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      【EMC技術(shù)案例】芯片下方電源走線導(dǎo)致ESD測(cè)試Fail案例

      賽盛技術(shù) ? 2025-10-20 17:02 ? 次閱讀
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        發(fā)表于 02-20 15:43

        esd,emc設(shè)計(jì)優(yōu)化

        針對(duì)esd,emc的技術(shù)問題，是工程師比較費(fèi)腦力和體力的，也存在不能測(cè)試通過的風(fēng)險(xiǎn)。要解決esd,emc
        發(fā)表于 07-02 11:21

        ESD,EMC整改

        針對(duì)esd,emc的技術(shù)問題，是工程師比較費(fèi)腦力和體力的，也存在不能測(cè)試通過的風(fēng)險(xiǎn)。要解決esd,emc
        發(fā)表于 07-02 12:27

        因測(cè)試布置不規(guī)范導(dǎo)致RE102測(cè)試FAIL案例

        因測(cè)試布置不規(guī)范導(dǎo)致RE102測(cè)試FAIL案例
        的頭像 發(fā)表于 06-10 16:46 ?1779次閱讀
        因<b class='flag-5'>測(cè)試</b>布置不規(guī)范<b class='flag-5'>導(dǎo)致</b>RE102<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>FAIL</b>案例

        【電磁兼容技術(shù)案例分享】因測(cè)試布置不規(guī)范導(dǎo)致RE102測(cè)試FAIL案例

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        的頭像 發(fā)表于 07-31 16:58 ?4218次閱讀
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        電源機(jī)箱的實(shí)際走線效果測(cè)試

        電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《電源機(jī)箱的實(shí)際走線效果測(cè)試.doc》資料免費(fèi)下載
        發(fā)表于 11-15 10:32 ?0次下載
        <b class='flag-5'>電源</b>機(jī)箱的實(shí)際<b class='flag-5'>走</b><b class='flag-5'>線</b>效果<b class='flag-5'>測(cè)試</b>

        為什么晶振下方不能走信號(hào)線？

        由于晶振為干擾源，本體下方所有層原則上不準(zhǔn)許走線，特別是關(guān)鍵信號(hào)線，要保證晶振周圍的沒有其他元件，防止器件之間的互相干擾，影響時(shí)鐘和其他信號(hào)的質(zhì)量。若濾波器器件放在晶振
        的頭像 發(fā)表于 11-17 18:44 ?1689次閱讀
        為什么晶振<b class='flag-5'>下方</b>不能<b class='flag-5'>走</b>信號(hào)<b class='flag-5'>線</b>？

        因?yàn)V波電路Y電容未鎖螺釘導(dǎo)致CE電流法測(cè)試FAIL案例

        因?yàn)V波電路Y電容未鎖螺釘導(dǎo)致CE電流法測(cè)試FAIL案例
        的頭像 發(fā)表于 12-30 08:17 ?1180次閱讀
        因?yàn)V波電路Y電容未鎖螺釘<b class='flag-5'>導(dǎo)致</b>CE電流法<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>FAIL</b>案例

        為什么晶振下方不能走信號(hào)線？

        。下面，我將詳細(xì)解釋為什么晶振下方不能走信號(hào)線。 首先，我們需要了解晶振的工作原理和特性。晶振是通過電子振蕩產(chǎn)生穩(wěn)定頻率的元件，其內(nèi)部結(jié)構(gòu)通常由諧振器、放大器和輸出緩沖驅(qū)動(dòng)器組成。當(dāng)電源
        的頭像 發(fā)表于 01-23 16:43 ?2532次閱讀

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        的頭像 發(fā)表于 04-03 08:16 ?817次閱讀
        【電磁兼容<b class='flag-5'>技術(shù)</b>案例分享】某產(chǎn)品因端口跳線<b class='flag-5'>導(dǎo)致</b>靜電<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>FAIL</b>整改案例

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        的頭像 發(fā)表于 05-23 08:17 ?1695次閱讀
        【電磁兼容<b class='flag-5'>技術(shù)</b>案例分享】某車載空調(diào)面板因電容<b class='flag-5'>導(dǎo)致</b>BCI<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>FAIL</b>問題整改案例

        氫燃料電池發(fā)動(dòng)機(jī)因系統(tǒng)接地導(dǎo)致低壓傳導(dǎo)測(cè)試FAIL整改案例

        氫燃料電池發(fā)動(dòng)機(jī)因系統(tǒng)接地導(dǎo)致低壓傳導(dǎo)測(cè)試FAIL整改案例
        的頭像 發(fā)表于 05-30 08:17 ?793次閱讀
        氫燃料電池發(fā)動(dòng)機(jī)因系統(tǒng)接地<b class='flag-5'>導(dǎo)致</b>低壓傳導(dǎo)<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>FAIL</b>整改案例

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        的頭像 發(fā)表于 07-26 08:18 ?857次閱讀
        【電磁兼容<b class='flag-5'>技術(shù)</b>案例分享】某產(chǎn)品因LVDS<b class='flag-5'>導(dǎo)致</b>靜電放電<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>FAIL</b>整改案例

        開關(guān)電源的EMI/EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

        55022等。 測(cè)試內(nèi)容：評(píng)估開關(guān)電源通過空間傳播的電磁輻射水平。 二、EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 靜電放電（ESD）抗擾度
        的頭像 發(fā)表于 11-20 10:43 ?5127次閱讀

        【EMC技術(shù)案例】共模電感與電源模塊之間PCB走線導(dǎo)致RE超標(biāo)案例

        【EMC技術(shù)案例】共模電感與電源模塊之間PCB走線導(dǎo)致RE超標(biāo)案例
        的頭像 發(fā)表于 09-28 15:05 ?302次閱讀
        【<b class='flag-5'>EMC</b><b class='flag-5'>技術(shù)</b>案例】共模電感與<b class='flag-5'>電源</b>模塊之間PCB<b class='flag-5'>走</b><b class='flag-5'>線</b><b class='flag-5'>導(dǎo)致</b>RE超標(biāo)案例