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金鑒實(shí)驗(yàn)室

金鑒實(shí)驗(yàn)室是光電半導(dǎo)體行業(yè)最知名的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)之一

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金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

  • 鹵素檢測(cè):PCB有鹵與無(wú)鹵的差異2025-04-28 20:17

    在當(dāng)代電子產(chǎn)業(yè)中,印制電路板(PCB)是核心組件之一,其材料與工藝的革新對(duì)電子設(shè)備的性能與可持續(xù)性有著深遠(yuǎn)影響。有鹵與無(wú)鹵PCB作為當(dāng)前市場(chǎng)上的兩大類,各自有著獨(dú)特的特性與應(yīng)用范圍。有鹵與無(wú)鹵PCB概述1.有鹵PCB有鹵PCB是指在生產(chǎn)過(guò)程中使用了含有鹵素(如氯、溴等)的阻燃劑。當(dāng)電路板遭遇高溫或燃燒時(shí),這些阻燃劑會(huì)釋放鹵素氣體,從而有效抑制火焰的蔓延,起到
    pcb PCB 鹵素 檢測(cè) 1884瀏覽量
  • AEC-Q之高壓蒸煮試驗(yàn)(PCT)2025-04-28 20:16

    在現(xiàn)代電子技術(shù)飛速發(fā)展的背景下,電子元件的性能和可靠性直接決定了各類設(shè)備的穩(wěn)定性和使用壽命。高壓蒸煮試驗(yàn)(PCT)作為一種關(guān)鍵的測(cè)試手段,為評(píng)估電子元件在極端環(huán)境下的表現(xiàn)提供了科學(xué)依據(jù)。模擬極端環(huán)境的關(guān)鍵技術(shù)PCT試驗(yàn)的核心在于模擬電子元件在實(shí)際使用中可能遭遇的高濕、高溫和高壓環(huán)境。通過(guò)將待測(cè)元件置于100%相對(duì)濕度(R.H.)的飽和蒸汽環(huán)境中,并施加一定的
  • 聚焦離子束技術(shù):納米加工與分析的利器2025-04-28 20:14

    聚焦離子束技術(shù)(FocusedIonBeam,FIB)作為一種前沿的納米加工與分析手段,憑借其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)在多個(gè)領(lǐng)域展現(xiàn)出強(qiáng)大的應(yīng)用潛力。本文將從技術(shù)原理、應(yīng)用領(lǐng)域、測(cè)試項(xiàng)目以及制樣流程等方面,對(duì)聚焦離子束技術(shù)進(jìn)行全面剖析,以期為相關(guān)領(lǐng)域的研究人員和從業(yè)者提供有價(jià)值的參考。聚焦離子束技術(shù)核心聚焦離子束技術(shù)的核心在于利用電透鏡將離子束聚焦成極小尺寸的離子束,進(jìn)而
    fib 離子束 聚焦 423瀏覽量
  • LED燈珠變色發(fā)黑與失效原因分析2025-04-27 15:47

    LED光源發(fā)黑現(xiàn)象LED光源以其高效、節(jié)能、環(huán)保的特性,在照明領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。然而,LED光源在使用過(guò)程中出現(xiàn)的發(fā)黑現(xiàn)象,卻成為了影響其性能和壽命的重要因素。LED光源黑化的多重原因分析LED光源黑化是各大LED公司經(jīng)常碰到的問(wèn)題。然而光源黑化只是表象,硫化、氯化、溴化、氧化、碳化和化學(xué)不兼容化等原因均會(huì)導(dǎo)致LED光源發(fā)黑的現(xiàn)象。由于缺乏專業(yè)的檢測(cè)設(shè)備和
    led LED光源 LED燈珠 1730瀏覽量
  • IGBT 柵極驅(qū)動(dòng)器:電力電子系統(tǒng)的核心組件2025-04-27 15:45

    在電力電子行業(yè),隨著對(duì)功率電平和開關(guān)頻率要求的不斷提升,半導(dǎo)體器件的性能面臨更高的挑戰(zhàn)。金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)和絕緣柵雙極晶體管(IGBT)憑借其高效性和可靠性,成為中高功率開關(guān)電源應(yīng)用中的首選。而IGBT柵極驅(qū)動(dòng)器作為控制和驅(qū)動(dòng)IGBT的核心器件,其重要性愈發(fā)顯著。IGBT柵極驅(qū)動(dòng)器的結(jié)構(gòu)剖析1.輸入端:信號(hào)接收的關(guān)鍵IGBT柵極驅(qū)動(dòng)
  • 什么是氬離子拋光?2025-04-27 15:43

