越高。濕度作為汽車(chē)工作環(huán)境中的關(guān)鍵因素,可能對(duì)電子元件造成腐蝕和損壞。因此,AEC-Q102凝露試驗(yàn)成為了評(píng)估汽車(chē)電子產(chǎn)品在高濕度條件下性能的重要測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。AEC-Q102凝露試驗(yàn)的重要性AEC-Q102凝露試驗(yàn)?zāi)M高濕度環(huán)境,評(píng)估電子產(chǎn)品的可靠性。通過(guò)這項(xiàng)試驗(yàn),制造商能夠評(píng)估產(chǎn)品在潮濕
  • 發(fā)布了文章 2024-12-18 12:21

    如何識(shí)別環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)兩者的差異?

    在工業(yè)產(chǎn)品的研發(fā)與生產(chǎn)過(guò)程中,環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)是兩個(gè)至關(guān)重要的概念。它們共同目標(biāo)是確保產(chǎn)品能夠在預(yù)期的運(yùn)輸、存儲(chǔ)、使用和維護(hù)周期內(nèi)滿(mǎn)足規(guī)定的要求,但它們?cè)趯?shí)施方式、目的和結(jié)果評(píng)估上存在明顯的差異。環(huán)境試驗(yàn)的內(nèi)涵環(huán)境試驗(yàn)主要考察產(chǎn)品對(duì)各種環(huán)境條件的適應(yīng)性,包括溫度、濕度、鹽霧、振動(dòng)沖擊等。金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有先進(jìn)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備,能夠模擬產(chǎn)品在其生命周期中可能遇到
  • 發(fā)布了文章 2024-12-18 12:20

    石油地質(zhì)領(lǐng)域中氬離子拋光儀的技術(shù)應(yīng)用

    石油勘探的微觀世界在石油勘探領(lǐng)域,掃描電子顯微鏡(SEM)是不可或缺的分析工具。它能夠揭示沉積巖中的微觀結(jié)構(gòu),包括有機(jī)質(zhì)、粘土礦物、鈣質(zhì)超微化石以及儲(chǔ)集巖等,對(duì)石油勘探的深入研究具有重大意義。樣品制備在進(jìn)行SEM分析之前,必須對(duì)樣品進(jìn)行精細(xì)的制備。傳統(tǒng)的研磨和拋光方法可能會(huì)對(duì)樣品表面造成不可逆的損傷,如劃痕、污染和形變,這些都會(huì)影響對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確觀察。

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公司介紹:金鑒實(shí)驗(yàn)室是半導(dǎo)體行業(yè)最知名的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)之一,是專(zhuān)注于第三代半導(dǎo)體氮化鎵和碳化硅芯片和器件失效分析的新業(yè)態(tài)科研檢測(cè)機(jī)構(gòu)。金鑒實(shí)驗(yàn)室是工業(yè)和信息化廳認(rèn)定的“中小企業(yè)LED材料表征與失效分析公共技術(shù)服務(wù)平臺(tái)”。金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有CMA和CNAS資質(zhì),可提供LED材料及失效分析、LED質(zhì)量鑒定及解決方案、司法鑒定、材料表征測(cè)試等服務(wù),所發(fā)布的檢測(cè)報(bào)告可用于產(chǎn)品質(zhì)量評(píng)價(jià)、成果驗(yàn)收及司法鑒定,具有法律效力。

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