動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-06-27 17:27

  SPEA一行走進(jìn)西郊利物浦太倉芯片學(xué)院開展產(chǎn)學(xué)研交流

  

  近日，SPEA首席企業(yè)發(fā)展官FabrizioRimondotto攜斯貝亞（蘇州）總經(jīng)理孫媛麗、副總經(jīng)理?xiàng)钊~明一行，拜訪了西郊利物浦大學(xué)（以下簡稱“西浦”）太倉校區(qū)，與芯片學(xué)院陳院長及助理教授Dr.ArjunKumar進(jìn)行了深入而友好的產(chǎn)學(xué)研交流。西浦芯片學(xué)院始終緊跟前沿科技行業(yè)發(fā)展趨勢，不斷優(yōu)化課程體系，積極推動教育教學(xué)與社會實(shí)踐的深度融合，致力于培養(yǎng)適應(yīng)市

  自動化測試 芯片

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• 發(fā)布了文章 2025-06-03 17:44

  新起點(diǎn)·新形象 | SPEA 新加坡子公司喬遷新址

  

  繼SPEA中國子公司煥新升級、泰國子公司落成之后，SPEA新加坡子公司又傳來好消息——近期順利喬遷至加基武吉工業(yè)區(qū)Techview商業(yè)中心。早在2005年，SPEA便敏銳地捕捉到新加坡市場蘊(yùn)含的巨大潛力，旋即設(shè)立子公司，開啟布局東南亞市場的關(guān)鍵一步。通過向當(dāng)?shù)匕雽?dǎo)體及電路板廠商提供領(lǐng)先的ATE產(chǎn)品（自動測試設(shè)備）,SPEA一路披荊斬棘，漸入佳境。經(jīng)過多年穩(wěn)健

  ATE 自動測試設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2025-05-12 11:46

  MEMS測試設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化：降本增效必經(jīng)之路

  

  經(jīng)過二十余年產(chǎn)業(yè)化發(fā)展，微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）行業(yè)正迎來關(guān)鍵轉(zhuǎn)型期——從定制化測試解決方案向標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)備與方法轉(zhuǎn)變。這一變化或預(yù)示著產(chǎn)業(yè)將逐步告別"應(yīng)用定制化"的傳統(tǒng)模式。構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化、通用化測試平臺，有望提升MEMS廠商效率、優(yōu)化成本、改善擴(kuò)展性，并助力其在競爭日益激烈的市場環(huán)境中破局前行。MEMS測試面臨的挑戰(zhàn)自本世紀(jì)初以來，微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）器件已廣泛

  mems 標(biāo)準(zhǔn)化 測試設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2025-04-30 18:33

  【展會回顧】NEPCON CHINA 2025 圓滿落幕

  

  近日，NEPCONChina2025在上海世博展覽館圓滿收官。SPEA聚焦電子制造、LED測試、功率半導(dǎo)體測試等關(guān)鍵領(lǐng)域的熱門測試需求，以頂尖測試產(chǎn)品和解決方案為支點(diǎn)，為展會增添了濃墨重彩的一筆。我司的展位前人頭攢動、熱鬧非凡，新老客戶、圈層同仁及海外觀眾紛至沓來。SPEA團(tuán)隊(duì)精神飽滿、熱情洋溢，與觀眾深度互動，盡顯公司在電性能測試、半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的強(qiáng)大品牌

  半導(dǎo)體測試 電子制造

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• 發(fā)布了文章 2025-04-02 17:40

  BMS IC測試：確保電池安全和性能的關(guān)鍵

  

  電池管理系統(tǒng)（BMS）在管理和保護(hù)各領(lǐng)域電池組健康、安全及性能方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。從儲能系統(tǒng)到消費(fèi)電子、工業(yè)機(jī)械及可再生能源領(lǐng)域，任何依賴可充電電池的系統(tǒng)都離不開可靠的BMS。在這些應(yīng)用場景中，BMS會持續(xù)監(jiān)控并均衡電池組內(nèi)的各個電池單元，確保高效且安全地滿足電力需求，防范潛在危險(xiǎn)，并最大限度地延長電池使用壽命。為確保這些關(guān)鍵組件的可靠性和功能性，必須

  bms IC測試 電池安全

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• 發(fā)布了文章 2025-01-03 11:44

