金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• 一文讀懂氬離子拋光和FIB區(qū)別2025-06-13 10:43

  

  離子研磨技術(shù)的重要性在掃描電子顯微鏡（SEM）觀察中，樣品的前處理方法至關(guān)重要。傳統(tǒng)機(jī)械研磨方法存在諸多弊端，如破壞樣品表面邊緣、產(chǎn)生殘余應(yīng)力等，這使得無法準(zhǔn)確獲取樣品表層納米梯度強(qiáng)化層的真實(shí)、精準(zhǔn)的原位力學(xué)性能。而離子束研磨技術(shù)以其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)，能夠有效解決這一難題，為SEM觀察提供了高質(zhì)量的樣品制備手段。離子研磨的工作原理離子研磨是通過離子撞擊材料表面實(shí)現(xiàn)

  fib 顯微鏡 離子 421瀏覽量

• 鍍銀層氧化造成LED光源發(fā)黑現(xiàn)象的越來越多，成因復(fù)雜2025-06-13 10:40

  

  由鍍銀層氧化導(dǎo)致發(fā)黑的LED光源LED光源鍍銀層發(fā)黑跡象明顯，這使我們不得不做出氧化的結(jié)論。但EDS能譜分析等純?cè)胤治鰴z測(cè)手段都不易判定氧化，因?yàn)榇嬖谟诳諝猸h(huán)境、樣品表面吸附以及封裝膠等有機(jī)物中的氧元素都會(huì)干擾檢測(cè)結(jié)果的判定，因此判定氧化發(fā)黑的結(jié)論需要使用SEM、EDS、顯微紅外光譜、XPS等專業(yè)檢測(cè)以及光、電、化學(xué)、環(huán)境老化等一系列可靠性對(duì)比實(shí)驗(yàn)，結(jié)合專

  EDS LED光源 926瀏覽量

• 聚焦離子束顯微鏡（FIB）的應(yīng)用2025-06-12 14:05

  

  技術(shù)原理聚焦離子束顯微鏡（FocusedIonBeam,FIB）的核心在于其獨(dú)特的鎵（Ga）離子源。鎵金屬因其較低的熔點(diǎn)（29.76°C）和在該溫度下極低的蒸氣壓（«10^-13Torr），成為理想的離子源材料。在真空環(huán)境下，液態(tài)鎵沿著燈絲流動(dòng)至針尖，在強(qiáng)外加電場(chǎng)作用下，針尖處的液態(tài)鎵被拉伸成曲率半徑極小的圓錐體（Taylorcone），鎵離子由此被游離并噴

  fib 顯微鏡 離子束 524瀏覽量

• 不良瓷嘴導(dǎo)致LED斷線死燈問題多，瓷嘴優(yōu)化刻不容緩2025-06-12 14:03

  

  在LED封裝領(lǐng)域，焊線工藝是確保器件性能與可靠性的核心環(huán)節(jié)。而瓷嘴，作為焊線工藝中一個(gè)看似微小卻極為關(guān)鍵的部件，其對(duì)引線鍵合品質(zhì)的影響不容忽視。大量失效分析案例證明，LED封裝器件的死燈失效絕大多數(shù)來自于引線連接的電氣回路斷開所造成，這與不良的引線鍵合或由于引線鍵合引入的隱患有著莫大的關(guān)系。誠然，在焊線工藝?yán)?，質(zhì)量上乘的相關(guān)材料、性能穩(wěn)定的設(shè)備、合理的程序參

  led 死燈 498瀏覽量

• IP防水各等級(jí)詳解2025-06-11 12:53

  

  在工業(yè)生產(chǎn)中，尤其是那些需要在戶外使用的電子電器產(chǎn)品，設(shè)備的防塵防水能力是極其重要的。這種能力通常通過自動(dòng)化儀表設(shè)備的外殼防護(hù)等級(jí)來衡量，也就是我們常說的IP代碼。IP代碼是國際防護(hù)等級(jí)的縮寫，它是一個(gè)衡量設(shè)備外殼防護(hù)性能的標(biāo)準(zhǔn)，主要分為防塵和防水兩個(gè)方面。IP防護(hù)等級(jí)是什么？界定電器設(shè)備如噴碼機(jī)設(shè)備的外殼密封性能，國際上普遍采用EN60529標(biāo)準(zhǔn)。這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)

