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案例4:傳導(dǎo)騷擾測(cè)試中應(yīng)該注意的接地環(huán)路2025-11-21 14:43
案例4:傳導(dǎo)騷擾測(cè)試中應(yīng)該注意的接地環(huán)路【現(xiàn)象描述】某信息技術(shù)設(shè)備有外接信號(hào)電纜及供電電源線。電源口傳導(dǎo)測(cè)試時(shí),EUT接地線就近接參考接地板,測(cè)試配置圖如圖2.24所示,測(cè)試結(jié)果如圖2.25所示。由圖2.25可知,該產(chǎn)品的電源口的傳導(dǎo)騷擾不能滿足圖中所示限值的要求,需要分析產(chǎn)生傳導(dǎo)騷擾過(guò)高的原因。【原因分析】關(guān)于電源口傳導(dǎo)騷擾測(cè)試的原理,可以參考案例3中的描 -
從“被動(dòng)整改”走向“主動(dòng)設(shè)計(jì)”——第11期課程安排新鮮出爐!2025-11-19 17:00
系統(tǒng)重塑EMC設(shè)計(jì)思維“知其然”而“不知其所以然”是設(shè)計(jì)與整改路上最大的絆腳石。為此,賽盛技術(shù)凝聚多年一線實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn),重磅推出第11期《EMC實(shí)戰(zhàn)特訓(xùn)營(yíng)》。本課程并非簡(jiǎn)單的理論堆砌,而是一場(chǎng)旨在徹底重塑工程師EMC設(shè)計(jì)理念的深度賦能之旅。我們致力于幫助您:1從電磁場(chǎng)基礎(chǔ)到PCB布局,從器件選型到系統(tǒng)設(shè)計(jì),打通EMC設(shè)計(jì)的任督二脈。3通過(guò)大量經(jīng)典案例解析、模塊化 -
精彩回顧 | 《器件選型EMC問(wèn)題解析與交流》直播圓滿結(jié)束!2025-11-13 15:13
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PCB設(shè)計(jì)中的“隱形障礙”:電磁兼容問(wèn)題的終極解析2025-11-12 17:32
PCB板作為電子產(chǎn)品的核心組成部分,不僅是信號(hào)傳輸?shù)妮d體,還是噪聲源和敏感源,其電磁兼容性直接影響著產(chǎn)品的正常運(yùn)行和可靠性。然而,面對(duì)復(fù)雜的電磁干擾環(huán)境,如何設(shè)計(jì)出符合EMC要求的PCB板,成為了許多硬件開(kāi)發(fā)工程師亟需解決的問(wèn)題!賽盛技術(shù)特邀具有豐富實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)的石老師,開(kāi)設(shè)《PCB電磁兼容設(shè)計(jì)與評(píng)審方法》公開(kāi)課。為廣大工程師提供一系列電磁兼容設(shè)計(jì)的實(shí)戰(zhàn)方法與技 -
【EMC技術(shù)案例】SPI模塊搭接機(jī)殼導(dǎo)致輻射超標(biāo)問(wèn)題案例2025-11-11 17:26
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四大EMC王牌導(dǎo)師集結(jié)!2025-11-06 17:08
帶你穿透技術(shù)迷霧!SAISHENG在技術(shù)成長(zhǎng)的道路上,最難得的不是遇到多少資料,而是遇到一位真正能“傳道授業(yè)解惑”的明師——他不僅自己身經(jīng)百戰(zhàn),更懂得如何把復(fù)雜問(wèn)題講透,把實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)傳承。賽盛技術(shù)EMC實(shí)戰(zhàn)特訓(xùn)營(yíng)第11期,集結(jié)了四位EMC的王牌導(dǎo)師。他們是從數(shù)以千計(jì)的工程實(shí)戰(zhàn)中淬煉出來(lái)的“老兵”。累計(jì)擁有的80年技術(shù)功力,將在本期特訓(xùn)營(yíng)中,為您系統(tǒng)傾注。01吳 -
精彩回顧 | 《電源EMC問(wèn)題解析與交流》直播圓滿結(jié)束!2025-10-30 17:24
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從設(shè)計(jì)源頭就“免疫”EMC問(wèn)題2025-10-24 17:25
告別“打補(bǔ)丁”式研發(fā)!在電子產(chǎn)品研發(fā)中,您是否經(jīng)常遇到這樣的場(chǎng)景:•產(chǎn)品功能完美,卻倒在輻射發(fā)射超標(biāo)的測(cè)試線上;•實(shí)驗(yàn)室里隨機(jī)重啟,根源竟是看不見(jiàn)摸不著的電磁干擾;•為了通過(guò)認(rèn)證,在后期拼命加磁環(huán)、貼銅箔,成本飆升卻收效甚微……這,就是典型的“逆向設(shè)計(jì)”困局——等問(wèn)題出現(xiàn)了,再像“打補(bǔ)丁”一樣去補(bǔ)救。它不僅耗費(fèi)巨大,更讓研發(fā)進(jìn)度一再延誤,讓團(tuán)隊(duì)精疲力盡。如何 -
【EMC技術(shù)案例】芯片下方電源走線導(dǎo)致ESD測(cè)試Fail案例2025-10-20 17:02
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【案例1.6】在電子產(chǎn)品測(cè)試中與濕度有關(guān)的問(wèn)題2025-10-16 17:32
【案例1.6】在電子產(chǎn)品測(cè)試中與濕度有關(guān)的問(wèn)題本案例討論與濕度有關(guān)的測(cè)試項(xiàng)目?!居懻摗縀SD(ElectronicStateDischarge,靜電放電)敏感度測(cè)試是EMC測(cè)試中的一個(gè)重要測(cè)試項(xiàng)目。濕度對(duì)ESD有較大影響。相對(duì)濕度越低,越容易積累靜電。在IEC61000-4-2的附錄A中,提到了相對(duì)濕度和可能產(chǎn)生的靜電電壓的關(guān)系(見(jiàn)圖1.15),正好可以說(shuō)明