【現(xiàn)象描述】

某信息技術(shù)設(shè)備有外接信號(hào)電纜及供電電源線。電源口傳導(dǎo)測(cè)試時(shí)，EUT接地線就近接參考接地板，測(cè)試配置圖如圖2.24所示，測(cè)試結(jié)果如圖2.25所示。由圖2.25可知，該產(chǎn)品的電源口的傳導(dǎo)騷擾不能滿足圖中所示限值的要求，需要分析產(chǎn)生傳導(dǎo)騷擾過(guò)高的原因。

【原因分析】

關(guān)于電源口傳導(dǎo)騷擾測(cè)試的原理，可以參考案例3中的描述。圖2.24所示的測(cè)試配置圖可以用圖2.26表示其原理。

圖2.26所示為電源口傳導(dǎo)騷擾測(cè)試時(shí)，被測(cè)設(shè)備(EUT)、線性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)(LISN)、接收機(jī)之間的連接關(guān)系。圖2.26中箭頭線表示共模傳導(dǎo)騷擾的電流，它在25Ω、兩個(gè)50Ω電阻并聯(lián)電阻上產(chǎn)生的壓降就是所測(cè)量到的共模傳導(dǎo)騷擾電壓結(jié)果(差模傳導(dǎo)騷擾與本案例無(wú)關(guān)，不在圖2.26中示出)。由圖2.26可知，在該測(cè)試配置的情況下，電源線、LISN、EUT、EUT接地線及參考接地板之間形成了一個(gè)較大的環(huán)路(見(jiàn)圖2.26中虛線)。關(guān)于環(huán)路在EMC中的意義已經(jīng)在本書(shū)其他案例中提及(如案例29、77等)。

根據(jù)電磁理論，環(huán)路既可以成為輻射必要條件中的天線，也可以成為接收干擾的環(huán)路接收天線。當(dāng)環(huán)路中的磁通發(fā)生變化時(shí)，將在環(huán)路中感應(yīng)出電流，其大小與閉環(huán)面積成正比，而且對(duì)于特定大小的環(huán)路，環(huán)路接收天線將在特定的頻率上產(chǎn)生諧振 當(dāng)圖226中的大環(huán)路有感應(yīng)電流時(shí)，必定增大流過(guò)LISN中250電阻的電流，即LISN檢測(cè)到更大的傳導(dǎo)騷擾。

傳導(dǎo)騷擾測(cè)試在屏蔽室中進(jìn)行。環(huán)路接收的干擾是從哪里來(lái)的呢?實(shí)際是來(lái)自亮體和信號(hào)電的產(chǎn)生的輻射。如圖2.27所示(測(cè)試中已經(jīng)排除外界及輔助設(shè)備的影響)。

測(cè)試過(guò)程中，改變接地線的連接方式，即將EUT接地線接至LISN的接地端，同時(shí)接地線與電源線以較近的距離(小于5mm)平行布線(見(jiàn)圖2.28),電源線、LISN、EUT、EUT接地線及參考接地板之間形成的環(huán)路面積大大減小，而且電源線、LISN、EUT、EUT對(duì)地寄生電容及參考接地板之間形成的環(huán)路，其阻抗較大不會(huì)感應(yīng)出較大的電流(也就是不是主要的正確性。要部分確。性改變連接方式后再進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試結(jié)果如圖2.29所示，測(cè)試通過(guò)，證實(shí)了以上分析的正確性。

【處理措施】

本案例并非純粹意義上的設(shè)計(jì)問(wèn)題，而是由于測(cè)試配置引起的，因此，將EUT接地線接至LISN的接地端，同時(shí)接地線與電源線以較近的距離(小于5mm)平行布線，減小環(huán)路面積，是最好的解決方式。

【思考與啟示】

（1）本案例涉及的接地問(wèn)題是傳導(dǎo)騷擾測(cè)試中常見(jiàn)的問(wèn)題，也是很值得注意的問(wèn)題。傳導(dǎo)測(cè)試時(shí)，一定要將接地線與電源線一起布線，不能按“就近接地”的方式，以免造成較大的環(huán)路，接受意外的騷擾。

（2）對(duì)于本身低頻(150kH~30 MHz)輻射較大的產(chǎn)品，如帶有信號(hào)電纜的產(chǎn)品，測(cè)試時(shí)要特別注意電源線、LISN、EUT、EUT接地線及參考接地板之間形成的環(huán)路。

（3）本案例中的問(wèn)題，在不改變接地環(huán)路面積大小的情況下，可以通過(guò)其他方式(如電源口的濾波)解決。因?yàn)闇y(cè)試到的結(jié)果總是綜合的結(jié)果，剔除所有因素中的某一部分都有可能使結(jié)果符合測(cè)試的要求，但是不合理的測(cè)試布置是最需要剔除的。

以上案例來(lái)自EMC領(lǐng)域知名專家-鄭老師《EMC電磁兼容設(shè)計(jì)與測(cè)試案例分析》著作內(nèi)容其一案例！