  IPX 防水 1594瀏覽量

• 導(dǎo)熱材料亂象多，金鑒導(dǎo)熱系數(shù)/熱阻鑒定一統(tǒng)江湖2025-06-11 12:48

  

  眾所周知，隨著溫度升高，電子器件可靠性和壽命將呈指數(shù)規(guī)律下降。對(duì)于LED產(chǎn)品和器件來說，選用導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻盡可能小的原材料是改善產(chǎn)品散熱狀況、提高產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。在LED產(chǎn)品中，經(jīng)常會(huì)使用到大量的導(dǎo)熱電絕緣界面材料，而由于導(dǎo)熱材料本身質(zhì)量參差不齊，同時(shí)，由于各家使用的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法不同，經(jīng)常導(dǎo)致同一產(chǎn)品測(cè)得的熱阻或?qū)嵯禂?shù)出入較大，造成實(shí)際使用

  led 熱阻 349瀏覽量

• LED路燈常見貓膩，材料用對(duì)才能驗(yàn)收2025-06-10 16:02

  

  LED路燈市場(chǎng)現(xiàn)狀與質(zhì)量隱患LED路燈作為城市發(fā)展的一項(xiàng)重要照明設(shè)施，其質(zhì)量是各大工程關(guān)注的重中之重。然而現(xiàn)在LED路燈市場(chǎng)價(jià)格五花八門，質(zhì)量參差不齊，很多原因就是在中國市場(chǎng)，廠家的專利意識(shí)不強(qiáng)、創(chuàng)新性不足，行業(yè)價(jià)格戰(zhàn)導(dǎo)致廠家不斷在物料、工藝等方面降低成本，這給LED路燈的質(zhì)量帶來了重大影響，經(jīng)?？吹铰窡羰褂靡欢螘r(shí)間后就暗掉。更換LED路燈的方式非常繁瑣，這

  led 材料 593瀏覽量

• 聚焦離子束（FIB）技術(shù)：半導(dǎo)體量產(chǎn)中的高精度利器2025-06-09 22:50

  

  技術(shù)原理與背景聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的納米加工和分析工具。其基本原理是在電場(chǎng)和磁場(chǎng)作用下，將離子束聚焦到亞微米甚至納米量級(jí)，通過偏轉(zhuǎn)和加速系統(tǒng)控制離子束掃描運(yùn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)微納圖形的監(jiān)測(cè)分析和微納結(jié)構(gòu)的無掩模加工。與傳統(tǒng)的光刻技術(shù)不同，F(xiàn)IB無需掩模，直接在材料上進(jìn)行修改，特別適合高精度任務(wù)。在電場(chǎng)和磁場(chǎng)的精準(zhǔn)調(diào)控下，離子束如同一支無形的納米畫筆，在材

  fib 半導(dǎo)體 離子束 418瀏覽量

• 用硅膠封裝、導(dǎo)電銀膠粘貼的垂直倒裝芯片易出現(xiàn)漏電現(xiàn)象2025-06-09 22:48

  

  失效現(xiàn)象剖析這是因?yàn)?，硅膠具有吸水透氣的物理特性，易使導(dǎo)電銀膠受潮，水分子侵入后在含銀導(dǎo)體表面電解形成氫離子和氫氧根離子，銀膠中的銀在直流電場(chǎng)及氫氧根離子的作用下被離子化后產(chǎn)生正價(jià)銀離子。同時(shí)，又由于該類垂直倒裝芯片的陽極在底面、陰極在頂部，電流幾乎從下到上垂直流經(jīng)芯片，正價(jià)銀離子順電流方向芯片上部發(fā)生遷移，在芯片側(cè)面形成枝晶狀遷移路徑，并最終橋連LED有源

  倒裝芯片 封裝 檢測(cè) 685瀏覽量

• 透射電子顯微鏡（TEM）技術(shù)詳解2025-06-06 15:33

  

  TEM的工作原理透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,TEM）是一種利用高能電子束穿透樣品，通過電磁透鏡成像和分析的精密儀器。其工作原理基于電子束與樣品的相互作用，具體過程如下：1.電子束生成電子槍（常見類型有鎢絲、六硼化鑭或場(chǎng)發(fā)射）發(fā)射高能電子，能量通常在60-300keV之間。這些電子經(jīng)過聚光鏡聚焦，形成平行的電子

  TEM 電磁 透射電子顯微鏡 1371瀏覽量