金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• 氬離子技術(shù)之電子顯微鏡樣品制備技術(shù)2025-02-25 17:26

  

  在材料科學(xué)的微觀研究領(lǐng)域，電子顯微鏡扮演著至關(guān)重要的角色。它能夠深入揭示材料樣品內(nèi)部的精細(xì)結(jié)構(gòu)，為科研人員分析組織形貌和結(jié)構(gòu)特征提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。掃描電鏡（SEM）樣品制備掃描電鏡（SEM）以其高分辨率和三維成像能力，廣泛應(yīng)用于材料表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)的觀察。其樣品制備方法根據(jù)樣品類型和觀察需求有所不同。1.塊狀樣品低倍率觀察（＜5萬(wàn)倍）：對(duì)于低倍率觀察，

  TEM 掃描電鏡 顯微鏡 660瀏覽量

• 聚焦離子束與掃描電鏡結(jié)合：雙束FIB-SEM切片應(yīng)用2025-02-24 23:00

  

  聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱FIB）技術(shù)作為一種前沿的納米級(jí)加工與分析手段，近年來(lái)在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。它巧妙地融合了離子束技術(shù)與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)的優(yōu)勢(shì)，憑借其獨(dú)特的原理、廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景以及顯著的優(yōu)勢(shì)，成為現(xiàn)代科學(xué)研究與工業(yè)生產(chǎn)中不可或缺的重要工具。聚焦離子束系統(tǒng)的核心在于其獨(dú)特的離子束生成與聚焦機(jī)制。該系統(tǒng)以鎵離子

  SEM 掃描電鏡 離子束 801瀏覽量

• 氬離子拋光：技術(shù)特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)2025-02-24 22:57

  

  氬離子拋光技術(shù)作為一種前沿的材料表面處理手段，憑借其高效能與精細(xì)效果的結(jié)合，為眾多領(lǐng)域帶來(lái)了突破性的解決方案。它通過(guò)低能量離子束對(duì)材料表面進(jìn)行精準(zhǔn)加工，不僅能夠快速實(shí)現(xiàn)拋光效果，還能在微觀尺度上保留樣品的原始結(jié)構(gòu)和特性。拋光系統(tǒng)核心氬離子拋光系統(tǒng)的核心在于其先進(jìn)的離子槍設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)配備了兩個(gè)低能量聚集能力的離子槍，能夠在極低的能量水平（低至100eV）下進(jìn)行

  光電 拋光機(jī) 離子束 585瀏覽量

• 導(dǎo)電陽(yáng)極絲（CAF）：原理、影響與應(yīng)對(duì)策略2025-02-24 22:54

  

  導(dǎo)電陽(yáng)極絲（ConductiveAnodicFilament，CAF）它主要發(fā)生在印刷電路板（PCB）中，是電化學(xué)遷移現(xiàn)象中的一個(gè)重要類別，由于玻纖與樹(shù)脂之間存在縫隙，在濕熱環(huán)境和電勢(shì)差的作用下，銅離子會(huì)沿著這些縫隙遷移并沉積，形成導(dǎo)電路徑。這種現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致相鄰導(dǎo)體之間的絕緣性能下降，甚至可能引發(fā)短路，從而對(duì)電子設(shè)備的可靠性造成嚴(yán)重影響。CAF的發(fā)生條件與影響

  CAF pcb PCB 印刷電路板 導(dǎo)電陽(yáng)極絲 2430瀏覽量

• FIB聚焦離子束切片分析2025-02-21 14:54

  

  FIB（聚焦離子束）切片分析作為一種前沿的材料表征技術(shù)，憑借其高精度和多維度的分析能力，在材料科學(xué)、電子器件研究以及納米技術(shù)領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色。它通過(guò)離子束對(duì)材料表面進(jìn)行刻蝕，形成極薄的切片，從而為材料的結(jié)構(gòu)和成分分析提供了前所未有的細(xì)節(jié)和深度。FIB切片分析的基本原理FIB切片分析的核心在于利用高能離子束對(duì)材料表面進(jìn)行精確加工。離子束由離子槍發(fā)射，經(jīng)

  fib 切片 離子束 1113瀏覽量

• 光耦與AEC-Q1022025-02-21 14:53

  

