動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-04-02 17:40

  BMS IC測試：確保電池安全和性能的關(guān)鍵

  

  電池管理系統(tǒng)（BMS）在管理和保護(hù)各領(lǐng)域電池組健康、安全及性能方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。從儲(chǔ)能系統(tǒng)到消費(fèi)電子、工業(yè)機(jī)械及可再生能源領(lǐng)域，任何依賴可充電電池的系統(tǒng)都離不開可靠的BMS。在這些應(yīng)用場景中，BMS會(huì)持續(xù)監(jiān)控并均衡電池組內(nèi)的各個(gè)電池單元，確保高效且安全地滿足電力需求，防范潛在危險(xiǎn)，并最大限度地延長電池使用壽命。為確保這些關(guān)鍵組件的可靠性和功能性，必須

  bms IC測試 電池安全

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• 發(fā)布了文章 2025-01-03 11:44

  SPEA創(chuàng)新實(shí)踐：AI芯片混合信號測試儀

  

  芯片是人工智能（AI）應(yīng)用的支柱，為從自動(dòng)駕駛汽車到虛擬助手等各類應(yīng)用提供著核心動(dòng)力。AI芯片專門設(shè)計(jì)用于處理海量數(shù)據(jù)，并能實(shí)時(shí)做出決策，因此它們對于確保最終應(yīng)用的成功發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。隨著AI引發(fā)的變革，各行業(yè)對更強(qiáng)大、更高效的AI芯片的需求持續(xù)攀升。AI算法的日益復(fù)雜，市場對AI運(yùn)行速度需求不斷提升，測試AI芯片已成為半導(dǎo)體公司面臨的一大挑戰(zhàn)。如果沒

  AI芯片 測試儀 混合信號

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• 發(fā)布了文章 2025-01-03 11:40

  DOT800 多核混合信號測試儀

  

  DOT800將兩臺測試儀的能力融合到一個(gè)只有測試頭的系統(tǒng)中，采用創(chuàng)新的面向器件的儀器，所有模擬、數(shù)字和信號處理資源都集中在一個(gè)功能強(qiáng)大的可配置主板上。測試性能優(yōu)越，多站點(diǎn)效率>99.5%。多核心架構(gòu)DOT800由兩個(gè)體積小于0.3立方米的獨(dú)立系統(tǒng)核心構(gòu)成。每個(gè)核心配有一個(gè)專用CPU，用于在全異步模式下執(zhí)行測試程序，從而確保達(dá)到最高的并行測試效率。儀器功能強(qiáng)大

  主板 測試儀 混合信號

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• 發(fā)布了文章 2024-12-31 17:21

  SPEA—ADC與DAC測試簡介

  

  如今，有大量應(yīng)用都依賴于數(shù)模轉(zhuǎn)換器（DAC）和模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）。它們在信號處理中非常重要，因?yàn)樗鼈儤?gòu)建了數(shù)字系統(tǒng)和模擬系統(tǒng)之間的橋梁。通過使數(shù)字電路能夠與模擬組件交互，ADC和DAC在音頻處理、電信、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。DAC與ADC的作用模數(shù)轉(zhuǎn)換器是現(xiàn)代數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)（DAQ或DAS系統(tǒng)）中的基本構(gòu)建模塊。它們將調(diào)節(jié)后的模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)

  adc ADC dac 采集系統(tǒng)

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• 發(fā)布了文章 2024-12-19 13:12

  都靈理工大學(xué)校長一行再訪SPEA

  

  SPEA與都靈理工大學(xué)有著深厚的歷史淵源，雙方通過構(gòu)建人才培養(yǎng)體系、推動(dòng)融合創(chuàng)新、不斷拓寬技術(shù)應(yīng)用的邊界，共同促進(jìn)了自動(dòng)化測試技術(shù)在半導(dǎo)體、MEMS傳感器、電子制造等多個(gè)關(guān)鍵領(lǐng)域快速發(fā)展。近日，都靈理工大學(xué)校長率領(lǐng)代表團(tuán)，再度訪問SPEA總部，雙方展開了一場深入且富有成效的交流。交流內(nèi)容涵蓋科技創(chuàng)新的前沿方向、人才培育新策略、機(jī)械設(shè)備制造、測試技術(shù)等。SPE

