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BMS IC測試:確保電池安全和性能的關(guān)鍵2025-04-02 17:40
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SPEA創(chuàng)新實(shí)踐:AI芯片混合信號測試儀2025-01-03 11:44
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DOT800 多核混合信號測試儀2025-01-03 11:40
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SPEA—ADC與DAC測試簡介2024-12-31 17:21
如今,有大量應(yīng)用都依賴于數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)和模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)。它們在信號處理中非常重要,因?yàn)樗鼈儤?gòu)建了數(shù)字系統(tǒng)和模擬系統(tǒng)之間的橋梁。通過使數(shù)字電路能夠與模擬組件交互,ADC和DAC在音頻處理、電信、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。DAC與ADC的作用模數(shù)轉(zhuǎn)換器是現(xiàn)代數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAQ或DAS系統(tǒng))中的基本構(gòu)建模塊。它們將調(diào)節(jié)后的模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù) -
都靈理工大學(xué)校長一行再訪SPEA2024-12-19 13:12
SPEA與都靈理工大學(xué)有著深厚的歷史淵源,雙方通過構(gòu)建人才培養(yǎng)體系、推動融合創(chuàng)新、不斷拓寬技術(shù)應(yīng)用的邊界,共同促進(jìn)了自動化測試技術(shù)在半導(dǎo)體、MEMS傳感器、電子制造等多個關(guān)鍵領(lǐng)域快速發(fā)展。近日,都靈理工大學(xué)校長率領(lǐng)代表團(tuán),再度訪問SPEA總部,雙方展開了一場深入且富有成效的交流。交流內(nèi)容涵蓋科技創(chuàng)新的前沿方向、人才培育新策略、機(jī)械設(shè)備制造、測試技術(shù)等。SPE -
Rinaldi代表團(tuán)到訪SPEA總部:探索全球頂尖自動化測試技術(shù)2024-12-06 01:05
在自動化測試的廣闊領(lǐng)域中,SPEA憑借飛針測試儀、功率半導(dǎo)體測試設(shè)備、MEMS測試系統(tǒng)等一系列創(chuàng)新產(chǎn)品,不斷為前沿科技產(chǎn)業(yè)注入強(qiáng)勁動力,已然成為支撐汽車產(chǎn)業(yè)向電動化、智能化發(fā)展的重要推手。正因如此,SPEA總部常迎來各方合作伙伴與參觀者的青睞。近日,Rinaldi代表團(tuán)20余位客戶到訪了SPEA總部,踏上了探索前沿科技的旅程。SPEACEOLucianoBo -
SPEA出席第十六屆在蘇意大利企業(yè)答謝交流會2024-12-03 01:05
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SPEA接待歐洲半導(dǎo)體地區(qū)聯(lián)盟(ESRA)代表團(tuán)2024-11-15 01:07
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新加坡裕廊西中學(xué)到訪SPEA蘇州2024-10-23 08:07
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喜訊:都靈理工大學(xué)與 SPEA 簽署測試研究協(xié)議,共繪電子測試新篇章2024-10-10 08:06