動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-12-05 15:29

  EBSD樣品制備技術(shù)的對(duì)比分析

  

  電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)因其能夠揭示材料的微觀結(jié)構(gòu)特征而變得不可或缺。這項(xiàng)技術(shù)依賴于對(duì)樣品表面的精確分析，因此，制備符合要求的EBSD樣品是實(shí)現(xiàn)有效分析的前提。1.清潔表面：樣品表面需要達(dá)到極高的清潔標(biāo)準(zhǔn)，不得有油污、氧化層或其他任何形式的污染，以保證電子束能直接與樣品相互作用。2.平整度：樣品表面必須足夠平整，以減少電子束散射并提升衍射信號(hào)的清晰度。

  顯微鏡 離子束

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• 發(fā)布了文章 2024-12-04 12:40

  LED光源抗硫化實(shí)驗(yàn)

  

  在照明技術(shù)迅速發(fā)展的今天，LED光源憑借其高效率、耐用性和環(huán)境友好性，已成為市場(chǎng)上的主流選擇。盡管如此，LED光源在實(shí)際應(yīng)用中仍面臨諸多挑戰(zhàn)，尤其是硫化導(dǎo)致的變色問題，這不僅影響產(chǎn)品的外觀，更關(guān)鍵的是會(huì)降低光源的性能和壽命。金鑒實(shí)驗(yàn)室是一家專注于LED產(chǎn)業(yè)的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，致力于改善LED品質(zhì)，服務(wù)LED產(chǎn)業(yè)鏈中各個(gè)環(huán)節(jié)，使LED產(chǎn)業(yè)健康發(fā)展。測(cè)試方案方法一

  led 光源 測(cè)試

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• 發(fā)布了文章 2024-12-04 12:39

  氬離子拋光在電鏡樣品制備中的優(yōu)勢(shì)：超越FIB的大面積處理能力

  

  氬離子拋光技術(shù)概述氬離子拋光技術(shù)是一種先進(jìn)的樣品制備方法，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)和微觀分析領(lǐng)域。該技術(shù)通過使用惰性氣體氬的離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行精確的切割和拋光，以獲得高質(zhì)量的樣品表面，從而便于進(jìn)行后續(xù)的電子顯微鏡成像、能譜分析、電子背散射衍射、光致發(fā)光等高級(jí)分析。氬離子切割技術(shù)原理氬離子切割技術(shù)的核心在于其寬離子束的應(yīng)用，這種離子束通常寬度約為1毫米，能夠精確地

  切割技術(shù) 顯微鏡 電鏡

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• 發(fā)布了文章 2024-12-04 12:38

  AEC-Q102板彎曲試驗(yàn)的重要性

  

  在汽車電子領(lǐng)域，電子組件的穩(wěn)定性對(duì)于保障汽車的安全性和性能發(fā)揮著關(guān)鍵作用。隨著技術(shù)的進(jìn)步，汽車中電子系統(tǒng)的比重不斷增加，它們不僅支撐著動(dòng)力系統(tǒng)的運(yùn)轉(zhuǎn)，還涵蓋了安全系統(tǒng)和信息娛樂系統(tǒng)。這些系統(tǒng)的正常運(yùn)作都離不開電子元件的可靠性。因此，對(duì)于汽車制造商和零部件供應(yīng)商來說，確保這些電子元件在多變的環(huán)境條件下依然能夠可靠地工作，是一個(gè)亟待解決的重要問題。金鑒實(shí)驗(yàn)室是一

  汽車電子 電路板彎曲 試驗(yàn)

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• 發(fā)布了文章 2024-12-04 12:37

  離子束技術(shù)在多領(lǐng)域的應(yīng)用探索

  

  聚焦離子束技術(shù)（FIB）聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）是一種高精度的微納加工手段，它通過加速并聚焦液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束，照射在樣品表面，從而產(chǎn)生二次電子信號(hào)以形成電子像。這一過程與掃描電子顯微鏡（SEM）的成像原理相似，但FIB利用高能離子束對(duì)材料表面原子進(jìn)行剝離，實(shí)現(xiàn)微米至納米級(jí)別的精確加工。FIB技術(shù)結(jié)合物理濺射和化學(xué)氣體反

  fib 離子束 芯片

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• 發(fā)布了文章 2024-12-04 12:35

