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光耦:光與電的聯(lián)系2025-02-20 12:04
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詳解電子產(chǎn)品的可靠性試驗2025-02-20 12:01
可靠性試驗是一種通過模擬產(chǎn)品在實際使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力因素,來評估電子產(chǎn)品在出廠到使用壽命結(jié)束期間質(zhì)量情況的科學(xué)方法。它能夠在短時間內(nèi)正確評估產(chǎn)品的可靠性,主要目的是激發(fā)潛在失效模式,從而為產(chǎn)品的改進提供依據(jù),并最終確定產(chǎn)品是否滿足預(yù)先制定的可靠性要求。可靠性試驗的分類如下:按環(huán)境條件劃分模擬試驗:通過人工模擬自然環(huán)境中的各種條件,如溫度、 -
歐盟 RoHS 與 REACH 法規(guī)解讀2025-02-19 13:20
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光電子元件的可靠性測試關(guān)鍵項目2025-02-18 14:19
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詳細聚焦離子束(FIB)技術(shù)2025-02-18 14:17
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汽車車燈檢測與可靠性驗證2025-02-17 17:24
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聚焦離子束(FIB)技術(shù):芯片調(diào)試的利器2025-02-17 17:19
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聚焦離子束顯微鏡(FIB):原理揭秘與應(yīng)用實例2025-02-14 12:49
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中性鹽霧試驗的標(biāo)準(zhǔn)2025-02-14 12:48
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什么是聚焦離子束(FIB)?2025-02-13 17:09