  AEC-Q102認(rèn)證及其在汽車(chē)電子中的重要性AEC-Q102認(rèn)證是汽車(chē)行業(yè)中一項(xiàng)關(guān)鍵的質(zhì)量與可靠性標(biāo)準(zhǔn)，專門(mén)針對(duì)分立光電器件產(chǎn)品。這一認(rèn)證確保了汽車(chē)零部件在極端環(huán)境下的穩(wěn)定性和安全性，從而提升整車(chē)的性能和可靠性。圖1：AEC-Q102-RevA標(biāo)準(zhǔn)AEC-Q102認(rèn)證的背景AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)由汽車(chē)電子委員會(huì)（AutomotiveElectronicsCou

  AEC 光耦 汽車(chē) 790瀏覽量

• 利用氬離子拋光技術(shù)還原LED支架鍍層的厚度2025-02-21 14:51

  

  氬離子拋光技術(shù)憑借其獨(dú)特的原理和顯著的優(yōu)勢(shì)，在精密樣品制備領(lǐng)域占據(jù)著重要地位。該技術(shù)以氬氣為介質(zhì)，在真空環(huán)境下，通過(guò)電離氬氣產(chǎn)生氬離子束，對(duì)樣品表面進(jìn)行精準(zhǔn)轟擊，實(shí)現(xiàn)物理蝕刻，從而去除表面損傷層和不平整部分，達(dá)到高度平滑的效果。氬離子拋光的優(yōu)勢(shì)氬離子拋光的核心原理是利用氬氣在真空環(huán)境下的電離特性。當(dāng)氬氣被引入真空腔體并施加高電壓時(shí)，氬原子被電離成氬離子，形成

  led 電場(chǎng) 離子束 582瀏覽量

• 一文讀懂芯片可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目2025-02-21 14:50

  

  可靠性試驗(yàn)的定義與重要性可靠性試驗(yàn)是一種系統(tǒng)化的測(cè)試流程，通過(guò)模擬芯片在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的各種環(huán)境條件和工作狀態(tài)，對(duì)芯片的性能、穩(wěn)定性和壽命進(jìn)行全面評(píng)估。在芯片研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中，可靠性試驗(yàn)不僅是驗(yàn)證產(chǎn)品性能的重要手段，更是提高產(chǎn)品可靠性和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。通過(guò)對(duì)芯片進(jìn)行嚴(yán)格的可靠性測(cè)試，可以提前發(fā)現(xiàn)潛在的故障模式和失效機(jī)制，從而為設(shè)計(jì)優(yōu)化和工藝改進(jìn)提供

  可靠性試驗(yàn) 測(cè)試 芯片 1451瀏覽量

• 透光率檢測(cè)技術(shù)及其影響因素分析2025-02-21 14:48

  

  光透過(guò)能力，即透光率，描述的是特定條件下，物體透過(guò)的光量與其接收的入射光量之間的比例。在光的傳播過(guò)程中，部分光線會(huì)被物體吸收，而另一部分則能夠穿透物體，這種透過(guò)現(xiàn)象被稱作透光率。金鑒實(shí)驗(yàn)室在這一領(lǐng)域擁有先進(jìn)的技術(shù)和設(shè)備，能夠?yàn)榭蛻籼峁┚珳?zhǔn)的透光率測(cè)量服務(wù)，確保測(cè)量結(jié)果的可靠性與科學(xué)性。1.透光率計(jì)法透光率計(jì)是目前實(shí)驗(yàn)室中常用的透光率檢測(cè)儀器。其原理是將待測(cè)材

  檢測(cè)儀器 測(cè)量 1181瀏覽量

• 聚焦離子束FIB在失效分析技術(shù)中的應(yīng)用-剖面制樣2025-02-20 12:05

  

  FIB技術(shù)：納米級(jí)加工與分析的利器在現(xiàn)代科技的微觀世界中，材料的精確加工和分析是推動(dòng)創(chuàng)新的關(guān)鍵。聚焦離子束（FIB）技術(shù)正是在這樣的需求下應(yīng)運(yùn)而生，它提供了一種在納米尺度上對(duì)材料進(jìn)行精細(xì)操作的能力，成為微電子和納米技術(shù)領(lǐng)域中不可或缺的工具。微米級(jí)缺陷樣品截面制備FIB技術(shù)的原理FIB技術(shù)的核心在于使用鎵（Ga）或銦（In）等材料作為離子源，通過(guò)靜電透鏡系統(tǒng)將

  fib 失效分析 離子束 645瀏覽量