  SPEA創(chuàng)新實(shí)踐：AI芯片混合信號測試儀

  

  芯片是人工智能（AI）應(yīng)用的支柱，為從自動駕駛汽車到虛擬助手等各類應(yīng)用提供著核心動力。AI芯片專門設(shè)計(jì)用于處理海量數(shù)據(jù)，并能實(shí)時(shí)做出決策，因此它們對于確保最終應(yīng)用的成功發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。隨著AI引發(fā)的變革，各行業(yè)對更強(qiáng)大、更高效的AI芯片的需求持續(xù)攀升。AI算法的日益復(fù)雜，市場對AI運(yùn)行速度需求不斷提升，測試AI芯片已成為半導(dǎo)體公司面臨的一大挑戰(zhàn)。如果沒

  AI芯片 測試儀 混合信號

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• 發(fā)布了文章 2025-01-03 11:40

  DOT800 多核混合信號測試儀

  

  DOT800將兩臺測試儀的能力融合到一個只有測試頭的系統(tǒng)中，采用創(chuàng)新的面向器件的儀器，所有模擬、數(shù)字和信號處理資源都集中在一個功能強(qiáng)大的可配置主板上。測試性能優(yōu)越，多站點(diǎn)效率>99.5%。多核心架構(gòu)DOT800由兩個體積小于0.3立方米的獨(dú)立系統(tǒng)核心構(gòu)成。每個核心配有一個專用CPU，用于在全異步模式下執(zhí)行測試程序，從而確保達(dá)到最高的并行測試效率。儀器功能強(qiáng)大

  主板 測試儀 混合信號

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• 發(fā)布了文章 2024-12-31 17:21

  SPEA—ADC與DAC測試簡介

  

  如今，有大量應(yīng)用都依賴于數(shù)模轉(zhuǎn)換器（DAC）和模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）。它們在信號處理中非常重要，因?yàn)樗鼈儤?gòu)建了數(shù)字系統(tǒng)和模擬系統(tǒng)之間的橋梁。通過使數(shù)字電路能夠與模擬組件交互，ADC和DAC在音頻處理、電信、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。DAC與ADC的作用模數(shù)轉(zhuǎn)換器是現(xiàn)代數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)（DAQ或DAS系統(tǒng)）中的基本構(gòu)建模塊。它們將調(diào)節(jié)后的模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)

  adc ADC dac 采集系統(tǒng)

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• 發(fā)布了文章 2024-12-19 13:12

  都靈理工大學(xué)校長一行再訪SPEA

  

  SPEA與都靈理工大學(xué)有著深厚的歷史淵源，雙方通過構(gòu)建人才培養(yǎng)體系、推動融合創(chuàng)新、不斷拓寬技術(shù)應(yīng)用的邊界，共同促進(jìn)了自動化測試技術(shù)在半導(dǎo)體、MEMS傳感器、電子制造等多個關(guān)鍵領(lǐng)域快速發(fā)展。近日，都靈理工大學(xué)校長率領(lǐng)代表團(tuán)，再度訪問SPEA總部，雙方展開了一場深入且富有成效的交流。交流內(nèi)容涵蓋科技創(chuàng)新的前沿方向、人才培育新策略、機(jī)械設(shè)備制造、測試技術(shù)等。SPE

  半導(dǎo)體 機(jī)械設(shè)備 自動化測試

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• 發(fā)布了文章 2024-12-06 01:05

  Rinaldi代表團(tuán)到訪SPEA總部：探索全球頂尖自動化測試技術(shù)

  

  在自動化測試的廣闊領(lǐng)域中，SPEA憑借飛針測試儀、功率半導(dǎo)體測試設(shè)備、MEMS測試系統(tǒng)等一系列創(chuàng)新產(chǎn)品,不斷為前沿科技產(chǎn)業(yè)注入強(qiáng)勁動力，已然成為支撐汽車產(chǎn)業(yè)向電動化、智能化發(fā)展的重要推手。正因如此，SPEA總部常迎來各方合作伙伴與參觀者的青睞。近日，Rinaldi代表團(tuán)20余位客戶到訪了SPEA總部，踏上了探索前沿科技的旅程。SPEACEOLucianoBo

  半導(dǎo)體測試 測試儀 自動化測量

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