    氬離子拋光技術(shù)氬離子拋光技術(shù)(ArgonIonPolishing,AIP)作為一種先進(jìn)的樣品制備方法,為電子顯微鏡(SEM)和電子背散射衍射(EBSD)分析提供了高質(zhì)量的樣品表面。下面將介紹氬離子拋光的原理、特點(diǎn)、技術(shù)優(yōu)勢(shì)、限制以及應(yīng)用實(shí)例,以展現(xiàn)其在材料科學(xué)中的重要性。氬離子拋光的原理氬離子拋光技術(shù)的核心在于利用氬離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行精確的物理蝕刻。在這個(gè)
    拋光 電子顯微鏡 528瀏覽量
  • 最新!中國(guó)RoHS管控體系升級(jí)要點(diǎn)解讀2025-04-27 15:42

    2025年4月14日,工業(yè)和信息化部科技司發(fā)布公告,《電器電子產(chǎn)品有害物質(zhì)限制使用要求》等3項(xiàng)強(qiáng)制性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(報(bào)批稿)的編制工作。中國(guó)RoHS管控體系在幾大方面進(jìn)行了全面升級(jí),此次升級(jí)的核心內(nèi)容之一是將有害物質(zhì)的管控種類從原來(lái)的6類擴(kuò)充至10類,新增的四類物質(zhì)均為鄰苯類物質(zhì)使用要求的此次升級(jí)還對(duì)電器電子產(chǎn)品有害物質(zhì)的限制使用要求進(jìn)行了全面規(guī)范。根據(jù)最新規(guī)定,
    RoHS 電器 1019瀏覽量
  • AEC-Q102中的破壞性物理分析(DPA)2025-04-25 17:44

    AEC-Q102與DPA概述在汽車電子系統(tǒng)中,光電半導(dǎo)體器件的可靠性至關(guān)重要。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)運(yùn)而生,它為汽車電子中的光電半導(dǎo)體器件提供了一套全面的測(cè)試規(guī)范,確保這些器件能夠在極端溫度波動(dòng)和惡劣環(huán)境下保持穩(wěn)定運(yùn)行。而破壞性物理分析(DPA)作為AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)的核心組成部分,通過(guò)一系列物理和化學(xué)手段對(duì)器件進(jìn)行深入剖析,旨在發(fā)現(xiàn)潛在的制造缺陷和材料問(wèn)
  • 安規(guī)測(cè)試常見項(xiàng)目2025-04-25 17:42

    產(chǎn)品安全合規(guī)性,簡(jiǎn)稱“安規(guī)”,是指確保產(chǎn)品在使用過(guò)程中不會(huì)對(duì)消費(fèi)者造成傷害的一系列標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試流程。安規(guī)的重要性安規(guī)測(cè)試是評(píng)估電子產(chǎn)品安全性的重要手段,它包括對(duì)產(chǎn)品可能帶來(lái)的電擊、火災(zāi)、機(jī)械傷害和化學(xué)傷害等風(fēng)險(xiǎn)的評(píng)估。這些測(cè)試流程不僅確保了產(chǎn)品的安全性,也提高了消費(fèi)者對(duì)產(chǎn)品的信任度。安規(guī)測(cè)試的流程通常包括以下幾個(gè)步驟:1.了解標(biāo)準(zhǔn)和要求:制造商需要了解目標(biāo)市場(chǎng)
  • 什么是透射電子顯微鏡(TEM)?2025-04-25 17:39

    透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡簡(jiǎn)稱TEM,是一種高分辨率的微觀分析儀器,自1933年發(fā)明以來(lái),已成為探索微觀世界的強(qiáng)大工具。其工作原理是在高真空環(huán)境下,電子槍發(fā)射電子束,經(jīng)過(guò)聚焦后形成細(xì)小的電子束,穿過(guò)極薄的樣品。當(dāng)電子束與樣品中的原子相互作用時(shí),會(huì)發(fā)生散射、衍射等現(xiàn)象,透射束的強(qiáng)度也會(huì)隨之改變。通過(guò)收集這些信號(hào),TEM能夠生成高分辨率的圖像,揭示樣品的形貌、
    TEM 透射電子顯微鏡 3699瀏覽量