  什么是RoHS測(cè)試？

  

  RoHS，全稱為《電氣、電子設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》，是一個(gè)旨在限制電子電氣產(chǎn)品中特定有害物質(zhì)使用的法規(guī)。歐盟于2006年7月1日實(shí)施了RoHS指令的第一版（RoHS1.0），明確限制了六種有害物質(zhì)的使用，包括鉛、鎘、汞、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚。違反這些限制的產(chǎn)品在出口到歐盟時(shí)可能會(huì)受到重罰。RoHS2.02015年6月4日，歐盟通過指令(EU

  RoHS 測(cè)試 電氣

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 12:18

  LED驅(qū)動(dòng)電源故障診斷與分析

  

  在LED照明系統(tǒng)中，驅(qū)動(dòng)電源的穩(wěn)定性對(duì)于整個(gè)燈具的壽命至關(guān)重要。盡管LED光源本身具有較長(zhǎng)的使用壽命，但LED驅(qū)動(dòng)電源的復(fù)雜性往往導(dǎo)致其成為系統(tǒng)中的薄弱環(huán)節(jié)。據(jù)統(tǒng)計(jì)，超過80%的LED燈具失效是由于驅(qū)動(dòng)電源的問題引起的。電子元器件的老化問題電子元器件是LED驅(qū)動(dòng)電源的核心組成部分，包括電阻、電容、二極管、三極管等。這些元器件在長(zhǎng)期使用過程中，可能會(huì)因?yàn)殚_路、

  led 照明系統(tǒng) 驅(qū)動(dòng)電源

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 12:17

  材料失效分析方法匯總

  

  材料故障診斷學(xué)：失效分析技術(shù)失效分析技術(shù)，作為材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)的關(guān)鍵分支，致力于運(yùn)用科學(xué)方法論來識(shí)別、分析并解決材料與產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用過程中出現(xiàn)的故障問題。該技術(shù)對(duì)于增強(qiáng)產(chǎn)品的可靠性、改進(jìn)設(shè)計(jì)、優(yōu)化制造流程、減少成本以及提升市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力扮演著至關(guān)重要的角色。失效分析的科學(xué)方法論失效分析的科學(xué)方法論是一套系統(tǒng)化流程，它從識(shí)別失效模式著手，通過觀察失效現(xiàn)象，逐步推導(dǎo)出

  失效分析 材料 電子元器件

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 12:16

  電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)在孿晶結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用研究

  

  電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)作為一種先進(jìn)的材料表征手段，其在孿晶分析中的應(yīng)用日益廣泛。EBSD技術(shù)通過分析掃描電鏡中電子束與樣品表面相互作用產(chǎn)生的衍射菊池帶，能夠精確地確定材料的晶體結(jié)構(gòu)、取向以及晶界等信息。TWIP鋼(Fe–22wt.%Mn–0.6wt.%C,FCC)的孿生變形行為取向依賴性(a)拉伸真應(yīng)變?yōu)?.3時(shí)試樣縱截面取向成像圖;(b)產(chǎn)生和未產(chǎn)

  材料 電子束 鎂合金

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 12:14

  雙束FIB-SEM系統(tǒng)在材料科學(xué)中的應(yīng)用

  

  導(dǎo)語聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）是一種先進(jìn)的微納加工和成像技術(shù)，它在材料科學(xué)研究中扮演著不可或缺的角色。FIB-SEM系統(tǒng)能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行精確的定點(diǎn)切割和分析，從而揭示材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和成分。以CdS微米線為例，通過光學(xué)顯微鏡觀察，我們可以看到微米線節(jié)點(diǎn)處可能含有其他物質(zhì)，但無法確定具體成分和內(nèi)部形貌。利用FIB-SEM技術(shù)，我們可以在節(jié)點(diǎn)處

  掃描電鏡 顯微鏡 材料

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