  半導(dǎo)體 機(jī)械設(shè)備 自動(dòng)化測試

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• 發(fā)布了文章 2024-12-06 01:05

  Rinaldi代表團(tuán)到訪SPEA總部：探索全球頂尖自動(dòng)化測試技術(shù)

  

  在自動(dòng)化測試的廣闊領(lǐng)域中，SPEA憑借飛針測試儀、功率半導(dǎo)體測試設(shè)備、MEMS測試系統(tǒng)等一系列創(chuàng)新產(chǎn)品,不斷為前沿科技產(chǎn)業(yè)注入強(qiáng)勁動(dòng)力，已然成為支撐汽車產(chǎn)業(yè)向電動(dòng)化、智能化發(fā)展的重要推手。正因如此，SPEA總部常迎來各方合作伙伴與參觀者的青睞。近日，Rinaldi代表團(tuán)20余位客戶到訪了SPEA總部，踏上了探索前沿科技的旅程。SPEACEOLucianoBo

  半導(dǎo)體測試 測試儀 自動(dòng)化測量

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 01:05

  SPEA出席第十六屆在蘇意大利企業(yè)答謝交流會(huì)

  

  近日，中國意大利商會(huì)（CICC）在意大利駐上?？傤I(lǐng)事館及蘇州政府大力支持下，于蘇州工業(yè)園區(qū)香格里拉酒店舉辦了第十六屆在蘇意大利企業(yè)答謝交流會(huì)。包括SPEA在內(nèi)的一批知名意大利企業(yè)代表出席本次活動(dòng)。意大利大使安博思、意大利駐上海總領(lǐng)事館等嘉賓的蒞臨，極大地提升了本次交流會(huì)的規(guī)格與影響力。答謝交流會(huì)期間，眾多企業(yè)代表分享各自企業(yè)的在蘇發(fā)展近況與未來規(guī)劃，展現(xiàn)了對

  傳感器 半導(dǎo)體

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• 發(fā)布了文章 2024-11-15 01:07

  SPEA接待歐洲半導(dǎo)體地區(qū)聯(lián)盟（ESRA）代表團(tuán)

  

  SPEA接待歐洲半導(dǎo)體地區(qū)聯(lián)盟（ESRA）代表團(tuán)

  半導(dǎo)體 測試設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2024-10-23 08:07

  新加坡裕廊西中學(xué)到訪SPEA蘇州

  

  10月22日，SPEA蘇州測試培訓(xùn)中心迎來了一批特殊的訪客——新加坡裕廊西中學(xué)的60余位師生。在SPEA蘇州團(tuán)隊(duì)的熱情陪同下，師生們開啟了一場聚焦自動(dòng)化測試的參訪探索之旅。步入SPEA蘇州測試實(shí)驗(yàn)室，展現(xiàn)在眾人眼前的是一系列尖端的半導(dǎo)體測試機(jī)、MEMS測試設(shè)備以及飛針測試設(shè)備，數(shù)位專業(yè)的測試工程師正聚精會(huì)神地進(jìn)行著設(shè)備的調(diào)試與測試工作。井然有序的工作環(huán)境，精

  測試機(jī) 測試設(shè)備 自動(dòng)化測試

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• 發(fā)布了文章 2024-10-10 08:06

  喜訊：都靈理工大學(xué)與 SPEA 簽署測試研究協(xié)議，共繪電子測試新篇章

  

  SPEANewsStefanoCorgnati校長、SPEACEOLucianoBonaria▲近日，都靈理工大學(xué)與SPEA在校長StefanoCorgnati、SPEACEOLucianoBonaria見證下，簽署了一項(xiàng)具有里程碑意義的合作協(xié)議。這項(xiàng)協(xié)議有望推動(dòng)微芯片測試、微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）、自動(dòng)化機(jī)械設(shè)計(jì)生產(chǎn)等領(lǐng)域融合創(chuàng)新。作為電子測試領(lǐng)域的全球領(lǐng)袖

  電子測試 自動(dòng)化測試 芯片測試

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