動態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-12-05 12:16
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發(fā)布了文章 2025-12-01 11:48
什么是高壓蒸煮試驗加速測試(HAST)?
HAST試驗的背景與重要性在電子產(chǎn)品的可靠性評估體系中,環(huán)境應力是引發(fā)故障的關鍵因素之一。據(jù)美國Hughes航空公司的統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示,溫濕度應力導致的電子產(chǎn)品故障占比高達60%,遠超其他環(huán)境因素。傳統(tǒng)的高溫高濕試驗(如85℃/85%RH)雖能模擬濕熱環(huán)境,但測試周期過長,難以滿足快速驗證產(chǎn)品可靠性的需求。在此背景下,高壓蒸煮試驗加速測試(HAST)應運而生,它181瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-11-28 15:22
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發(fā)布了文章 2025-11-27 14:15
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發(fā)布了文章 2025-11-27 14:14
車規(guī)級與消費級芯片的差異與影響
車規(guī)級芯片與消費級芯片在設計目標、應用場景及性能要求上存在顯著差異,其核心區(qū)別源于各自服務的產(chǎn)品屬性——汽車領域強調(diào)安全性、可靠性與長生命周期,而消費電子則更注重性價比與短期性能迭代。引言隨著汽車電子化與智能化的快速發(fā)展,車規(guī)級芯片作為汽車電子系統(tǒng)的核心部件,其重要性日益凸顯。盡管消費級芯片在性能與成本方面具備一定優(yōu)勢,卻難以滿足汽車行業(yè)對安全性、可靠性及長224瀏覽量