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在3D IC封裝測試中,高低溫老化箱HAST與PCT檢測缺陷的差異分析2025-08-07 15:26
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半導體可靠性測試恒溫箱模擬嚴苛溫度環(huán)境加速驗證進程2025-08-04 15:15
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半導體行業(yè)老化測試箱chamber模擬環(huán)境進行可靠性測試2025-07-22 14:15
老化測試箱chamber是半導體行業(yè)用于加速評估器件可靠性和壽命的關鍵設備,通過模擬嚴苛環(huán)境條件(如高溫、高濕、高壓、紫外輻射等),預測產(chǎn)品在實際使用中的性能變化。一、老化測試箱chamber定義與核心功能其核心功能包括:高溫老化測試:溫度范圍通常為室溫至150°C(高壓型號可達147°C),模擬長期高溫工作環(huán)境。高濕環(huán)境模擬:濕度控制,部分設備支持飽和蒸汽 -
高精度半導體冷盤chiller在半導體工藝中的應用2025-07-16 13:49
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壓縮機式冷水機:技術原理、應用場景與行業(yè)創(chuàng)新2025-07-11 15:52
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半導體深冷機在封裝測試環(huán)節(jié)的應用與重要性2025-07-09 16:12
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半導體冷水機在半導體后道工藝中的應用及優(yōu)勢2025-07-08 14:41
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直接換熱式冷水機技術解析、應用場景與使用指南2025-07-03 16:01
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TEC式冷水機應用注意事項與選型知識詳解2025-07-03 15:55
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實驗室成果≠生產(chǎn)碩果!合成工藝小試、中試、放大全解析2025-07-02 15:19