動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-10-22 14:36
產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證手段:機(jī)械沖擊測(cè)試與振動(dòng)測(cè)試的差異
在產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量管控中,機(jī)械沖擊測(cè)試與振動(dòng)測(cè)試是兩項(xiàng)關(guān)鍵的可靠性驗(yàn)證方法。兩者雖均涉及產(chǎn)品在力學(xué)環(huán)境下的響應(yīng),但其物理機(jī)制與測(cè)試目的存在本質(zhì)差異。準(zhǔn)確把握二者的區(qū)別,有助于企業(yè)優(yōu)化測(cè)試方案,合理分配資源,并提升產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。理解兩種測(cè)試的本質(zhì)機(jī)械沖擊測(cè)試用于模擬產(chǎn)品在生命周期內(nèi)可能經(jīng)歷的瞬態(tài)、高強(qiáng)度的沖擊事件,例如設(shè)備跌落、碰撞或驟然受力。該類測(cè)試關(guān)注的 -
發(fā)布了文章 2025-10-22 14:33
半導(dǎo)體器件的靜電放電(ESD)失效機(jī)理與防護(hù)設(shè)計(jì)
靜電在自然界中無(wú)處不在。從芯片制造、封裝測(cè)試、運(yùn)輸存儲(chǔ)到組裝使用,靜電可能在任一環(huán)節(jié)對(duì)芯片造成不可逆損。半導(dǎo)體ESD失效的四大特征1.隱蔽性(1)人體通常需2~3KV靜電才能感知,而現(xiàn)代半導(dǎo)體器件可能僅需不到20V即會(huì)受損。(2)在無(wú)塵室中,技術(shù)人員身著防靜電服時(shí),仍可能攜帶足以損傷芯片的靜電。2.潛在性(1)部分受損元器件外觀完好,初始功能正常,卻已留下“70瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-10-20 15:33
什么是溫度沖擊試驗(yàn)
在當(dāng)今科技飛速發(fā)展的時(shí)代,各類產(chǎn)品面臨著日益復(fù)雜的使用環(huán)境。其中,溫度急劇變化對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和壽命構(gòu)成了嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。溫度沖擊試驗(yàn),作為一項(xiàng)重要的環(huán)境可靠性測(cè)試,正成為眾多行業(yè)不可或缺的檢測(cè)環(huán)節(jié)。溫度沖擊試驗(yàn)概述溫度沖擊試驗(yàn),又稱為熱沖擊試驗(yàn)或溫度循環(huán)試驗(yàn),廣泛應(yīng)用于科研機(jī)構(gòu)、高等院校、工業(yè)生產(chǎn)單位及軍工領(lǐng)域。這項(xiàng)測(cè)試主要評(píng)估各種工業(yè)產(chǎn)品在快速溫度變化環(huán)境下的適應(yīng)能 -
發(fā)布了文章 2025-10-20 15:31
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發(fā)布了文章 2025-10-20 15:29
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發(fā)布了文章 2025-10-17 17:38
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發(fā)布了文章 2025-10-16 15:00
高低溫循環(huán)測(cè)試對(duì)電子元件壽命有什么影響
在電子產(chǎn)品無(wú)處不在的今天,微小元件的可靠性直接關(guān)系整個(gè)系統(tǒng)的成敗。小到手機(jī),大到汽車、醫(yī)療及工業(yè)設(shè)備,任何元件的失效都可能造成設(shè)備癱瘓。要預(yù)知元件壽命,高低溫循環(huán)測(cè)試是關(guān)鍵所在。什么是高低溫循環(huán)測(cè)試?高低溫循環(huán)測(cè)試是一種環(huán)境可靠性測(cè)試方法,通過(guò)讓電子元件在設(shè)定的高溫和低溫極端值之間循環(huán)變化,模擬產(chǎn)品在運(yùn)輸、存儲(chǔ)和使用過(guò)程中可能遇到的溫度變化環(huán)境。金鑒實(shí)驗(yàn)室擁104瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-10-16 14:58
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發(fā)布了文章 2025-10-16 14:56
LED死燈原因到底有多少種?
于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu),能夠?qū)ED進(jìn)行嚴(yán)格的檢測(cè),致力于為客戶提供高質(zhì)量的測(cè)試服務(wù),為L(zhǎng)ED在各個(gè)領(lǐng)域的可靠應(yīng)用提供堅(jiān)實(shí)的質(zhì)量保障。以金鑒接觸的失效分析大數(shù)據(jù)顯示,LED死燈的原因可能過(guò)百種,我們僅以LED光源為例,從LED光源的五大原物料(芯片、支架、熒光粉、固晶膠、封裝膠和金線)的入手,介紹部分可能導(dǎo)致死燈的原因。芯片1.芯片抗靜電能力差LED燈珠 -
發(fā)布了文章 2025-10-15 16:26
基于振動(dòng)與沖擊試驗(yàn)的機(jī)械結(jié)構(gòu)疲勞可靠性評(píng)估
振動(dòng)環(huán)境堪稱機(jī)械結(jié)構(gòu)面臨的終極考驗(yàn)之一。從噴氣式發(fā)動(dòng)機(jī)的持續(xù)高頻振動(dòng),到高速列車與軌道接觸產(chǎn)生的復(fù)雜激勵(lì),再到工業(yè)生產(chǎn)線設(shè)備永不停歇的運(yùn)轉(zhuǎn),這些動(dòng)態(tài)載荷無(wú)時(shí)無(wú)刻不在考驗(yàn)著工程結(jié)構(gòu)的耐久極限。在長(zhǎng)期振動(dòng)作用下,即使是最堅(jiān)固的材料也會(huì)逐漸積累損傷,最終導(dǎo)致災(zāi)難性失效。因此,通過(guò)科學(xué)的試驗(yàn)手段,在產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證階段精準(zhǔn)評(píng)估其抗振與抗沖擊能力,是確保產(chǎn)品可靠性、安全性